trace cardとは 意味・読み方・使い方

The probe card 14 and the scanning probe microscope 19 are disposed in an array, and the wafer 12 is held by a wafer chuck 15 and horizontally moved by a horizontal moving mechanism 16 between the application position of a needle under the probe card 14 and the measurement position of a needle trace under the scanning probe microscope 19.例文帳に追加

プローブカード１４と走査型プローブ顕微鏡１９とは並設されており、ウエハ１２は、ウエハチャック１５によって保持され、水平移動機構１６により、プローブカード１４下の針当て位置と走査型プローブ顕微鏡１９下の針跡計測位置との間で水平移動される。 - 特許庁

The trace terminal equipment acquires parts lot No. concerning the conveyed parts stored in the IC card and the parts lot No. concerning the parts generated in the previous process, and stores it in a database.例文帳に追加

トレース端末装置は、ＩＣカードに搬出部品についての部品ロットＮｏと、前工程で生成された部品についての部品ロットＮｏを取得するとともに、データベースに格納する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 19 is provided to the electrode pad of an IC formed on a wafer 12 so as to measure the depth of a needle trace (application of a needle) which is formed by contact with the electrode probe 13 of a probe card 14.例文帳に追加

ウエハ１２上に形成されたＩＣの電極パッドにプローブカード１４の電極プローブ１３が接触（針当て）することによって形成された針跡の深さを計測するために、走査型プローブ顕微鏡１９を設ける。 - 特許庁

This coloring includes reversible colorants which carry out color fading by heating, and the trace can be removed by carrying out heating and color fading after checking the direction of the raw card.例文帳に追加

この着色は加熱により消色する可逆性着色剤から構成されており、生カードの向きを確認した後加熱して消色させてその痕跡を除去することができる。 - 特許庁

A user holds the pen type scanner 16 in hand to trace the mail address which is written in the visiting card 100 of a transmission opposite party on a reading surface so that the address is inputted to the composite unit 10.例文帳に追加

ユーザは、ペン型スキャナ１６を手で持ち、読取面で送信相手の名刺１００に書かれたメールアドレスをなぞることにより、そのアドレスを複合機１０に入力することができる。 - 特許庁

In each process, a terminal 10 for reading/writing data stored in an IC card is installed, and the stored data are collected by trace terminal equipment 20.例文帳に追加

各工程には、ＩＣカードに格納されたデータを読み書きするターミナル１０を設け、格納されたデータをトレース端末装置２０が収集する。 - 特許庁

To provide a guide for a probe allowing stable electrical connection and being kept from leaving a scrub trace on a projection apex of a projecting connection electrode, a cantilever-type probe card, and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加

安定した電気的接続を可能にし、かつ、突起状接続電極の突起頂点にスクラブ跡を付けることのないプローブ針のガイド部材、カンチレバー型プローブカード、並びに、半導体装置の試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The probe pins arranged on the probe card are brought into contact with a dummy pad of a dummy element formed on a wafer substrate to obtain an image of a contact trace formed on the dummy pad, and shapes or contact positions of chip portions of the probe pins are computed from the obtained image.例文帳に追加

ウェハ基板に形成されたダミー素子のダミーパッドに、プローブカードに配設されたプローブピンを接触させ、ダミーパッドに形成された接触痕の画像を取得し、取得した画像からプローブピンの先端部の形状または接触位置を算出する。 - 特許庁