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scanning transmission electron microscopeとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 走査透過型電子顕微鏡、走査型透過電子顕微鏡
「scanning transmission electron microscope」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加
ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁
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ライフサイエンス辞書での「scanning transmission electron microscope」の意味 |
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scanning transmission electron microscope
Wiktionary英語版での「scanning transmission electron microscope」の意味 |
scanning transmission electron microscope
名詞
scanning transmission electron microscope (複数形 scanning transmission electron microscopes) (abbreviated as: STEM)
派生語
- monochromated scanning transmission electron microscope
- scanning transmission electron microscopy
「scanning transmission electron microscope」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁
DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁
OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加
エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁
OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁
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