「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method in which the sideslip of an aircraft is measured by using an air data probe and an inertia reference unit.例文帳に追加

エアーデータプローブおよび慣性基準装置を用いて、航空機の横滑りを測定する方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING LIFT-OFF AMOUNT BETWEEN EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE AND INSPECTED OBJECT, AND EVALUATION DEVICE THEREFOR, EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTOR例文帳に追加

渦電流探傷プローブと被検査体のリフトオフ量評価方法及びその評価装置並びに渦電流探傷方法及び渦電流探傷装置 - 特許庁

To provide a method for detecting a mutation in exon 12 of NPM1 gene by specifying a probe effective for detecting the mutation in exon 12 of the NPM1 gene and to provide a kit for the method.例文帳に追加

NPM1遺伝子のexon12変異を検出するのに有効なプローブを特定し、NPM1遺伝子のexon12変異を検出する方法、およびそのためのキットを提供する。 - 特許庁

NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID FOR DETECTING CHLORINATED ETHYLENE-DECOMPOSING BACTERIUM, PROBE, METHOD OF DETECTING CHLORINATED ETHYLENE-DECOMPOSING BACTERIUM, AND METHOD OF DECOMPOSING CHLORINATED ETHYLENE OR ETHANE例文帳に追加

核酸、塩素化エチレン分解細菌検出用核酸、プローブ、塩素化エチレン分解細菌の検出方法および塩素化エチレンまたはエタンの分解方法 - 特許庁

To provide a probe unit capable of being aligned highly accurately with an electronic device which is an inspection object, its manufacturing method, and an inspection method of the electronic device.例文帳に追加

検査対象である電子デバイスと高精度に位置合わせできるプローブユニット及びその製造方法並びに電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

PROBE IMMOBILIZATION CARRIER WITH MANUFACTURING CONDITION AND ITS MANUFACTURING METHOD, DETECTION METHOD OF TARGET MATERIAL USING IT, AND DEVICE, KIT AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

製造条件付きプローブ固定担体及びその製造方法、それを用いた標的物質の検出方法ならびにそのための装置、キット及びシステム - 特許庁

To provide a method for measuring the acidity of slag in an on-line manner by using a simple-structure and low-cost probe without using a high-cost solid electrolyte, and an apparatus for this method.例文帳に追加

高価な固体電解質を用いず、構造が簡単で、安価なプローブを用いてスラグのオンライン測定ができる方法と装置を提供せんとする。 - 特許庁

NEW POLYNUCLEOTIDE, MARKER, PROBE AND PRIMER EACH FOR DETECTING PENICILLIUM MARNEFFEI AS PATHOGEN OF DEEP MYCOSIS USING THE SAME, METHOD FOR DETECTING THE PATHOGEN, AND KIT FOR THE METHOD例文帳に追加

新規ポリヌクレオチド、それを用いた深在性輸入真菌症原因菌ペニシリウム・マルネッフェイ（Ｐｅｎｉｃｉｌｌｉｕｍｍａｒｎｅｆｆｅｉ）の検出用マーカ、プローブ、プライマー、検出方法およびキット - 特許庁

NUCLEIC ACID, PROBE FOR DETECTING HALOGENATED DIOXIN-DEGRADATIVE MICROORGANISM, METHOD FOR DETECTING THE HALOGENATED DIOXIN-DEGRADATIVE MICROORGANISM, AND METHOD FOR DEGRADING HALOGENATED DIOXINS例文帳に追加

核酸、ハロゲン化ダイオキシン類分解微生物検出用プローブ、ハロゲン化ダイオキシン類分解微生物の検出方法並びにハロゲン化ダイオキシン類の分解方法 - 特許庁

ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE, INSPECTION CHIP, DETECTION SET, PROBE HOLDING SUBSTRATE AND ELECTRODE SUBSTRATE例文帳に追加

検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板 - 特許庁

NEW ELECTROCHEMICAL RESPONSE COMPOUND, METHOD FOR PRODUCING THE COMPOUND AND METHOD FOR DETECTING BOND BETWEEN TARGET SUBSTANCE AND PROBE MOLECULE USING THE SAME例文帳に追加

新規な電気化学応答性化合物およびその製造方法、ならびに該化合物を用いて標的物質とプローブ分子との結合の有無を検出する方法 - 特許庁

RADIOACTIVE PROBE FOR COUNTING LIVE CAMPYLOBACTER QUICKLY AND SPECIFICALLY BY METHOD OF CULTURE COMBINED WITH IN SITU HYBRIDIZATION, AND METHOD BY THE SAME例文帳に追加

