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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JST科学技術用語日英対訳辞書 > Secondary ion mass spectrometryの意味・解説 

Secondary ion mass spectrometryとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 二次イオン質量分析


JST科学技術用語日英対訳辞書での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

secondary ion mass spectrometry


「Secondary ion mass spectrometry」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 63



例文

HIGH-PRECISION SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

高精度二次イオン質量分析法 - 特許庁

METHOD FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析方法 - 特許庁

SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY METHOD例文帳に追加

2次イオン質量分析方法 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROGRAPH AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

2次イオン質量分析装置および分析方法 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROGRAPH AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

2次イオン質量分析装置及び2次イオン質量分析方法 - 特許庁

例文

SURFACE ANALYSIS METHOD AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

表面分析方法および二次イオン質量分析法 - 特許庁

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ライフサイエンス辞書での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

secondary ion mass spectrometry


日英・英日専門用語辞書での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

secondary ion mass spectrometry


Weblio専門用語対訳辞書での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

secondary ion mass spectrometry

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Weblio英和対訳辞書での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

Secondary ion mass spectrometry

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Wiktionary英語版での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

secondary ion mass spectrometry

ウィキペディア英語版での「Secondary ion mass spectrometry」の意味

Secondary ion mass spectrometry

出典:『Wikipedia』 (2011/05/01 02:46 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用

Weblio例文辞書での「Secondary ion mass spectrometry」に類似した例文

secondary ion mass spectrometry

例文

a neutral meson with a large mass

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「Secondary ion mass spectrometry」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 63



例文

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD IN SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法における定量分析方法 - 特許庁

PRECISE SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

高精度二次イオン質量分析方法 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, ITS SAMPLE HOLDER AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

2次イオン質量分析装置、該装置の試料ホルダ及び2次イオン質量分析方法 - 特許庁

DEPTH CALIBRATION SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY, PRODUCTION METHOD OF THE SAME AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法の深さ校正用試料、その製造方法及び二次イオン質量分析方法 - 特許庁

PREPARATION OF STANDARD SAMPLE FOR DETERMINATION FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析のための定量用標準試料の作製方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF RNA BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法によるRNAの分析方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING PROBES CARRIER USING TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY WITH HALOGEN LABELING例文帳に追加

ハロゲン標識による飛行時間型二次イオン質量分析法を用いたプローブ担体の分析方法 - 特許庁

例文

METHOD OF MEASURING DEPTH-DIRECTION CONCENTRATION DISTRIBUTION OF SAMPLE THROUGH SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析による試料の深さ方向濃度分布測定方法 - 特許庁

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