例文 (71件) |
方位鏡の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 71件
全方位画像を反射する双曲面鏡11と受光レンズ12と撮像素子13を用いて全方位画像を取得する装置において、取得画像範囲を2以上に分割し、前記撮像素子13の焦点位置を変えることにより非点収差を減少させ、各々の最適の画像フォーカスを得る。例文帳に追加
In the multiple focus omnidirectional image pickup device that uses a hyperboloidal mirror 11 reflecting an omnidirectional image, a light receiving lens 12, and an image pickup element 13 to acquire the omnidirectional image, a range of an acquired image is split into two or more and the focal position of the imaging device 13 is changed to reduce the astigmatism and obtain an optimum image focus. - 特許庁
本発明は、内視鏡やカテーテルの作業を考慮して内視鏡又はカテーテル等の先端と整合して中央に鉗子等が装入できる大きいセンターホールを有するとともに、カテーテル先端部と体内壁との接触力やカテーテル先端部等の全方位姿勢の計測が可能な3次元抗力センサを提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a 3-D drag sensor capable of measuring the contact force between the tip of a catheter and the wall of the living body and the omni-directional attitude of the catheter tip etc., as well as considering the operation of the endoscope or the catheter, matching with the tip of the endoscope or catheter etc., a large center hole capable of accommodate a forceps is provided. - 特許庁
電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し(S16)、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し(S18)、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する(S26)結晶粒方位の分析方法。例文帳に追加
In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26). - 特許庁
走査型電子顕微鏡装置と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダーは、電子線後方散乱パターン計測機能を有した走査型電子顕微鏡装置と、マイクロサンプリング機能を装備した集束イオンビーム装置とに装着可能で、試料の載せ替え作業をせずに結晶方位解析とマイクロサンプリング加工が可能であることを特徴とする。例文帳に追加
The common sample holder for a scanning electron microscope device and a focused ion beam device is set mountable on a scanning electron microscope device with an electron beam backscatter pattern measurement function and on a focused-ion beam device with a microsampling function, and enables a crystal orientation analysis and microsampling, without having to remount a sample. - 特許庁
術者と助手の変倍の連動が容易で且つ顕微鏡の大型化を招くことがなく、また、助手の立体視が可能で且つ助手の観察野が術者の観察野と同一であり、更には、術者の観察位置に対する助手の観察位置が側方位置および対向位置で可能な手術用顕微鏡の提供を目的としている。例文帳に追加
To provide a microscope for operation which facilitates the interlocking of variable power between an operator and an assistant, does not entail the upsizing of the microscope, enables the stereoscopic view of the assistant, makes the assistant's observation field the same as the operator's observation field and enables the assistant' s observation position with respect to the operators observation position in lateral positions and opposite positions. - 特許庁
全方位撮像器1の周方向からの光が、側面12eから柱状体12の内部に入り、円錐台側面状の鏡面をなす表面12dにて上方に反射され、更に、放物面状の鏡面をなす表面12cにて下方に反射されて、レンズとして機能する放物面12fに入射する。例文帳に追加
Light from circumferential directions of the ominiazimuth image pickup unit 1 enters the columnar body 12 from a flank 12e and is reflected upward by a surface 12d forming a mirror surface in a shape of a frustum of a cone and further reflected downward by a surface 12c forming a parabolic mirror surface to be made incident on a parabolic surface 12f functioning as a lens. - 特許庁
カプセル内視鏡システム2のパーソナルコンピュータ(PC)13は、カプセル内視鏡11で得られた全方位画像を展開して展開画像を作成する展開画像作成部77と、複数の展開画像を繋ぎ合わせ、モザイク画像を作成するモザイク画像作成部79と、モザイク画像をモニタ18に表示させる表示制御部71とを有する。例文帳に追加
The personal computer (PC) 13 of the capsule endoscope system 2 includes: a development image generating part 77 for developing an omniazimuth image obtained by a capsule endoscope 11 and generating a development image; a mosaic image generating part 79 for connecting the plurality of development images so as to generate a mosaic image; and a display control part 71 for displaying the mosaic image on a monitor 18. - 特許庁
(100)またはこれと等価な面に対して傾斜角度θが0.1°<θ<0.2°の範囲内に傾斜した面方位を有するシリコン鏡面ウェーハを、水素ガス、不活性ガス、窒素ガスまたはこれらの混合ガス雰囲気中で熱処理するようにした。例文帳に追加
A mirror surface silicon wafer having an orientation inclined at an angle θ ranging 0.1°<θ<0.2° to a plane (100) or equivalent thereto is heat treated in hydrogen gas, inert gas, nitrogen gas or a mixed gas atmosphere thereof. - 特許庁
リフレクタ12の放物面鏡は、全方位の放物面に対して、その軸線を水平に横切る平面で切断した際の上側の放物面(以下、このように軸線を横切る平面で分離した片側の放物面を半放物面という)の形状になっている。例文帳に追加
The parabolic mirror of the reflector 12 is formed into a shape of an upper paraboloid in cutting an all-round paraboloid by a plane horizontally crossing its axis (the one-side paraboloid cut by the plane crossing the axis is hereinafter called a half-paraboloid). - 特許庁
ビデオデータ入力装置36は、全方位センサーとしての2葉双曲面鏡又は魚眼レンズ61を用いたビデオカメラ35により管渠壁面11の画像データを取り込むとともに、画像データに対応したオペレータの音声データを取り込む。例文帳に追加
A video data inputting device fetches the image data regarding the wall surface 11 of a conduit 10 by means of a video camera using a two- sheet hyperboloid mirror or fisheye lens 61 as an omniazimuth sensor and, at the same time, the voice data of an operator corresponding to the image data. - 特許庁
