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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 欠陥がないに関連した英語例文

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欠陥がないの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 4019



例文

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects. - 特許庁

恋人の欠陥が見えない例文帳に追加

blind to a lover's faults  - 日本語WordNet

不具合や欠陥がない状態例文帳に追加

the state of being without a flaw or defect  - 日本語WordNet

身体のどこにも欠陥がないこと例文帳に追加

the condition of having no physical defect  - EDR日英対訳辞書

例文

身体のどこにも欠陥がない例文帳に追加

free of physical defects  - EDR日英対訳辞書


例文

電気系統の欠陥に違いない例文帳に追加

It has to be an electrical fault.  - Weblio Email例文集

断面形状が一定の細長部材1の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。例文帳に追加

In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected. - 特許庁

石英ガラス材内部の欠陥検査方法および欠陥検査装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT INSIDE QUARTZ GLASS - 特許庁

第2の欠陥検出では、第2の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出で検出した擬似欠陥を用いて、第2の真のデバイス欠陥を分離して検出する。例文帳に追加

In the second defect detection, since detection is performed in the unseparated state between the second true device defect and a pseudo defect, the second true device defect is detected separately by using a pseudo defect detected by the pseudo defect detection. - 特許庁

例文

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報(欠陥個所、欠陥レベル)を順次メモリ空間ブロック10に格納していく。例文帳に追加

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10. - 特許庁

例文

そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン3の欠陥検査およびモニタパタン5の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン5の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン3の欠陥を修正する。例文帳に追加

The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected. - 特許庁

欠陥の無い部分がない場合は、欠陥の数が最も少ない位置を選択するか、欠陥が全て指定した領域内にある位置を選択する。例文帳に追加

When there are no parts without defects, positions with least defects are selected or positions at which defects are confined to a prescribed area are selected. - 特許庁

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューない欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、1台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。例文帳に追加

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices. - 特許庁

本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない例文帳に追加

To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected. - 特許庁

過去に実施された欠陥修正手法を含む複数の欠陥修正手法をデータベースに蓄積し、配線基板の検査対象箇所を撮影した欠陥画像と、欠陥ない参照画像とを照合して欠陥を検出する。例文帳に追加

A defect-correcting apparatus accumulates in a database many defect correction methods, including those implemented in the past and detects defects, by checking a defect image with captured locations being tested on a wiring board against a defect-free reference image. - 特許庁

欠陥リスト更新部122は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。例文帳に追加

The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list. - 特許庁

欠陥修正装置が備える欠陥検出部により多層基板における繰り返しパターン内の欠陥を検出し、欠陥検出部で検出された欠陥が層間ショート欠陥の発生が想定される領域に重なる場合、欠陥修正装置が備える制御部301により層間ショート欠陥用の欠陥修正手法に対応するオブジェクトを生成する。例文帳に追加

Defects in repetitive patterns in a multilayer substrate are detected by a defect detection part provided in the defect correcting device, and when the defects detected by the defect detection part overlap with a region where an occurrence of the interlayer short-circuit defect is assumed, a control part 301 provided in the defect correcting device generates an object corresponding to a defect correction technique for the interlayer short-circuit defect. - 特許庁

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って(S2)、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する(S3)。例文帳に追加

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3). - 特許庁

さらに、欠陥検出部202が、一旦、検出した欠陥について領域結合処理を行い、微小欠陥であっても、密集している場合には欠陥として検出し、欠陥データ105を生成する。例文帳に追加

Further, region combination is performed on once detected defects by a defect detecting part 202, and if the defects are close-packed, they are detected as defects even if the defects are minute, and defect data 105 is produced. - 特許庁

欠陥検出装置13aでは、信号レベルなどに基づき、欠陥候補部の抽出を行い、欠陥選択装置15aに対し、欠陥指示部信号レベル、指示部位置、欠陥指示長さなどの情報を伝送する。例文帳に追加

In the defect detecting apparatus 13a, the extraction of the candidate parts of the defect is performed on the basis of a signal level or the like and informations such as the signal level of defect indicating part, the position of the indicated part and the indicated length of the defect are transmitted to a defect selecting apparatus 15a. - 特許庁

付加セクタ群は、欠陥検出検査では、欠陥と判断されない欠陥が潜在していると予想されるセクタをカバーする。例文帳に追加

The additional sector group covers a sector not determined to be a defect but supposed to have a latent defect in a defect detecting inspection. - 特許庁

検査除外欠陥ない欠陥画像を選択し、これに基づいて画像を判別することによって全体の欠陥を検出する。例文帳に追加

A defect image being not an inspection excluding defect is selected, and the overall defect is detected by discriminating an image on the basis of this defect image. - 特許庁

ノイズ成分を抑制した2次電子画像を得て、高精度の欠陥検査を可能とする欠陥検査方法ない欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting defects capable of inspecting defects with high accuracy, by acquiring a secondary electron image with the noise components suppressed, and to provide a device for the method. - 特許庁

欠陥化した有機EL素子を含む画素(副画素)を点欠陥として視認できない画質を実現する。例文帳に追加

To achieve image quality that cannot visually recognize a pixel (sub-pixel) containing a defective organic EL element as a point defect. - 特許庁

