意味 | 例文 (85件) |
暗視鏡の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 85件
暗視野落射顕微鏡例文帳に追加
暗視野照明部品および顕微鏡例文帳に追加
DARK-FIELD ILLUMINATION COMPONENT AND MICROSCOPE - 特許庁
顕微鏡の暗視野照明装置例文帳に追加
DARK FIELD ILLUMINATOR FOR MICROSCOPE - 特許庁
顕微鏡の暗視野照明装置および暗視野照明方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR ILLUMINATING DARK FIELD OF MICROSCOPE - 特許庁
暗視野キューブおよびこの暗視野キューブを有する顕微鏡例文帳に追加
DARK-FIELD CUBE AND MICROSCOPE WITH THE SAME DARK-FIELD CUBE - 特許庁
収束光明暗視野顕微鏡装置および収束光明暗視野顕微鏡観察方法例文帳に追加
CONVERGENT LIGHT BRIGHT- AND DARK-FIELD MICROSCOPIC APPARATUS AND CONVERGENT LIGHT BRIGHT- AND DARK-FIELD MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD - 特許庁
暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法例文帳に追加
DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD - 特許庁
実体顕微鏡および暗視野照明装置例文帳に追加
STEREOSCOPIC MICROSCOPE AND DARK FIELD LIGHTING DEVICE - 特許庁
落射暗視野照明用対物レンズ及び顕微鏡例文帳に追加
OBJECTIVE LENS FOR EPIDARK ILLUMINATION, AND MICROSCOPE - 特許庁
暗視野顕微鏡及びその調整方法例文帳に追加
DARK FIELD MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD THEREFOR - 特許庁
生物顕微鏡及びそれに用いる暗視野照明装置例文帳に追加
BIOLOGICAL MICROSCOPE AND DARK-FIELD LIGHTING SYSTEM - 特許庁
暗視野熱レンズ顕微鏡分析方法とその装置例文帳に追加
DARK FIELD THERMAL LENS MICROSCOPIC ANALYSIS METHOD AND DEVICE THEREFOR - 特許庁
環状暗視野検出器が、その顕微鏡の鏡筒内に(且つオメガフィルタの上下に)はめ込まれている。例文帳に追加
Annular dark-field detectors are fitted in the microscope column above and below the omega filter. - 科学技術論文動詞集
光顕微鏡用の明視野照明および/または暗視野照明のためのコンデンサ装置例文帳に追加
OPTICAL MICROSCOPE CONDENSER FOR BRIGHT AND/OR DARK FIELD ILLUMINATION - 特許庁
暗視野観察や蛍光観察を行う際にも、顕微鏡周辺の環境を暗くする必要がない顕微鏡カバー、顕微鏡カバーを収容可能な顕微鏡、および顕微鏡カバー収容箱を提供する。例文帳に追加
To provide a microscope cover eliminating any necessity of darkening environment around the microscope even if performing a dark-field observation or a fluorescence observation; and to provide a microscope capable of storing the microscope cover, and a microscope cover storage box. - 特許庁
暗視野観察において、外径の小さい対物レンズが使用できる暗視野キューブ、およびそれを備えた顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a dark-field cube which can use an objective with a small external diameter for dark-field observation and a microscope equipped with the dark-field cube. - 特許庁
明視野・暗視野観察を容易に切替え可能で、かつシステム構成が簡便なX線顕微鏡及び顕微鏡の提供。例文帳に追加
To provide an X-ray microscope and a microscope capable of easily switching bright field/dark field observation and having simple system constitution. - 特許庁
フレアの発生を防止しながら明視野観察及び暗視野観察に使用可能な顕微鏡用対物レンズ、顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide an objective for a microscope which is usable for bright-field observation and dark-field observation while preventing a flare from being generated, and the microscope. - 特許庁
オプションの透過暗視野照明装置を顕微鏡に装着した状態でも、検鏡者が標本を取り扱い易い顕微鏡、透過暗視野照明装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a microscope and transmission dark field lighting system where an observer easily handles a sample even in the state where an optional transmission dark field lighting system is mounted to the microscope. - 特許庁
暗電流補正を確実に行うことができる撮像装置および電子内視鏡装置を提供すること。例文帳に追加
To provide an imaging apparatus and an electronic endoscope apparatus, capable of surely executing dark current correction. - 特許庁
薄暗い手術室内での取扱いに優れた超音波内視鏡用処置具を提供すること。例文帳に追加
To provide a treatment tool for an ultrasonic endoscope that is suited for handling it in a dimly-lit operating room. - 特許庁
経鼻内視鏡でモニタ画面が暗い等の制限を受けていた観察を良好に行う。例文帳に追加
To favorably perform a restricted observation such that a monitor screen is dark, with a transnasal endoscope. - 特許庁
本発明は、例えば、明視野照明及び暗視野照明の併用照明を行う顕微鏡に適用できる。例文帳に追加
