test limitsとは 意味・読み方・使い方

POSIX allows an application to test at compile or run time whether certain options are supported, or what the value is of certain configurable constants or limits.発音を聞く 例文帳に追加

POSIX では、アプリケーションがコンパイル時や実行時に、特定のオプションがサポートされているかや、設定可能な特定の定数や制限がどんな値かをテストすることができる。 - JM

Does it utilize the test results in a way to reflect them in the investment policy, the establishing limits and the internal capital adequacy assessment?発音を聞く 例文帳に追加

また、ストレス・テストの結果に応じた対応が策定され、運用方針、限度枠の設定及び自己資本充実度の評価に反映するよう活用しているか。 - 金融庁

To provide a device and a method for dynamic wind tunnel testing in order to inhibit the deviation of a wind tunnel testing model from its wind tunnel measuring section, relax the limits to the test range, and minimize transient phenomena in transition to free flight mode.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits.例文帳に追加

タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。 - 特許庁

In the computer-implemented method of designing a nuclear reactor of a given reactor plant, an initial test reactor core design is generated for the given plant based on a plurality of limits inputted by a user.例文帳に追加

与えられた原子炉プラントの原子炉を設計するコンピュータ設計方法において、初期テスト原子炉炉心設計が、ユーザによって入力された複数の制限に基づいて、与えられたプラントについて生成される。 - 特許庁

To determine to give notice that the measurement accuracy of an axle load measuring instrument is beyond permissible limits or lowered without running a test vehicle whose axle load is known.例文帳に追加

軸重が既知である試験車両を走行させることなく軸重計測装置の計測精度が許容範囲外になったことや低下したことを判定して通知する。 - 特許庁

8. Judgment for the compliance with the standard limits shall be conducted by calculating a test value to one more digit than required and rounding it off to the nearest digit and by comparing the obtained value with the corresponding standard limi.例文帳に追加

８ 基準値により適否の判定を行う場合には、実験値は基準値より１けた多く求め、その多く求めた１けたについて四捨五入し基準値と比較することにより判定を行う。 - 厚生労働省

The semiconductor device includes probe area marks 41a-41d each showing an area to contact the test probe to the electrode pad 4, limits the abutting area of the test probe in the electrode pad with a prob area mark, and elevates the reliability of bonding.例文帳に追加

電極パッド４にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマーク４１ａ〜４１ｄを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブの当接領域を限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