secondary ion mass spectrometerとは 意味・読み方・使い方

By equipping a repulsion electrode 11 at a position facing the secondary ion mass spectrometer 10 to turn the secondary ion trajectory for ions released in the opposite direction back toward the secondary ion mass spectrometer 10, sensitivity can be increased.例文帳に追加

２次イオン質量分析計１０と対向する位置に反発電極１１を設け、逆方向に放出された２次イオンの軌道を２次イオン質量分析計１０側にすることで感度の向上が図れる。 - 特許庁

CALIBRATION REFERENCE SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

二次イオン質量分析装置の較正用標準試料及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR ACQUIRING INFORMATION OF ELEMENT BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法による素子の情報取得方法、および、情報取得装置 - 特許庁

This secondary ion mass spectrometer includes this irradiation direction-variable ion irradiation device, a sample base, and a mass spectrograph.例文帳に追加

本二次イオン質量分析装置は、照射方向可変イオン照射装置と試料台と質量分析器とを含んでなる。 - 特許庁

Thereby, a secondary ion 36 from the area where a primary ion beam 32 is irradiated is inputted in the mass spectrometer 40.例文帳に追加

こうして、１次イオンビーム３２が照射されている領域のみからの２次イオン３６を質量分析計４０に入射させる。 - 特許庁

The method comprises an analysis process by a TOP-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer).例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳ（飛行時間型二次イオン質量分析装置）による分析工程を有するトナーの製造方法。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometer capable of analyzing in the depth direction with high sensitivity as well as high depth-resolution.例文帳に追加

高い深さ分解能と同時に高感度で深さ方向分析を行うことができる二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

Finally, the extracted component, dried and solidified on the sample stand, is analyzed in a time-of-flight secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加

最後に、上記試料台上に乾固した抽出成分を飛行時間型二次イオン質量分析装置にて分析する。 - 特許庁