同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、分極前に欠陥の位置を特定できない例文帳に追加

To identify the position of a defect before polarization when a defect is contained in the coaxial flexible piezoelectric body. - 特許庁

気泡性欠陥やフラックス性欠陥などが少ない高品質の鋳片を得る方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for obtaining a high quality slab having less foaming defects and flux-caused defects. - 特許庁

気泡性欠陥やフラックス性欠陥などが少ない高品質の鋳片を提供する。例文帳に追加

To provide a high quality slab having less foaming defects and flux-caused defects. - 特許庁

フラットパネルX線検出器の欠陥画像を正しく補正し、欠陥ない画像として表示する。例文帳に追加

To accurately correct the defective image of a flat-panel X-ray detector for displaying as image, without defects. - 特許庁

プロセス中で発生した欠陥と、疑似欠陥とを区別することができない例文帳に追加

To solve the problem wherein distinguishing of defects generated during a process cannot be made from pseudo defects. - 特許庁

まず、各製造工程においてTFT基板の欠陥検査を行い、欠陥画像及び欠陥画素の座標データを保存する。例文帳に追加

Defect inspection of a TFT substrate is performed first in each manufacturing stage and coordinate data on a defective image and a defective pixel are stored. - 特許庁

特に、本発明による分類方法を用いることにより、マイクロパイプ欠陥及び基底面内欠陥を他の欠陥から区別することが可能である。例文帳に追加

In particular, the micropipe defect and in-base-plane defect can be discriminated from other defects by using the classifying method. - 特許庁

画素内に発生する画素欠陥を容易に検出可能な表示装置、欠陥検出システム、および欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a display device, a defect detecting system, and a defect detecting method capable of easily detecting pixel defect generated on pixel. - 特許庁

次に、微小欠陥を除外する処理45を行い、欠陥解析の対象とする欠陥データを絞り込む。例文帳に追加

Next, processing 45 is performed for excluding fine defects to narrow down defect data as a target of defect analysis. - 特許庁

すなわち、ウェハ工程においてパターニング等によるストレスによって欠陥検査用配線20内に欠陥が発生すると、その欠陥が抵抗となって、欠陥検査用配線20の抵抗値が増大するため、欠陥検査用配線20内の欠陥を容易に、かつ、高感度に検出することができる。例文帳に追加

In other words, when a defect occurs in the wiring 20 due to stress such as patterning in a wafer process, the defect causes resistance for increasing the value of the resistance of the wiring 20, and the defect in the wiring 20 is easily and highly sensitively detected. - 特許庁

その反射型マスクが欠陥を有する場合、基板1上の凹凸に起因した反射型マスクの欠陥を含む欠陥領域の欠陥部を取り除き、欠陥領域を除いた欠陥を含まない平坦領域の正常部10と置き換える。例文帳に追加

When the reflective mask has defects, a defect part of a defect region comprising the defects of the reflective mask due to the irregularities on the substrate 1 is removed, and it is replaced with a normal part 10 of a flat region, from which the defect region is removed and which does not comprise the defects. - 特許庁

被検体内部の欠陥を定量的に表示することができる欠陥状態表示方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defective condition display method capable of quantitatively displaying defects inside a specimen. - 特許庁

欠陥同定ツールは、微小デバイス内の欠陥が生じ易い位置を予測する。例文帳に追加

The defect identification tool predicts locations at which defects in the microdevice are likely to occur. - 特許庁

被処理基板上に転写されたパターンの欠陥検査を行い、欠陥の画像データを生成する。例文帳に追加

A pattern imprinted on a substrate to be processed is inspected for defects to generate image data containing the defects. - 特許庁

選択された部分領域内の欠陥を撮像装置で撮像し、欠陥画像を取得する。例文帳に追加

The defect within the selected section area is picked up by the imaging device, and a defect image is acquired. - 特許庁

容易に画素内に発生するリーク欠陥を検出可能なリーク欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a leak defect detecting method capable of detecting easily the leakage defect generated inside a pixel. - 特許庁

画素の欠陥が目立たない画像表示装置を実現する。例文帳に追加

To provide an image display device whose pixel defect is inconspicuous. - 特許庁

実験方法に欠陥があるに違いない例文帳に追加

There must be a defect in the experimental method. - Tatoeba例文

実験方法に欠陥があるに違いない例文帳に追加

There must be a defect in the experimental method.  - Tanaka Corpus

彼の理論にはまったく欠陥が見当たらない.例文帳に追加

I can't find any holes in his theory.  - 研究社 新英和中辞典

彼は欠陥がないかどうか車を念入りに調べた.例文帳に追加

He inspected the car for defects.  - 研究社 新英和中辞典

彼はその製品に欠陥がないかどうかを調べた.例文帳に追加

He tested the product for defects.  - 研究社 新英和中辞典

彼らは欠陥がないかとその機械を調べた。例文帳に追加

They checked the machine for defects. - Tatoeba例文

車は欠陥がないか最低3ヵ月に1回検査される。例文帳に追加

The vehicles are inspected for defects at least every three months. - Tatoeba例文

彼の理論にはまったく欠陥が見当たらない例文帳に追加

I can't find any holes in his theory. - Tatoeba例文

例文

彼の理論にはまったく欠陥が見当たらない例文帳に追加

I can't find anything wrong with his theory. - Tatoeba例文

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