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static probeとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 静圧探子
「static probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
COUNTERMEASURE TYPE PROBE AGAINST STATIC ELECTRICITY例文帳に追加
静電気対策型プローブ - 特許庁
SUPPORT STRUCTURE OF STATIC PRESSURE SENSOR PROBE例文帳に追加
静圧センサープローブの支持構造 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁
BIOPSY DEVICE WITH REPLACEABLE PROBE INCORPORATING STATIC VACUUM SOURCE DUAL VALVE SAMPLE STACKING RETRIEVAL AND SALINE SOLUTION CLEANING例文帳に追加
静的真空源二重バルブ標本堆積検索と食塩水洗浄を組み込んだ、交換可能なプローブを備える生検装置 - 特許庁
BIOPSY DEVICE WITH REPLACEABLE PROBE AND INCORPORATING VIBRATION INSERTION ASSIST AND STATIC VACUUM SOURCE SAMPLE STACKING RETRIEVAL例文帳に追加
置換可能プローブを備え、振動挿入補助および静的真空源をサンプル堆積式回収に組み込んだ生検装置 - 特許庁
To provide a semiconductor device that is protected from static electricity introduced through bump pads and probe test pads.例文帳に追加
バンプパッドおよびプローブテスト用パッドを介して流入する静電気から保護され得る半導体装置を提供すること。 - 特許庁
The magnetic field intensity characteristic of a static magnetic field generating magnet 2 is measured using an NMR probe 26, a high frequency transmitter 6 and a receiver 8.例文帳に追加
静磁場発生磁石(2)の磁場強度特性をNMRプローブ(26)、高周波トランスミッター(6)と受信機(8)を用いて測定する。 - 特許庁
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「static probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
A class loader 1002 loads a byte code of the component to be measured using the found component and the static list, and a transformer/probe builder 1000 inserts a probe.例文帳に追加
クラスローダ1002が、発見されたコンポーネントおよび静的リストを用いて計測対象のコンポーネントのバイトコードをロードし、トランスフォーマ/プローブビルダ1000がプローブを挿入する。 - 特許庁
A traffic result statistic information generation server 3 finds traffic volume by road links using the probe information saved in the probe information gathering server 2, and stores the traffic volume in a traffic result static information DB 31.例文帳に追加
通行実績統計情報生成サーバ3は、プローブ情報収集サーバ2に保存されているプローブ情報を用いて、道路リンク毎の交通量を求め、通行実績統計情報DB31に格納する。 - 特許庁
The freeze switch 130 is provided apart from a probe body 100, can avoid the problem that the freeze operation moves the probe body 100 and damages static images.例文帳に追加
フリーズスイッチ130がプローブ本体100から分離して設けられているため、例えば、フリーズ操作に伴ってプローブ本体100が動いて静止画像がぶれてしまうという問題を回避できる。 - 特許庁
The apparatus includes a static magnetic field generating means for generating the static magnetic field in a space where a subject is mounted, a static magnetic field homogeneity adjusting means for adjusting the static magnetic field in the space uniformly, and a phantom generating MR signal, and an electromagnetic wave is radiated to the phantom and the RF probe receiving the MR signal from the phantom is fixed in the space.例文帳に追加
被検体を配置する空間に静磁場を発生させる静磁場発生手段と、前記空間における静磁場を均一に調整するための静磁場均一度調整手段と、MR信号を発生するファントムを備え、前記ファントムに電磁波を照射し、前記ファントムからMR信号を受信するRFプローブを前記空間内に固定する。 - 特許庁
To provide a laminate for probe pin cleaning capable of simply cleaning all probe pins at a time in the mounted state on the inspection machine as they are without extracting the probe pins from an inspection machine, and having no risk of exerting an adverse effect caused by static electricity, and a simple cleaning method of the probe pins using the laminate.例文帳に追加
検査機からプローブピンを抜き取ることなく検査機に取付けたそのままの状態で全てのプローブピンを一度に簡便に清掃でき、静電気による悪影響を与える心配もないプローブピン清掃用の積層体と、この積層体を用いたプローブピンの簡便な清掃方法を提供する。 - 特許庁
A plate having a fixing jig mounted on a plurality of positions where the RF probes are fixed is set, and the RF probe is mounted on the desired fixing jig of the plurality of fixing jigs while the static magnetic field homogeneity in the space is measured by the RF probe mounted on the desired fixing jig.例文帳に追加
RFプローブを固定する、複数の箇所に配置した固定治具を有するプレートを設置し、前記複数の固定治具の内、所望の固定治具にRFプローブを設置すると共に、前記所望の固定治具に設置したRFプローブによって前記空間の静磁場均一度を測定する。 - 特許庁
A static eliminator 4 and a charge monitor 3 are arranged and the charge monitor 3 is controlled on the basis of the position of the probe 2 of the atomic force microscope by a monitor position control means 7 so as to measure the charge quantity in the periphery of the position of the probe 2 of the sample 1.例文帳に追加
除電装置4と、帯電モニタ3を配置し、原子間力顕微鏡の探針2の位置に基づいて、試料1の探針2の位置周辺の帯電量が測定されるように帯電モニタ3をモニタ位置制御手段7により制御する。 - 特許庁
The non-contact displacement meter measures a surface shape of a work 1, wherein a probe 2 having an electrode 3 on a tip of the same is made to approach the measurement work 1, from a change in static capacitance made between the work 1 and the measurement electrode 3, a change in clearance between the measurement work 1 and the probe 2 is measured.例文帳に追加
非接触変位計は、先端に測定電極3を有するプローブ2を測定ワーク1に接近させて、測定ワーク1と測定電極3との間の静電容量の変化でもって、測定ワーク1とプローブ2との間隔の変位から測定ワーク1の表面形状を測定する。 - 特許庁
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