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silicon carbide polymorphとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 炭化けい素多形
「silicon carbide polymorph」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
The feed material 11 for epitaxial growth of single crystal silicon carbide has a surface layer including polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。 - 特許庁
Each of the feed material 11 and the seed material 12 has a surface layer including polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。 - 特許庁
This seed material 12 for liquid phase epitaxial growth of single crystal silicon carbide has a surface layer including polycrystalline silicon carbide having a crystal polymorph of 3C.例文帳に追加
単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。 - 特許庁
The feed material 11 is one in which a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than that corresponding to the (111) plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。 - 特許庁
The seed material 12 is one in which a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that corresponding to the (111) crystal plane are not observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した1次回折ピークが観察され、(111)結晶面に対応した1次回折ピークの回折強度の10%以上の回折強度を有する他の1次回折ピークが観察されないものである。 - 特許庁
Through Raman spectroscopic analysis where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, an LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C is observed.例文帳に追加
表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。 - 特許庁
Through Raman spectroscopic analysis where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, peaks other than TO (transverse optical) peak and LO (longitudinal optical) peak are observed as peaks derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のピークとして、T0ピーク及びL0ピーク以外のピークが観察される。 - 特許庁
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「silicon carbide polymorph」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
Through Raman spectroscopic analysis, where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, an LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, is observed for each of the feed material 11 and the seed material 12.例文帳に追加
フィード材11及びシード材12のそれぞれにおいて、表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。 - 特許庁
When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁
Each of the feed material 11 and the seed material 12 has a surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and when the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.例文帳に追加
フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有し、かつ、表層のX線回折により(111)結晶面に対応した回折ピークが観察されるものである。 - 特許庁
Through Raman spectroscopic analysis of the surface layer, where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C is observed, and the shift amount from 972 cm^-1 of LO peak is smaller than 4 cm^-1 (in absolute value).例文帳に追加
表層の、励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察され、L0ピークの972cm^−1からのシフト量の絶対値が4cm^−1未満である。 - 特許庁
When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.例文帳に追加
表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した1次回折ピークが観察され、(111)結晶面に対応した1次回折ピークの回折強度の10%以上の回折強度を有する他の1次回折ピークが観察されない。 - 特許庁
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