first element of chainとは 意味・読み方・使い方

An output part of the last delay element (G1) of the second chain (KG) is connected to the first circuit output part (YG).例文帳に追加

第２鎖（ＫＧ）の最後の遅延素子（Ｇ１）の出力部は、第１回路出力部（ＹＧ）に接続されている。 - 特許庁

The scan flip-flop 12 is arranged at the head of the first scan chain and holds asynchronous test data corresponding to the first test data outputted from the OR element 17.例文帳に追加

スキャンフリップフロップ１２は、前記第１のスキャンチェーンの先頭に配置され、ＯＲ素子１７が出力した第１のテストデータに対応する非同期テストデータを保持する。 - 特許庁

The part handler is arranged attached to a first of two industrial handlers or robots and forms a kinetic chain between a base of the industrial handler and an end element of the industrial handler having a gripper G means.例文帳に追加

部品ハンドラは、二つの産業用ハンドラまたはロボットの内の第一に、取り付けられて設けられ、且つ前記産業用ハンドラのベースと、前記産業用ハンドラのグリッパＧ手段を有するエンド・エレメントとの間の、動力学的なチェインを形成する。 - 特許庁

Harmonic gear mechanisms (differential mechanisms) 84, 138 are assembled to a part 18 by which the first arm is supported and a part 20 by which the second arm is supported, and each one element (a wave generator) out of three elements of each of the two harmonic gear mechanisms is connected to each other by a rotation transmission mechanism 188 consisting of a chain or the like.例文帳に追加

第１アームが支持される部分１８および第２アームが支持される部分２０に、ハーモニックギヤ機構（差動機構）８４，１３８を組み込み、それら２つのハーモニックギヤ機構の各々の３要素のうちの１要素（ウェーブジェネレータ）どうしを、チェーン等によって構成される回転伝達機構１８８によって連結する。 - 特許庁

The optical element is formed by molding a composition containing a first material to be a particulate having the Abbe's number νd of ≥80 showing wavelength dispersibility in a visible region and <400 nm size and a second material to be an organic and inorganic composite consisting of an organic polymer material having a carbon-carbon bond at its main chain and an inorganic component.例文帳に追加

光学素子において、可視域での波長分散を示すアッベ数νｄが８０以上であり、大きさが４００ｎｍよりも小さい微粒子である第１の材料と、炭素−炭素結合を主鎖に有する有機高分子材料と無機成分とからなる有機無機複合体である第２の材料を含有する組成物を成形してなることを特徴とする光学素子。 - 特許庁

An evaluation element 100, which evaluates the contact resistance dispersion within a flash memory 300's cell formed on a silicon wafer W, has a hole chain 20 containing a plurality of units, having a structure similar to a contact region in the cell to evaluate a resistance value between a first and second electrode pads 2a and 2b.例文帳に追加

シリコンウエーハＷ上に形成されるフラッシュメモリ３００のセル内におけるコンタクト抵抗のばらつきを評価するための評価素子１００であって、セル内のコンタクト部位と同じような構造を持ったユニットを複数個含むホールチェーン２０を備え、第１、第２の電極パッド２ａ，２ｂ間の抵抗値を測定する。 - 特許庁