resistivity measurementとは 意味・読み方・使い方

MEASUREMENT CURRENT VALUE DETERMINING METHOD AND FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING APPARATUS例文帳に追加

測定電流値決定方法及び４探針抵抗率測定装置 - 特許庁

SUPERCONDUCTOR, NONCONTACT MEASUREMENT METHOD FOR SUPERCONDUCTOR SURFACE RESISTIVITY, AND ITS MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

超伝導体並びに超伝導体表面抵抗率の非接触測定方法及びその測定装置 - 特許庁

The reduction of measurement precision due to temperature changes at the time of resistivity measurement can be prevented.例文帳に追加

結果、抵抗率測定時の温度の違いにより、測定精度が低下するのを防止することができる。 - 特許庁

To provide a four-probe resistivity measuring device that has improved measurement accuracy of resistivity by uniformizing contact between a probe and a wafer.例文帳に追加

プローブとウェハの接触を均一化して抵抗率の測定精度を向上する４探針抵抗率測定装置を提供する。 - 特許庁

To implement resistivity measurement under an appropriate measuring condition, depending upon a measuring object.例文帳に追加

測定対象に応じて適切な測定条件で抵抗率測定を行うこと。 - 特許庁

This probe 10a for surface resistivity measurement provided for a surface resistivity measuring instrument 1 used for measuring the surface resistivity of the object 100 under measurement, is equipped with an electrode 13 and a contact part 14a provided on the electrode 13 and making surface-contact with the object 100.例文帳に追加

被計測物１００の表面抵抗率を計測する表面抵抗率計測装置１に備えられる表面抵抗率計測用プローブ１０ａは、電極１３と、この電極１３上に設けられ、被計測物１００と面で接触可能な接触部１４ａとを備える。 - 特許庁

To provide a method of measuring the resistivity of an n type semiconductor wafer, capable of stabilizing the measurement of the in-plane resistivity of the n type semiconductor wafer and improving reliability by the measurement.例文帳に追加

Ｎ型半導体ウェハの面内抵抗率の測定を安定させ、この測定による信頼性を向上させることができるＮ型半導体ウェハの抵抗率測定方法を提供すること。 - 特許庁

In volume resistivity ρv, the absolute value Δρv of the amount of change in volume resistivity from two to 100 seconds after voltage starts to be applied in measurement by applying 200 [V] should be 0.5 [Log(Ωcm)] or smaller.例文帳に追加

体積抵抗率ρｖは、２００［Ｖ］印加で測定したとき、電圧印加開始から、２秒から１００秒までの体積抵抗率の変化量の絶対値Δρｖが０．５［Ｌｏｇ（Ω・ｃｍ）］以下であるものを用いる。 - 特許庁