Tests of Timeとは 意味・読み方・使い方

To provide an improved method and device for executing tests at the same time in some of devices 135.例文帳に追加

いくつかのデバイス１３５に同時に試験を実施する改良された方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a handwritten check sheet electronic input method and device for enabling a doctor to request the medical tests of a patient, and the staff of a quarantine to request various tests by reducing any labor in the request task using a request form of a check sheet format or any labor to reflect the contents of the request form at the time of requesting the various tests on an electronic document.例文帳に追加

患者の医療検査を医師が依頼したり、検疫所の係員が諸検査を依頼したりするなど、チェックシート方式の依頼書を用いた依頼業務の際の手間や、該依頼の際の依頼書の内容を電子文書に反映する労力を削減することができる。 - 特許庁

To shorten the time required for performing operation confirming tests, to make the qualities of the tests uniform, and to improve the comprehensiveness of confirming equipment when discriminating the results of speech understanding tests, which are performed for confirming the communication mode switching operation between the data communication mode and audio communication mode of a portable telephone.例文帳に追加

携帯電話のデータ通信モード、音声通信モード間の通信モードの切替の動作確認を行なう音声疎通試験結果判定時に、動作確認の試験時間の短縮、試験品質の均一化、確認機器の網羅性の向上を図る。 - 特許庁

To suppress increase in configuration required for tests and thereby shorten the test time by making execution of the tests using a MUX insertion method, without having to depend on the number of external terminals of SOC.例文帳に追加

本発明は、ＳＯＣの外部端子数に依存することなく、ＭＵＸ挿入方式におけるテストの実施を可能とし、テストに必要となる構成が大型化することを抑制し、テスト時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁

To make the results of stabilizing tests confirmable by increasing the number of items which can be used as the objects of long-time continuous operation tests by eliminating all manual operations.例文帳に追加

手動による操作を一切省いて、長時間連続運転の試験対象とすることができる項目を増やし、安定化試験の確認がとれるようにする。 - 特許庁

To provide a method to shorten a time required for performing reliability tests covering a plurality of temperature environments, which is capable of performing reliability tests under heating at a desired temperature for a wafer without mounting a semiconductor device in a package etc.例文帳に追加

半導体デバイスをパッケージ等に組み付けることなく、ウエハ状態のまま所望温度に加熱した信頼性試験が可能であり、複数の温度環境にわたる信頼性試験に要する時間を短縮する方法の提供。 - 特許庁

To provide a test management device capable of constructing and maintaining tests at low cost, without having to spending time and efforts, even when the number of tests for an object program is increased.例文帳に追加

対象プログラムに対する試験の数が増えた場合でも、時間および労力をかけることなく、低コストで試験の構築および維持が可能な試験管理装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加

通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、１つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