小窓モード


プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 英和専門語辞典 > arrangement for testingの意味・解説 

arrangement for testingとは
意味・読み方・使い方

ピン留め
追加できません(登録数上限)
単語を追加

意味・対訳 試験装置


クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「arrangement for testing」の意味

arrangement for testing


「arrangement for testing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

ARRANGEMENT AND METHOD FOR TESTING ELEMENT例文帳に追加

素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR GEAR TOOTH BREAK STRENGTH OF GEARWHEEL AND ARRANGEMENT OF TESTING THE GEAR TOOTH BREAK STRENGTH例文帳に追加

歯車の歯折れ強度試験方法及び歯折れ強度試験装置 - 特許庁

TESTING ARRANGEMENT FOR LOOSENESS OF SCREW FOR FIXING TARPAULIN FOR ROOF例文帳に追加

屋根防水シート固定ねじの緩み試験装置 - 特許庁

REVOLUTION TESTING ARRANGEMENT FOR STEERING WHEEL例文帳に追加

ステアリングホイールの回転試験装置 - 特許庁

Create a special arrangement measure for Corporate Field Tests to allow testing of new products and technology.発音を聞く例文帳に追加

実証目的での規制特例を認める企業実証特例を創設。 - 経済産業省

This testing apparatus for semiconductor devices has the same arrangement as testing apparatuses of the prior art except the arrangement of a contact holder.例文帳に追加

本半導体デバイスの試験装置は、コンタクト押さえの構成を除いて従来の試験装置と同じ構成を備える。 - 特許庁

例文

To provide an arrangement and alignment method of structured light system for carrying out optical gage testing of an object (A).例文帳に追加

物体(A)を光ゲージ試験するための構造化光システムの配置及び位置合わせの方法。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る


調べた例文を記録して、 効率よく覚えましょう
Weblio会員登録無料で登録できます!
  • 履歴機能
    履歴機能
    過去に調べた
    単語を確認!
  • 語彙力診断
    語彙力診断
    診断回数が
    増える!
  • マイ単語帳
    マイ単語帳
    便利な
    学習機能付き!
  • マイ例文帳
    マイ例文帳
    文章で
    単語を理解!
  • その他にも便利な機能が満載!
Weblio会員登録(無料)はこちらから

「arrangement for testing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

To provide an arrangement for precisely testing an electronic device comprising a plurality of blocks with different operation frequencies.例文帳に追加

動作周波数の異なる複数のブロックを有する電子デバイスを精度良く試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement and testing method for semiconductor device capable of easily conducting strength evaluation of electromagnetic sensitivity of an LSI simple body against an electric wave.例文帳に追加

電波に対するLSI単体の電磁感受性の強度評価を容易に行うことができる半導体装置の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of testing the phenomenon that fixing screws, which fastens disk plates for securing a tarpaulin on the ground materials of a roof, becomes loosen by high winds and violent winds, with excellent repeatability.例文帳に追加

防水シートを固定しているディスク板を屋根下地材に留めている固定ねじが、強風や暴風により緩むという現象を再現性よく試験できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをIC試験装置が読み取り、IC試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するICテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもIC試験装置でそのロケーション・データを解読することができるICテストシステムを提供する。 - 特許庁

This testing arrangement (A) is a device for testing looseness of the screws for fixing the tarpaulin for the roof, and is provided with a model 10 of the roof ground, a frame 20 for supporting the model 10 upside down, a specimen retainer 30 for retaining the tarpaulin Ts, and a vibration generator 40 for vibrating the specimen retainer 30.例文帳に追加

本発明の試験装置Aは、屋根防水シート固定ねじの緩み試験装置であって、屋根下地模型10と、屋根下地模型10を天地を逆にして支持する架台20と、防水シートTsを保持する試験体保持具30と、試験体保持具30を加振する加振機40とを備えてなるものである。 - 特許庁

The pin holes are arranged at positions where their heights in the optical axis directions of the illuminating optical system and the light-receiving optical system from the testing surface differ from each other, and a scanning arrangement (15b) for moving the relative positions of the testing surface with respect to the pin holes in a predetermined direction vertical to the optical axis directions is provided.例文帳に追加

前記ピンホールは、前記被検面からの前記照明光学系および前記受光光学系の光軸方向の高さが互いに異なる位置に配置され、前記被検面と前記ピンホールとの相対位置を、前記光軸方向と垂直な所定の方向に移動させる走査装置(15b)を備える。 - 特許庁

例文

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る


arrangement for testingのページの著作権
英和・和英辞典情報提供元は参加元一覧にて確認できます。

  
株式会社クロスランゲージ株式会社クロスランゲージ
Copyright © 2022 Cross Language Inc. All Right Reserved.

ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。

こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

このモジュールを今後表示しない
みんなの検索ランキング
閲覧履歴
無料会員登録をすると、
単語の閲覧履歴を
確認できます。
無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2022 GRAS Group, Inc.RSS