analog holeとは 意味・読み方・使い方

A through hole is pieced into a portion of the shield plate, which is opposed to an area of a digital/analog mixed IC wherein the performance of an analog circuit is deteriorated by application of electromagnetic wave noise propagated into the shield plate.例文帳に追加

シールド板を伝搬する電磁波ノイズが印加されることで、アナログ回路の性能が劣化するデジアナ混在ＩＣの領域に対向するシールド板の部位に、貫通孔を開設する。 - 特許庁

A dial 21 comprises a hole-like or transparent multi-area 21a and an analog display area 21b, and is formed plane-likely.例文帳に追加

文字盤２１は、穴状もしくは透明のマルチ表示エリア２１ａとアナログ表示エリア２１ｂとからなり平板状である。 - 特許庁

To improve the positioning accuracy for the center of a liquid crystal display panel when a through hole is to be formed in the panel having a through hole in the display part so that the panel can be also used together with an analog indicator.例文帳に追加

アナログ指示計器と併用するために、表示部内に貫通孔を有する液晶表示パネルにおいて、貫通孔を孔開けする際の中心位置出し精度を向上させる。 - 特許庁

A waveguide analog/digital converter of this high frequency connection module is configured by adopting a metal plate for the base 1 and making a through-hole to the base.例文帳に追加

この高周波接続モジュールでは、ベース基板１を金属板により構成して当該ベース板に貫通穴を穿設することにより導波管３を構成している。 - 特許庁

Further, a chucking plate to be used for carrying a shield frame is arranged on a position not covering the through hole but covering part of the digital/analog mixed IC.例文帳に追加

また、貫通孔を覆わない位置であって、デジアナ混在ＩＣの一部を覆う位置に、シールドフレームを持ち運ぶ際に使用するチャッキング平板部を配置する。 - 特許庁

To provide an electrophoresis display panel wherein a through hole in which hand shafts of an hour hand and a second hand of an analog wristwatch are inserted is effectively sealed without spoiling appearance of its peripheral region and a display region is widely secured and to provide a manufacturing method of the electrophoresis display panel.例文帳に追加

アナログ式腕時計の時針・秒針の指針軸が挿通される貫通孔が、その周辺領域の外観を損ねることなく効果的に封止され、しかも、表示領域が広く確保される電気泳動式表示パネル、及び、電気泳動式表示パネルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