Measurement of a Circleとは 意味・読み方・使い方

This position measurement system is provided with a plurality of concentric circle pattern projection devices 3a, 3b and 3c in the neighborhood of a display 2 of a computer (PC) 1.例文帳に追加

本位置計測システムは、コンピュータ（ＰＣ）１のディスプレイ２の近傍に複数の同心円模様投影装置３ａ，３ｂ，３ｃを備える。 - 特許庁

Then, the intensity distribution of gamma rays in fuel rods located outside a circle whose radius is the longest distance between the plane 34 and the collimators 14 and whose center is the rotation axis 33 is calculated on the basis of the intensity of the gamma rays measured at a measurement angle of fuel rods more than those located outside the circle.例文帳に追加

次に、平面３４とコリメータ１４との最も大きい距離を半径とし回転軸３３を中心とする円よりも外側に位置する燃料棒のガンマ線強度の分布を、それらの燃料棒の本数以上の測定角で測定したガンマ線強度に基づいて算出する。 - 特許庁

To provide an optical measurement instrument which is capable of measuring characteristics of a measurement object with higher accuracy by suppressing the occurrence of torsion of an optical fiber when using the optical fiber to measure characteristics of the measurement object which is disposed along a circle.例文帳に追加

円周上に沿うように配置された測定対象物の特性を光ファイバを用いて測定する際に、光ファイバにねじれが発生することを抑制することによって、より高い精度で測定対象物の特性を測定することができる光学式測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Characteristic measurement is performed relative to one frame image, such as a cell area in a static image, the peripheral length, the longitudinal or lateral length of a circumscribed rectangle, the number of holes, a hole area, or complexity from a true circle.例文帳に追加

また、一のフレーム画像について、その静止画像中の細胞の面積、周囲長、外接する長方形の縦もしくは横の長さ、穴数、穴面積、真円からの複雑度などの特徴計測がなされる。 - 特許庁

To provide a position measurement system for detecting a projected concentric circle pattern by a sensor, and for measuring the position of the sensor and the normal direction of the sensor surface.例文帳に追加

投影された同心円模様をセンサーにより検出し、そのセンサーの位置とセンサー面の法線方向を計測する位置計測システムを提供する。 - 特許庁

In regard to an overlapped area of the touch area circle with an electrode area 6, a width in an X-direction (overlapped width X46) and a width in a Y-direction (overlapped width Y47) are obtained from sensor measurement values.例文帳に追加

前記タッチ領域円と電極領域６が重なる領域のＸ方向の幅（重なり幅Ｘ４６）およびＹ方向の幅（重なり幅Ｙ４７）を、センサ測定値から求める。 - 特許庁

The etching layer contains the number of pits having a pit size of 0.01-1 μmϕ when converted into a circle in each measurement surface exist at not less than 70% of all the number of pits when a plane cross section of a position of 20 μm deep from the surface is measured with an image analyzer.例文帳に追加

エッチング層は、表面から20μmより深い位置の平面断面を画像解析装置で測定したとき、各測定面において、円形に換算したときのピット径で0.01〜1μmφのピット数が当該測定面内における全ピット数の70%以上存在している。 - 特許庁

<Microscope measurement> A surface of the self-adhesive layer is observed by a microscope, a bubble particle number existing within a sample circle that is picked up from an area of an A4 sheet size at random and has an area of 6 mm^2 is counted, and an average value of the numbers of bubble particles within five sample circles is computed.例文帳に追加

＜マイクロスコープ測定＞ 当該粘着剤層の表面をマイクロスコープ観察し、Ａ４シートサイズの面積の中からランダムに採取した面積６ｍｍ^２のサンプル円内に存在する気泡の粒の個数を数え、５個のサンプル円内の気泡の粒の個数の平均値を算出する。 - 特許庁