培養併用ｉｎｓｉｔｕハイブリダイゼーション法により生きているカンピロバクター菌を迅速かつ特異的に計数するための遺伝子プローブ及びその方法 - 特許庁

NUCLEIC ACID FRAGMENT, NUCLEIC ACID FRAGMENT FOR DETECTING ANAMOX BACTERIUM, PRIMER, PROBE, METHOD FOR DETECTING ANAMOX BACTERIUM, AND METHOD FOR TREATING AMMONIACAL NITROGEN-CONTAINING WASTE FLUID例文帳に追加

核酸断片、アナモックス細菌検出用核酸断片、プライマー、プローブ、アナモックス細菌の検出方法、およびアンモニア性窒素含有排液の処理方法 - 特許庁

To provide a new method for assaying an enzyme involved in the first phase reaction of drug metabolism by PCR, especially establishing a real time detection method, and a probe and a primer pair therefor.例文帳に追加

薬物代謝の第I相反応に関与する酵素を定量する新しい測定技術およびそのためのプライマー対およびプローブを提供。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method for utilizing a gradient method and automatically measuring a sidewall.例文帳に追加

傾斜法を利用して側壁等を測定する方法で自動的な計測を行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a signal detecting probe having rod-shaped nanostructures adhering thereto, capable of manufacturing a probe for detecting a surface signal or a chemical signal by bonding the elongated rod-shaped nanostructures such as tungsten nanowires, carbon nanotubes, boron nanotubes and the like to the leading end of the probe.例文帳に追加

タングステンナノワイヤ、カーボンナノチューブ、ボロンナノチューブなどのような細長い棒形状のナノ構造物を先端に付着して表面信号や化学的信号を検出するプローブを製造できる、棒形状のナノ構造物を付着したプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe capable of accommodating for various kinds of measurement when being used in a microscope and applying to a recorder, and provide an optical head using the probe, and inexpensive, simple manufacturing method of the probe.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡などに用いられた場合に様々な測定に対応することができ、記録装置にも応用することができるプローブ及びそれを用いた光ヘッドを提供すること、及びこのようなプローブの安価で簡単な製造方法を提供することである。 - 特許庁

A method for detecting liquid level contact using a number of probes (1) includes detecting a liquid level in a container by capacitance change to stop downward movement of each probe, and changing start timing of upward movement of each probe in detecting movement away from the liquid level when each probe moves upward after its suction operation.例文帳に追加

プローブ（１）が複数であり、静電容量変化で容器中の試料液面を検出してプローブの下降動作を停止し、各プローブでの吸引動作後、各プローブを上昇する際、液面を離れることを検出するに当り、各プローブの上昇開始タイミングを変える。 - 特許庁

To provide a method and a device for probe, with which probing can be performed while exactly aligning the electrode of each of chips to be examined of a specimen and the probe needle of a probe card without being affected by an error when moving a stage or position deviation of electrodes of each of chips to be examined of the specimen.例文帳に追加

ステージの移動時における誤差や、被検体の各被検査チップの電極の位置ずれに影響されること無く、該被検体の各被検査チップの電極とプローブカードのプローブ針とを正確に位置合わせしてプロービングを行うことができるプローブ方法及びプローブ装置を提供すること。 - 特許庁

The position tracking method includes the reception of a signal from a main position converter located at the distal end of the medical probe via wiring reaching a connector located at the proximal end of the probe to be connected to a processor processing the signal and finding a first position of the distal end through the probe.例文帳に追加

位置追跡方法であって、医療用プローブの遠位端にある主位置変換器からの信号を、この信号を処理して遠位端の第１の位置を見出すプロセッサに接続するための、プローブの近位端にあるコネクタにプローブを通して達する配線を介して、受信することを含む。 - 特許庁

In this method for generating a probe tip of nanostructure for developing a carbon nanotube in a predetermined direction of the tip of one probe made of metal or silicon, the vicinity of the probe tip is constituted to have a surface selectively causing the development of the carbon nanotube in a normal direction.例文帳に追加

金属やシリコンで作製した１個の探針の先端の所定の方向にカーボンナノチューブを成長させるナノ構造物の探針先端生成方法であって、前記探針先端近傍が、選択的に法線方向にカーボンナノチューブの成長が生じる面を有するように構成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus for detecting poor probe needle pressure capable of detecting poor needle pressure of a probe needle easily and reducing time for analyzing the poorness, as well as a system for poor probe needle pressure and a method for producing the semiconductor apparatus.例文帳に追加

本発明は、プローブ針の針圧不良を容易に検出することができ、不良解析時間を短縮することができるプローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.例文帳に追加

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁

The error compensation method includes steps of: providing the measuring device equipped with a probe and a guide; measuring and compensating a straightness error of the guide; carrying out a fitting of mounting tilt angle of the probe, a step which calculates a shape error of the probe; and forming a systematic error compensation program.例文帳に追加

