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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > positron annihilation measurementの意味・解説 

positron annihilation measurementとは 意味・読み方・使い方

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Weblio専門用語対訳辞書での「positron annihilation measurement」の意味

positron annihilation measurement

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「positron annihilation measurement」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 5



例文

Then, the thickness of the buffer layer formed is measured by positron annihilation gamma ray measurement.例文帳に追加

次に、陽電子消滅ガンマ線測定により、生成した緩衝層の厚みを測定する。 - 特許庁

First, defect distribution in the vicinity of the surface of a glass substrate to be polished is inspected by a positron annihilation gamma ray measurement.例文帳に追加

研磨対象のガラス基板に対し、まず、陽電子消滅ガンマ線測定により、表面近傍の欠陥分布の検査を行う。 - 特許庁

To provide a means reducing positron annihilation γ ray constituents generated in a part other than a sample and included in a positron annihilation γray to be measured so as to improve an S/N ratio for providing a measurement result independent of a sample shape, structure, performance, or characteristics of a measurement device.例文帳に追加

測定される陽電子消滅γ線に含まれる、試料以外で発生した陽電子消滅γ線の成分を低減してS/N比を向上させ、試料形状や測定装置の構造・性能・性質等に依存しない測定結果が得られる手段を提供することを目的とする。 - 特許庁

(A) positron beam source: generating positrons from electron-positron pairs by using an electron accelerator (B) gamma-ray detector: BaF_2 scintillator and photomultiplier (C) measurement temperature and ambient atmosphere: at 25°C in vacuum (D) annihilation γ-ray counts: 3×10^6 or more (E) positron beam energy: 10 keV例文帳に追加

(A)陽電子線源:電子加速器を用いて電子・陽電子対から陽電子を発生(B)ガンマ線検出器:BaF_2シンチレーターおよび光電子増倍管(C)測定温度及び雰囲気:25℃、真空中(D)消滅γ線カウント数:3×10^6以上(E)陽電子ビームエネルギー:10keV - 特許庁

例文

The compound having a cage structure is characterized in that when a film made of the compound having the cage structure is measured by a positron annihilation life measurement method, the first peak top of the positron annihilation lifetime corresponding to the pore size obtained by the measurement method is in a region not less than 10 ns.例文帳に追加

本発明の樹脂組成物は、樹脂膜を形成するために用いる樹脂組成物であって、前記樹脂組成物は、カゴ型構造を有する化合物を含み、前記カゴ型構造を有する化合物は、該カゴ型構造を有する化合物を製膜して陽電子消滅寿命測定法で測定して得られる空孔サイズに対応した陽電子消滅寿命の第1ピークトップが、10ns以上の領域にあることを特徴とする。 - 特許庁

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