Therefore, for example, the application to a microscope performing illumination for both bright-field illumination and dark-field illumination can be performed. - 特許庁
明視野光学系と暗視野光学系のいずれかにも切換えても均一な照明が得られる実体顕微鏡透過照明装置を得る。例文帳に追加
To provide a stereomicroscope transmission illuminating device capable of obtaining uniform illumination even if it is switched to a bright field optical system or a dark field optical system. - 特許庁
小型化を維持し、かつ、操作性を損なうことなく、明視野照明、暗視野照明および防眩照明の3種の状態に切り換えることができる顕微鏡の明暗視野切換装置を提供する。例文帳に追加
To provide a device of switching between bright and dark visual fields for microscope by which three kinds of conditions of bright visual field illumination, dark visual field illumination and dazzling preventing illumination can be switched without spoiling the operability while keeping miniaturization. - 特許庁
透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。例文帳に追加
To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area. - 特許庁
これにより、ディスプレイに表示された仮想化内視鏡画像には前記視点から遠いピクセルほど暗くなるように明暗が付けられた十分な奥行き感がある画像が表示される。例文帳に追加
Thus, an image to which light and darkness are attached so that the farther from the viewpoint a pixel is, it can be the darker and which has sufficient depth feeling is shown on a virtual endoscope image shown on the display 18. - 特許庁
励起波長と蛍光波長を素早く切り換え、1つの細胞やオルガネラを時間分解して計測し、容易に暗視野に切り換えられバックグランドの低い鮮明な画像が得られる暗視野落射顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide a dark visual field vertical illumination microscope which quickly changes-over excitation wavelength and fluorescent wavelength, measures one tissue or one organelle by time-resolving, can be easily changed-over to a dark field and can obtain a clear image with low back ground. - 特許庁
暗視野照明ミラー4の側部には、固定ねじ5が取り付けられ、暗視野照明ミラー4を光軸方向に行こう調整してから、固定ねじ5により鏡筒3と固定できるように構成されている。例文帳に追加
A fixing screw 5 is fitted to a side part of the dark-field lighting mirror 4 and the dark-field lighting mirror 4 is adjusted along the optical axis and then fixed to the lens barrel 3 with the fixing screw 5. - 特許庁
本発明の目的は、安価でかつ、もともと暗視野照明のための構成をもたない顕微鏡に後付けが可能な暗視野照明装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide a dark field illumination device to be post mounted to a microscope, which is low-cost and has no constitution for dark field illumination. - 特許庁
プロセッサ装置11との組み合わせが使用不可の電子内視鏡を接続した場合には、内視鏡画像とマスク画像とを合成した暗転画像がモニタ12に表示され、内視鏡画像が一切表示されないから、使用不可であると判る。例文帳に追加
In the case of connecting the electronic endoscope the combination of which and the processor 11 cannot be used, the blackout image constituted by combining the endoscope image and the mask image is displayed in the monitor 12, the endoscope image is not displayed at all; therefore, it is find out that the endoscope cannot be used. - 特許庁
(略語の)TDSは熱散漫散乱を表わし、そしてHAADF-STEMは高角度円環状暗視野 走査透過電子顕微鏡法を表わす。例文帳に追加
TDS stands for thermal diffuse scattering and HAADF-STEM (stands) for high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy. - 科学技術論文動詞集
環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加
INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
暗視野照明を簡単に得られるとともに、操作性に優れ、しかも省電力化を実現できる実体顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide a stereoscopic microscope which can easily obtain dark field illumination, exhibits excellent operability, and realizes power saving. - 特許庁
水分を検知したとき内視鏡20へ供給される照明光を減少することによりモニタ50に表示される被写体像が暗くなる。例文帳に追加
An image of a subject which is displayed on the monitor 50 becomes dark by attenuating the illumination light which is supplied to the endoscope 20 when the moisture is sensed. - 特許庁