前記誤差補正方法は、プローブ及びガイドを備える測定装置を提供するステップと、ガイドの真直度誤差を測定して補正するステップと、プローブの取付傾斜角をフィッティングするステップと、プローブの形状誤差を計算するステップと、系統誤差補正プログラムを生成するステップと、を含む。 - 特許庁

To provide a noncontact-type array probe, capable of transmitting and receiving ultrasonic waves to and from an inspection target, without contact and capable of detecting flaws, without having to change the direction of the probe, regardless of the change of shape of the inspection target, and to provide an ultrasonic flaw detecting apparatus and an ultrasonic flaw detection method that uses the noncontact-type array probe.例文帳に追加

検査対象物に対して非接触で超音波を送受信することができ、検査対象物の形状変化にかかわらず、探触子の向きを変えることなく探傷が可能な非接触式アレイ探触子とこれを用いた超音波探傷装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The probe method consists of three processes, one in which the electrode pad P of a wafer W is subjected to a reduction process using a foaming gas, another in which the electrode pad P and a probe 144 are put in contact, and a third in which the electrode pad P and the probe 144 are put in electric continuity using fritting phenomenon.例文帳に追加

本発明のプローブ方法は、フォーミングガスを用いてウエハＷの電極パッドＰを還元処理する工程と、電極パッドＰとプローブ１４４を接触させる工程と、フリッティング現象を利用して電極パッドＰとプローブ１４４を電気的に導通させる工程とを備えている。 - 特許庁

To solve the problem wherein a position can be measured only once by operation for inserting a sensor probe into a pipeline and pulling out the sensor probe from the pipeline since position measurement is performed only when inserting the sensor probe toward a target position from the inlet/outlet of the pipeline in a conventional pipeline position measurement method.例文帳に追加

従来の管路位置計測方法は、管路の出入口から目的位置に向けてセンサプローブを挿入するときにのみ位置計測を行うので、前記管路に前記センサプローブを挿入し、前記管路から前記センサプローブを引き抜くという操作で、１回の位置計測しか実施できない。 - 特許庁

To provide a profile measuring device and a method for controlling profile measuring device capable of constantly controlling contact load imposed on a contact probe with high accuracy based on actual measurement values of the contact load imposed on the contact probe and of displacement of the contact probe.例文帳に追加

本発明は、接触式プローブに加わる接触荷重と変位との実測値に基づいて、接触式プローブに加わる接触荷重を高精度に一定に制御することを可能とした形状測定装置及び形状測定装置の制御方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

This method has characteristics wherein the probe is installed in a plasma generation device, and the probe is irradiated with plasma with a gas pressure of 30-100 Pa, a plasma output of 10-20W, and an irradiation time of 10-30 min. at the plasma irradiation time, to thereby remove the adhering contaminant on the tip and the side face of the probe.例文帳に追加

本発明は、プラズマ発生装置内にプローブを設置し、プラズマ照射時のガス圧３０〜１００Ｐａ、プラズマ出力１０〜２０Ｗ、照射時間１０〜３０分で該プローブにプラズマを照射して、該プローブ先端と側面の付着汚染物質を除去することに特徴がある。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing of a diamond probe which is excellent in abrasion resistance and mechanical strength in the correcting of a photomask, has a sharp tip and a longer life than a probe with a protrusion alone composed of diamond and a lever composed of a material other than diamond, or a probe coated with diamond.例文帳に追加

フォトマスク修正における耐磨耗性、機械的強度に優れ、突起のみがダイヤモンドでレバー部はダイヤモンド以外の材料のプローブや、ダイヤモンドでコーティングされたプローブに比べて高寿命であり、かつ先端が先鋭なダイヤモンドプローブの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electrical circuit checking microprobe which ensures a good electrical contact between a surface electrode of a wiring board and a probe pin of a probe board and deals with a fine pitch regardless of parallelism between a surface of the checked wiring board and a surface of the probe board.例文帳に追加

検査対象の配線基板表面とプローブ基板表面の平行度に拘わらず、配線基板の表面電極とプローブ基板のプローブピンとの良好な電気接触を確保し、微細なピッチに対応した電気回路検査用マイクロプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

In the probe carrier, different sorts of probes capable of being coupled peculiarly with a target substance are arranged, and the carrier is equipped with a distinguishing means to confirm the orientation of probe arrangement, and the invention further includes a manufacturing method for such a probe carrier and a method to confirm the orientation of probe arrangement on the carrier by sensing the distinguishing means.例文帳に追加

