magnetic particle inspectionとは 意味・読み方・使い方

A coil 3a for magnetic particle flaw detecting is inserted to the impeller 1 and is magnetized by a magnetizer which is not shown in the figure, and a defect is checked by a pattern of the magnetic particle by sprinkling the magnetic particle over an inspection target surface.例文帳に追加

インペラ１には磁粉探傷用のコイル３ａが挿通され、図示省略の磁化装置により励磁され、検査対象面に磁粉を振りかけ磁粉の模様により欠陥を調べる。 - 特許庁

To improve working efficiency by making inspection easy by unnecessitating a crane regarding a vertical magnetic particle flaw detecting and inspection device for an impeller.例文帳に追加

インペラ用縦形磁粉探傷検査装置に関し、クレーンを不要として検査を容易とし、作業効率が向上する。 - 特許庁

Hot rolling is performed after removing not only flaws detected by a magnetic particle inspection but bruises and scratches ('bruises or the like' is a general term for these) which are not detected by the magnetic particle inspection.例文帳に追加

角鋼片から、磁粉探傷で検出される疵だけでなく、磁粉探傷では検出されない打ち疵および擦り疵（「打ち疵等」と総称）をも除去した後に熱間圧延する。 - 特許庁

To provide a magnetic particle inspection device by a simple structure at a low cost, capable of obtaining a high magnetic particle inspection accuracy on the entire surfaces of an X-Y plane, a Y-Z plane, and a Z-X plane.例文帳に追加

Ｘ−Ｙ平面、Ｙ−Ｚ平面及びＺ−Ｘ平面の全面において高い磁粉探傷精度が得られる磁粉探傷装置をシンプルな構成で低コストで実現する。 - 特許庁

To bring a magnetic flaw detection sheet into close contact with a surface of an inspected object to conduct favorably magnetic particle inspection.例文帳に追加

被検査対象の表面に対して磁気探傷シートを密着させて磁気による検査を良好に行える磁気探傷方法を得る。 - 特許庁

To provide a magnetic particle inspection method and a magnetic sheet used therefor capable of relatively easily determining a width and depth of an opening of a flaw from a magnetic particle pattern.例文帳に追加

磁粉模様から欠陥の開口部の幅や深さなどを比較的容易に判断しうる磁粉探傷法およびその磁粉探傷法に用いる磁気シートを提供すること - 特許庁

To provide a method for performing reinspection efficiently with high accuracy, concerning a method for performing automatic inspection, then taking care, and thereafter performing reinspection by visual inspection by a magnetic particle inspection method.例文帳に追加

自動検査後、手入れを行い、その後、磁粉探傷法による目視検査により再検査する方法において、前記再検査を高精度、且つ効率的に行う方法を提供することを課題とするものである。 - 特許庁

A visible light 2 is arranged in the inspection department of the billet grinder with the magnetic particle examination device and, after the reexamination and flaws maintenance are executed in series, the final examination through the visual inspection continues to be executed.例文帳に追加

磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に可視光ライト２を設置し、前記再検査と疵手入れを連続して行った後、引き続いて目視検査による最終検査を行う。 - 特許庁