レーザー照射装置Lを、水平検知手段に基いて水平調整を制御する水平制御手段を具備させた支持フレームに揺動自在に支持させ、レーザー照射装置の反射鏡を利用して、全方位に水平又は鉛直に連続する基準ラインを照射表示する。例文帳に追加
The setting-out laser device L displays reference lines, which are successive horizontally and perpendicular in all the azimuth by irradiation by supporting the laser irradiating device L in a freely oscillatory state on a support frame which is equipped with a horizontal control means for controlling the horizontal adjustment according to a horizontal detecting means and utilizing the reflection mirror of the laser irradiating device. - 特許庁
筒体10を介して入射された光を凸面鏡11にて下方に反射させ、窓孔13,レンズ19及び撮像光を複数の光路に分離するプリズム20を介してCCD21,22に結像させて、カメラ15の光軸を中心とした全方位(360°)の画像を取得する。例文帳に追加
Light which is made incident through a cylinder body 10 is reflected downward by a convex mirror 11 and imaged on CCDs 21 and 22 through a window hole 13, a lens 19, and a prism 20 which splits image light to multiple optical paths, so that an ominiazimuth (360°) image having its center at the optical axis of a camera 15 is obtained. - 特許庁
リフレクタ12の放物面鏡は、全方位の放物面に対して、その軸線を水平に横切る平面で切断した際の上側の放物面(以下、このように軸線を横切る平面で分離した片側の放物面を「半放物面」という)の形状になっている。例文帳に追加
The parabolic mirror on the reflector 12 is in the shape of a topside paraboloid formed when the paraboloid in all directions is cut by a plane crossing the paraboloid's axis line horizontally (such a one-side paraboloid separated by a plane crossing the axis line is hereinafter referred to as "half-paraboloid"). - 特許庁
本発明のレンズバリア(レンズ保護カバー)付きカメラには、レンズ鏡筒4の前面の飾り板3にリング状の突起部3b,3cが設けられ、上記飾り板3前方位置に開閉スライド操作可能なレンズバリア2が配設されている。例文帳に追加
As for the camera with a lens barrier (lens protective cover), ring-shaped projecting parts 3b and 3c are arranged on the front ornamental plate 3 of the lens barrel 4, and the lens barrier 2 which is made slidable so as to execute an opening/closing operation is arranged in front of the ornamental plate 3%. - 特許庁
簡単な構成で中心軸上の物点と中心軸と略直交する方向の全方位の画像の両方を同時に1つの撮像素子上に撮像することが可能な小型で安価な光学系及びそれを用いた内視鏡を提供する例文帳に追加
To provide an optical system which is capable of imaging both of an object point on a center axis and an omnidirectional image in the direction substantially vertical to the center axis simultaneously onto one image pickup device with a simple constitution, is miniaturized and is inexpensive, and to provide an endoscope using the optical system. - 特許庁
反射鏡23は、選択成長により基板に対して斜めに成長した窒化物半導体のファセット面からなり、半導体レーザ21から発せられたレーザ光を反射することにより、レーザ光の出射方向を基板22の主方位面に対して上方向に変えるように構成されている。例文帳に追加
Each reflecting mirror 23 is composed of the facet face of the nitride semiconductor grown obliquely to the substrate 22 by selective growth, and is constituted to upwardly change the emitting direction of laser light emitted from the semiconductor layer 21 against the main bearing face of the substrate 22 by reflecting the laser light. - 特許庁
走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。例文帳に追加
To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope. - 特許庁
中心線直角断面を円形穴として保持室を形成した保持体10の中心線上に、順次、半導体レーザー光源21、集光レンズ系23、前記反射鏡Mとを配設保持し、半導体レーザー光源から放射したレーザー光を、中心線と直交する全方位へ反射して照射するようにしたレーザー照射装置。例文帳に追加
This laser irradiating device L has a semiconductor laser light source 21, a condenser lens system 23, and the reflecting mirror M arranged and held in order on the center line of a holder 10 forming a hold chamber, which is sectioned circularly at right angles to the center line and reflects the laser light emitted by the semiconductor laser light in all azimuths crossing the center line at right angles for irradiation. - 特許庁
液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径5μm以下であることを特徴とする。例文帳に追加
In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less. - 特許庁
顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のSN比を向上する。例文帳に追加
To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image. - 特許庁
走査型顕微鏡を用いて、結晶構造の結晶格子モアレパターンを取得する方法であって、前記結晶構造の走査面において、前記結晶構造と方位に対応して、複数の仮想格子点を周期的に配置する工程と、入射プローブを用いて複数の前記仮想格子点からの信号を検出する工程と、検出した前記信号に基づいて、前記結晶構造の結晶格子モアレパターンを生成する工程と、を備えている。例文帳に追加
A method for obtaining a crystal lattice Moire pattern of a crystal structure through the use of a scanning microscope includes the process for periodically arranging a plurality of virtual lattice points in a scanning surface of the crystal structure according to the crystal structure and orientation, the process for detecting signals from the plurality of virtual lattice points through the use of an incidence probe, and the process for generating a crystal lattice Moire pattern of the crystal structure on the basis of detected signals. - 特許庁
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