arrangement for testingとは意味・読み方・使い方

To provide an arrangement for precisely testing an electronic device comprising a plurality of blocks with different operation frequencies.例文帳に追加

動作周波数の異なる複数のブロックを有する電子デバイスを精度良く試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement and testing method for semiconductor device capable of easily conducting strength evaluation of electromagnetic sensitivity of an LSI simple body against an electric wave.例文帳に追加

電波に対するＬＳＩ単体の電磁感受性の強度評価を容易に行うことができる半導体装置の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of testing the phenomenon that fixing screws, which fastens disk plates for securing a tarpaulin on the ground materials of a roof, becomes loosen by high winds and violent winds, with excellent repeatability.例文帳に追加

防水シートを固定しているディスク板を屋根下地材に留めている固定ねじが、強風や暴風により緩むという現象を再現性よく試験できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

This testing arrangement (A) is a device for testing looseness of the screws for fixing the tarpaulin for the roof, and is provided with a model 10 of the roof ground, a frame 20 for supporting the model 10 upside down, a specimen retainer 30 for retaining the tarpaulin Ts, and a vibration generator 40 for vibrating the specimen retainer 30.例文帳に追加

本発明の試験装置Ａは、屋根防水シート固定ねじの緩み試験装置であって、屋根下地模型１０と、屋根下地模型１０を天地を逆にして支持する架台２０と、防水シートＴｓを保持する試験体保持具３０と、試験体保持具３０を加振する加振機４０とを備えてなるものである。 - 特許庁

The pin holes are arranged at positions where their heights in the optical axis directions of the illuminating optical system and the light-receiving optical system from the testing surface differ from each other, and a scanning arrangement (15b) for moving the relative positions of the testing surface with respect to the pin holes in a predetermined direction vertical to the optical axis directions is provided.例文帳に追加

前記ピンホールは、前記被検面からの前記照明光学系および前記受光光学系の光軸方向の高さが互いに異なる位置に配置され、前記被検面と前記ピンホールとの相対位置を、前記光軸方向と垂直な所定の方向に移動させる走査装置（１５ｂ）を備える。 - 特許庁

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