indirect measurementとは 意味・読み方・使い方

METHOD AND APPARATUS FOR INDIRECT MEASUREMENT OF CONCENTRATION OF OZONE CONTAINED IN LIQUID OR GAS例文帳に追加

液体または気体に含まれるオゾンの濃度を間接的に測定する方法および装置 - 特許庁

PRODUCT FLUID PROPERTY CONTROL METHOD BY INDIRECT MEASUREMENT IN FLUID MIXING PROCESS AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

流体混合プロセスにおける間接計量による製品流体性状の制御方法及びその装置 - 特許庁

To enhance measurement precision by suppressing the variation in resistance values of an indirect heat resistance 12 and lead parts 55 and 60 connected to the indirect heat resistance 12, which is caused by a mounting stress occurring in a membrane 17.例文帳に追加

メンブレン１７に発生する実装応力によって傍熱抵抗１２、および傍熱抵抗１２に接続するリード部５５、６０の抵抗値が変動するのを抑制して測定精度を高める。 - 特許庁

To provide an indirect measurement method of the outlet temperature of a cracking furnace in an ethylene plant, with high measurement accuracy instead of a protecting tube insertion method of direct measurement.例文帳に追加

エチレンプラントにおける分解炉の出口温度の測定を、従来の直接測定である保護管挿入方式に代えて、測定精度の高い間接測定方式を提供すること。 - 特許庁

Even when the mounting stress occurs in the membrane 17, accordingly, it is possible to suppress the variation in the resistance values of the indirect heat resistance 12 and the lead parts 55 and 60 and thus to enhance the measurement precision.例文帳に追加

したがって、メンブレン１７に実装応力が発生しても、傍熱抵抗１２およびリード部５５、６０の抵抗値が変動するのを抑制して測定精度を高めることができる。 - 特許庁

To provide a cavitation detector using an indirect measurement method that avoids influence of external noise, surely detects a cavitation signal, and prevents from corroding by process fluid and the like.例文帳に追加

外部ノイズの影響を回避し、キャビテーション信号を明確に検知でき、かつプロセス流体による腐食等を受けない、間接測定法によるキャビテーション検出装置を提供する。 - 特許庁

Whether the length corresponding to the repetitive frequency of a femtosecond laser matches the length of an optical closing circuit from one mirror surface constituting an optical resonator to be measured, a mirror optical closing circuit similar to a resonator, etc., which is determined by the surfaces of a group of other mirrors constituting all optical circuits is measured by direct comparison by monitoring externally coupled laser light intensity and no indirect contact measurement is needed.例文帳に追加

計測対象とする光共振器あるいは共振器類似ミラー光閉回路等を構成する、あるミラー表面から全光回路を構成するその他のミラー群の表面によって決定される光閉回路の長さを、フェムト秒レーザーの繰り返し周波数を可変にして、繰り返し周波数に対応する長さと回路長に一致するかを、外部結合するレーザー光強度をモニターすることによって、直接比較し、計測する事が可能で、間接的な接触計測は全く不要である。 - 特許庁