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ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPEとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 分析用電子顕微鏡; 分析電子顕微鏡
「ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析電子顕微鏡 - 特許庁
ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析透過型電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加
電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁
To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.例文帳に追加
分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁
PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁
The new 300 kV analytical electron microscope is fitted with an EDS system having an ultra-thin window Si (Li) detector.発音を聞く 例文帳に追加
その新型300kV分析電子顕微鏡は、ウルトラスィン・ウインドウ半導体(リチウム)検出器を有するEDS装置を備え付けている。 - 科学技術論文動詞集
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「ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
To provide an analytical electron microscope capable of enhancing detection efficiency and of enhancing use efficiency.例文帳に追加
検出効率を高めることができるとともに、使用効率を高めることができる分析電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
This analytical electron microscope used for detecting an X-ray generated from a sample irradiated by an electron beam is provided with an object lens system comprising an upper magnetic pole and a lower magnetic pole each having a magnetic pole opening for passing the electron beam, and a sample chamber for mounting the sample between the upper magnetic pole and the lower magnetic pole.例文帳に追加
電子線が照射された試料から発生するＸ線を検出する分析電子顕微鏡において、電子線を通過させる磁極孔を有する上側磁極および下側磁極からなる対物レンズ系と、上側磁極と下側磁極との間に試料を載置するための試料室を設ける。 - 特許庁
In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26).例文帳に追加
電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し（Ｓ１６）、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し（Ｓ１８）、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する（Ｓ２６）結晶粒方位の分析方法。 - 特許庁
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