簡単な構成で安価に製造でき、高い反射率でむらなく照明できる顕微鏡の暗視野照明装置を提供する。例文帳に追加
To provide a dark field illuminator for a microscope, which can be produced at low cost with simple constitution and evenly illuminate with high reflectance. - 特許庁
また、暗視野顕微鏡法を用いて、基板上に吐出された液滴中内の微粒子の個数を実時間で計測する。例文帳に追加
The number of the fine particles contained in the liquid droplets discharged to the substrate is measured, in real time, using a dark field microscopic method. - 特許庁
例えば、偏光観察から暗視野観察へ観察方法を切り替える場合、検鏡ブロック2を右方向へ移動させ、当接板8によってフィルタブロック5を検鏡ブロック2とともに右方向へ移動させ、暗視野観察用ミラーG2が光路L上に配置する。例文帳に追加
For instance, when the observation method is changed over from polarization observation to darkfield observation, the specular block 2 is moved to the right and the filter block 5 is moved to the right together with the specular block 2 by a contact plate 8, to arrange the darkfield observation mirror G2 on the optical path L. - 特許庁
デジタル顕微鏡1は、明視野照明光を供給するハーフミラー13と、暗視野照明光を供給するリングレンズ16と、操作部26での操作に応じて明視野照明光と暗視野照明光の混合割合を変える機構を備える。例文帳に追加
A digital microscope 1 comprises a half mirror 13 for providing bright field illumination, a ring lens 16 for providing dark field illumination and a mechanism for changing mixing ratio of bright field illumination and dark field illumination according to the operation at an operation part 26. - 特許庁
対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens. - 特許庁
対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens. - 特許庁
簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。例文帳に追加
To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy. - 特許庁
本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。例文帳に追加
To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope. - 特許庁
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加
In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加
The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14. - 特許庁
その際、CPUは前記内視鏡の視点からの距離に応じて、前記画像を構成するピクセルの表示時の明るさを、前記距離が大きいほど暗くなるように設定する。例文帳に追加
In such a case, the CPU 11 sets brightness when pixels constituting the image are shown so as to be darker as a distance becomes large in accordance with the distance from the viewpoint of the endoscope. - 特許庁
暗視野STEM,明視野STEM、或いはEELSの取り込み角(試料面上における散乱角)の任意設定を可能とする電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide an electron microscope capable of arbitrarily setting a dark-field STEM, a bright-field STEM or a capturing angle of an EELS (a diffusion angle on a sample face). - 特許庁
暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ明視野観察時にはケラレによる周辺減光を防止し、両者とも良好な観察像を得ることの出来る顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide a microscope capable of preventing flare during a dark-field observation, and preventing limb darkening due to vignetting during a bright-field observation, thereby obtaining good observation images during both observations. - 特許庁
暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ、明視野観察時には周辺減光を防止し、両観察とも良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加
To provide a microscope device that prevents a flare during a dark field observation, and also prevents limb darkening during a bright field observation, thereby obtaining superior observation images through both observation. - 特許庁
例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも2種の観察法を切り替え可能とすること。例文帳に追加
To enable switching of at least two of the observation methods in an optical microscope system for e.g. bright field observation, dark field observation, and differential interference observation. - 特許庁
意味 | 例文 (85件) |
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