2値パターン抽出回路の英語

試験仕様書２のメモリ回路構成及び冗長回路構成に関する情報に基づいて、擬似メモリ不良パターンを発生させるための情報を自動抽出して擬似メモリ不良パターン情報ファイル１０を作成すると共に、救済コード期待値を自動抽出して救済コード期待値ファイル１１を作成する（ＳＴＰ６）。例文帳に追加

Information for generating a pseudo memory defective pattern is automatically extracted based on information about memory circuit constitution of a test specification 2 and redundancy circuit constitution, a pseudo memory pattern information file 10 is prepared, while a relieving code expected value is automatically extracted, and a relieving code expected value file 11 is prepared (STP6). - 特許庁