measuring and test equipmentとは 意味・読み方・使い方

To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform).例文帳に追加

試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつＡＣ試験条件（波形）の改善が可能とする。 - 特許庁

And in the electromagnetic condition measuring equipment 70, a RAM 73 which stores at least the transmission record of the client side test signal, a receipt record of the server side test signal and a retrial record when an error generated.例文帳に追加

そして、電波状況測定装置７０には、少なくとも前記クライアント側テスト信号の送信記録、前記サーバー側テスト信号の受信記録、及びエラー発生時のリトライアル記録を記憶するＲＡＭ７３を備えさせた。 - 特許庁

To provide a device manufacturing processing system, an exposure device and exposure method, measuring test equipment, a measuring inspection method, and a method for manufacturing the device, which can perform the management of data easily while reducing the load of network.例文帳に追加

ネットワークの負荷を低減するとともに、データの管理を容易に行うことができるデバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

This EMI measuring instrument/method is provided with a turn table 2 mounted with an EUT (Equipment Under Test) 1, a turn table controller 3, an antenna 4, a rotary mechanism 5, an antenna controller 6, a measuring instrument 7, and a computer 8.例文帳に追加

ＥＵＴ１を載せたターンテーブル２とターンテーブルコントローラ３とアンテナ４と回転機構５とアンテナコントローラ６と測定器７とコンピュータ８と演算機構９とを備える。 - 特許庁

(vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof発音を聞く 例文帳に追加

七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁

To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

The balance test equipment comprises an apparatus body 1, a fixing section 7, a vibration table 6 secured to the apparatus body through a plurality of resilient bodies 4, 5, a drive section for vibrating a drive system, and a section for measuring unbalance of a test body fixed to the fixing section 7.例文帳に追加

装置本体１と、取付部７と、複数の弾性体４，５を介して装置本体に固定された振動台６と、振動系を振動させる駆動部と、取付部７に取り付けられた試験体の不つりあいを測定する測定部９を備えたつりあい試験装置である。 - 特許庁