profile measurement systemとは 意味・読み方・使い方

To provide a measuring method of a light-scanning optical system capable of accurately measuring beam profile of the light-scanning optical system outputting a plurality of laser beams, capable of shortening measurement time and capable of simplifying the measurement operation.例文帳に追加

複数のレーザビームを出力する光走査光学系のビームプロファイルを精密に計測でき、計測時間を短縮化でき、かつ、計測作業を簡易化できる光走査光学系の計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a generation system for a transaction profile in a computer system performance measurement analysis system, a transaction profile generation method and a program therefor, capable of classifying a process concerning a transaction process into a processing group by only designating the process that is a starting point of the transaction process, and calculating the profile about each processing group.例文帳に追加

トランザクション処理の起点となるプロセスを指定するだけで、トランザクション処理に関わったプロセスを処理グループに分類し各処理グループについてプロファイルを計算することができる、計算機システム性能測定分析システムにおけるトランザクションプロファイルの生成システム、トランザクションプロファイル生成方法及びそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a system reducing measurement points on a scatterometer measurement object or the degree of freedom of parameters for providing a method for quickly reconstructing a profile of the scatterometer measurement object from a diffraction spectrum.例文帳に追加

本発明の課題の1つは、回折スペクトルからスッキャトロメータ測定オブジェクトの輪郭を迅速に再構築する方法を提供するために、スッキャトロメータ測定オブジェクトの測定ポイントまたはパラメータの自由度の数を減少させるシステムを提供することである。 - 特許庁

(iv) Does the Manager provide a system to promote the sophistication of the institution's market risk management, including the expansion of coverage of market risk measurement and improvement in the precision thereof, in a manner befitting the scales and natures of the institution's business and its risk profile, based on an understanding of the limitations and weaknesses of the market risk measurement and analysis methods (techniques, assumptions, etc.)?発音を聞く 例文帳に追加

（ⅳ）管理者は、市場リスク計測・分析方法（手法、前提条件等）の限界及び弱点を理解し、業務の規模・特性及びリスク・プロファイルに見合った市場リスク計測の範囲拡大、精緻化等の市場リスク管理の高度化に向けた態勢を整備しているか。 - 金融庁

The profile is generated based on the color measurement result of a color measuring instrument by the use of a recording system including: a host computer; a printer for recording the plurality of patches on a recording medium; and the color measuring instrument for performing the color measurement of the plurality of patches.例文帳に追加

ホストコンピュータと、複数のパッチを記録媒体に記録することが可能なプリンタと、前記複数のパッチを測色することが可能な測色装置とを備える記録システムを用いて前記測色装置の測色結果に基づいてプロファイルを作成する。 - 特許庁

The first manufacturing system is equipped with a first manufacturing cluster, a first measuring cluster, an optical measurement model optimization device and a real-time profile estimating device.例文帳に追加

その第１製造システムは、第１製造クラスタ、第１計測クラスタ、光計測モデル最適化装置、及びリアルタイムプロファイル推定装置を有する。 - 特許庁

To provide a surface profile measurement method under liquid and its system in which compensation for determining the depth from a liquid surface to an object is considered by photographing position information for an image and the refractive index of the liquid.例文帳に追加

画像の撮影位置情報と液体の屈折率により、液体表面から物体までの深度を求めるための補正を考慮した液体下の表面形状測定方法及びそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for selecting an appropriate model of a virtual profile used for determining the profiles of a structure on a semiconductor wafer using optical measurement.例文帳に追加

光学的測定を用いた半導体ウェハー上の構造のプロファイルの決定において使用する、仮想プロファイルの適切なモデルを選択する方法およびシステムを提供する。 - 特許庁