X‐ray diffraction phaseの英語

To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and/or an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び／又は振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

The X-ray intensity data are improved by measuring diffraction X rays from the metallic phase contained in the plated layer at a plurality of positions to the same Debey ring and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data.例文帳に追加

めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線を、同一のデバイ環に対して複数の位置で測定し、得られる回折Ｘ線強度データを積算することにより、Ｘ線強度データを高める。 - 特許庁

In the phase cotrast X-ray imaging device using an X-ray interferometer, a simultaneous reflection type X-ray interferometer is used wherein a signal wave is coupled to a reference wave by the simultaneous reflection of a coplanar or nonplanar Bragg case instead of coupling the signal wave to the reference wave by the diffraction of a Laue case as in the past.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を利用した位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、従来のラウエケースの回折による信号波と参照波の結合の代わりに、coplanarあるいはnonplanarのブラッグケースの同時反射により信号波と参照波を結合する同時反射型Ｘ線干渉計を用いる。 - 特許庁

To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁

The crystal is confirmed to be a single crystal β-FeSi2 phase from X-ray diffraction of the formed β-FeSi2.例文帳に追加

生成したβ−ＦｅＳｉ_2のＸ線回折から、結晶は単結晶β−ＦｅＳｉ_2相であることが確認された。 - 特許庁

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask.例文帳に追加

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。 - 特許庁