標的物質と特異的に結合可能な複数種のプローブを担体に配列したプローブ担体であって、前記配列方向を確認するための識別手段を設けたプローブ担体、並びに、前記並列方向を確認するための識別手段が設けられた前記プローブ担体の製造方法、および前記識別手段を検出等することによる、前記プローブ担体上の前記配列方向を確認する方法。 - 特許庁

To provide a fluorescent sugar-chain probe usable for a method for readily and inexpensively measuring interaction of a virus and/or a toxin with a sugar chain in high sensitivity, to provide a method for producing the probe, and to provide a method for detecting the virus and/or the toxin specifically binding with the specified sugar chain.例文帳に追加

ウイルス及び／又は毒素と糖鎖の相互作用を高感度に簡便かつ安価に測定する方法に用いる蛍光性糖鎖プローブ、その製造方法、及び、特定の糖鎖に特異的に結合するウイルス及び／又は毒素の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compound-type ultrasonic probe capable of executing high-accuracy flaw detection of a thick-walled structure, and shortening the time required for flaw detection in ultrasonic flaw detection by TOFD (time-of-flight diffraction) method, and to provide an ultrasonic flaw detection method by the TOFD method that uses the probe.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、厚肉構造物の探傷を高精度で実行できると共に、探傷に要する時間の短縮ができる、複合型超音波探触子及びそれを用いたＴＯＦＤ法による超音波探傷法を提供すること。 - 特許庁

In this case, a scanning method determining part 76 determines a scanning method (moving scanning and rotary scanning) of the ultrasonic probe, and the three-dimensional image corresponding to the determined scanning method is constituted.例文帳に追加

その場合、走査方式判定部７６が超音波探触子の走査方式（移動走査、回転走査）を判定し、その判定された走査方式に対応した三次元画像が構成される。 - 特許庁

DIRECT TYPE ELECTROMAGNETIC ULTRASONIC WAVE TRANSMISSION METHOD, RECEPTION METHOD, MEASURING METHOD AND DEVICE, AND PROBE例文帳に追加

直接型電磁超音波送信方法、直接型電磁超音波受信方法、直接型電磁超音波測定方法、直接型電磁超音波探触子及び直接型電磁超音波測定装置 - 特許庁

NUCLEOTIDE ARRAY CHIP NOT CAUSING NONSPECIFIC ADSORPTION ON SOLID PHASE SURFACE, HYBRIDIZATION DETECTION METHOD, METHOD FOR ESTIMATING INTERCALATOR BOND WEIGHT, AND METHOD FOR FIXING PROBE DNA例文帳に追加

固相表面に非特異的吸着が発生しないヌクレオチドアレイチップ、ハイブリダイゼーション検出方法、並びにインターカレーターの結合重量の予測方法とプローブＤＮＡの固定方法 - 特許庁

CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, MASS SENSOR DEVICE, ELASTIC MEASURING DEVICE, MANIPULATION DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD OF CANTILEVER, EXCITATION METHOD OF CANTILEVER, AND DEFORMATION METHOD OF CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバー、カンチレバーシステム、走査型プローブ顕微鏡、質量センサ装置、弾性計測装置及びマニピュレーション装置並びにカンチレバーの変位測定方法、カンチレバーの加振方法及びカンチレバーの変形方法 - 特許庁

A first direct projection method measurement, a second direct projection method measurement and a transmission method measurement are executed by using the ultrasonic probe, and evaluation of the defect is executed based on the results.例文帳に追加

そして、この超音波プローブを用いて、第１の直射法測定と第２の直射法測定と透過法測定とを行い、これらの結果に基づいて欠陥の評価を行う。 - 特許庁

To provide a probe unit which can be aligned with respect to an electronic device being an object for inspection with high accuracy, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

検査対象である電子デバイスと高精度に位置合わせできるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for easily manufacturing an external spring probe which can be handled in a single state of not being fixed in a socket.例文帳に追加

ソケットに固定しない単独状態で取り扱うことが可能な外ばねプローブを容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a near field optical probe for enhancing light transmission efficiency of the core and its manufacturing method.例文帳に追加

本発明は、コアの光透過効率を向上する近接場光プローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect amendment method and a defect amendment apparatus for carrying out amendment using the circumferential face of a coating probe.例文帳に追加

塗布針の周面を利用して修正を行えるような欠陥修正方法および欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for electrical inspection which has excellent mass productivity, for realizing conductor patterns with high density and accuracy.例文帳に追加

高密度で高精度の導体パターンを実現でき、量産性に優れた電気検査用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for searching for a nucleic acid sequence required for designing a probe or a primer in order to adequately find out the nucleic acid sequence by utilizing the whole object sequence.例文帳に追加

対象配列全体を利用して、プローブやプライマーを設計するために必要な核酸配列を適切に見出す。 - 特許庁