Scanning microscopyとは 意味・読み方・使い方

The applications of scanning tunneling microscopy expanded from observation of surfaces to manipulation of atoms.発音を聞く 例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡法の応用は、表面観察から原子操作に発展した。 - 科学技術論文動詞集

ELECTRON BEAM DOSE CONTROL FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT EQUIPMENT例文帳に追加

走査電子顕微鏡法および臨界寸法測定機器のための電子ビーム線量制御 - 特許庁

Images of a pattern feature are acquired by the scanning electron microscopy (700).例文帳に追加

パターン特徴の画像が走査型電子顕微鏡法により取得される（７００）。 - 特許庁

INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁

TDS stands for thermal diffuse scattering and HAADF-STEM (stands) for high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy.発音を聞く 例文帳に追加

(略語の)TDSは熱散漫散乱を表わし、そしてHAADF-STEMは高角度円環状暗視野 走査透過電子顕微鏡法を表わす。 - 科学技術論文動詞集

FUNCTIONAL DEVICE, PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPY HAVING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF FUNCTIONAL DEVICE AND PROBE例文帳に追加

機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法 - 特許庁

To provide a dielectric recording and reproducing head and a tracking method of a dielectric recording and reproducing device using an SNDM(Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy).例文帳に追加

ＳＮＤＭを利用した誘電体記録再生装置の誘電体記録再生ヘッド及びトラッキング方法を提供する。 - 特許庁