例文 (999件) |
テスト生の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2453件
テストデータ発生器、テストシステム及びテスト方法例文帳に追加
TEST DATA GENERATOR, TEST SYSTEM AND TEST METHOD - 特許庁
テスト信号発生装置例文帳に追加
TEST SIGNAL GENERATING APPARATUS - 特許庁
テスト信号生成回路例文帳に追加
TEST-SIGNAL GENERATION CIRCUIT - 特許庁
テスト項目生成装置例文帳に追加
TEST ITEM GENERATION DEVICE - 特許庁
テストデータ生成装置例文帳に追加
TEST DATA GENERATION DEVICE - 特許庁
テストケース生成方法例文帳に追加
TEST CASE GENERATION METHOD - 特許庁
テスト信号発生装置例文帳に追加
TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁
テスト信号発生器例文帳に追加
TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁
テストパターン生成装置例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATOR - 特許庁
テストパターン発生装置例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATOR - 特許庁
テスト信号生成装置例文帳に追加
TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁
テストデータ生成装置例文帳に追加
テストデータ生成装置例文帳に追加
TEST DATA GENERATING APPARATUS - 特許庁
集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト例文帳に追加
GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST - 特許庁
テストケース生成装置及びテストケース生成方法及びテストケース及びテスト方法例文帳に追加
TEST CASE CREATION DEVICE, TEST CASE CREATION METHOD, TEST CASE, AND TEST METHOD - 特許庁
テストモデル生成装置とテストモデル生成方法例文帳に追加
TEST MODEL GENERATION APPARATUS AND TEST MODEL GENERATION METHOD - 特許庁
テストパタン生成システム、及びテストパタン生成方法例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD - 特許庁
テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN - 特許庁
テストケース生成装置およびテストケース生成方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE - 特許庁
テストデータ生成システム及びテストデータ生成方法例文帳に追加
TEST DATA GENERATION SYSTEM AND METHOD - 特許庁
テストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法例文帳に追加
TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD - 特許庁
ハードマクロテスト回路、そのテスト方法およびテストパタン生成方法例文帳に追加
HARD MACRO TEST CIRCUIT, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN - 特許庁
テストデータ発生器、テストシステム及びテスト方法を提供する。例文帳に追加
To provide a test data generator, a test system and a test method. - 特許庁
RESTful Web サービスのテスト用テストクライアントの生成。例文帳に追加
Test client generation for testing RESTful web services. - NetBeans
テストパターン生成回路及びテスト回路例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST CIRCUIT - 特許庁
テスト装置およびテスト信号発生装置例文帳に追加
TEST DEVICE AND TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁
テスト装備、アイマスク生成器及びテスト方法例文帳に追加
TEST EQUIPMENT, EYE MASK GENERATOR, AND TEST METHOD - 特許庁
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール例文帳に追加
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL - 特許庁
テストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラム例文帳に追加
TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST DATA GENERATION METHOD, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM - 特許庁
テストデータ生成方法、テストデータ生成装置及びテストデータ生成プログラム例文帳に追加
TEST DATA GENERATION METHOD, TEST DATA GENERATION DEVICE, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM - 特許庁
テストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法例文帳に追加
TEST DATA GENERATING PROGRAM, TEST DATA GENERATING DEVICE, AND TEST DATA GENERATING METHOD - 特許庁
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE - 特許庁
テスト音生成部111は、テスト音信号を生成し、テスト音を発生させる。例文帳に追加
A test sound generation section 111 generates a test sound signal and emits a test sound. - 特許庁
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、およびテストケース生成方法例文帳に追加
TEST CASE GENERATOR, AND TEST CASE GENERATION PROGRAM AND METHOD - 特許庁
テストケース生成プログラムとテストケース生成装置およびテストケース生成方法例文帳に追加
PROGRAM, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE - 特許庁
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体例文帳に追加
TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM - 特許庁
テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム例文帳に追加
TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM - 特許庁
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム例文帳に追加
TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD AND TEST CASE GENERATION PROGRAM - 特許庁
テストケース生成装置、テストケース生成方法及びテストケース生成プログラム例文帳に追加
TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD, AND TEST CASE GENERATOR - 特許庁
スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法例文帳に追加
SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD - 特許庁
テスト回路およびテスト回路生成装置、テスト回路生成方法およびその記録媒体例文帳に追加
TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, TEST CIRCUIT GENERATING METHOD, AND ITS RECORDING MEDIUM - 特許庁
テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
先生はテスト用紙を配った。例文帳に追加
The teacher handed out the tests. - Tatoeba例文
例文 (999件) |
Copyright (c) 1995-2024 Kenkyusha Co., Ltd. All rights reserved. |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
Tatoebaのコンテンツは、特に明示されている場合を除いて、次のライセンスに従います: Creative Commons Attribution (CC-BY) 2.0 France |
この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
© 2010, Oracle Corporation and/or its affiliates. Oracle and Java are registered trademarks of Oracle and/or its affiliates.Other names may be trademarks of their respective owners. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |