「common test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

It is possible to test a plurality of the memories in parallel by supplying the test address information from the common test bus to a plurality of the memories in parallel.例文帳に追加

複数のメモリに共通テストバスから並列にテストアドレス情報を供給して並列テスト可能になる。 - 特許庁

Therefore, a common test pattern can be used in order to test a regular memory cell and a parity memory cell, and the test cost can be reduced.例文帳に追加

このため、レギュラーメモリセルおよびパリティメモリセルを試験するために共通の試験パターンを使用でき、試験コストを削減できる。 - 特許庁

To obtain a general-purpose test tube holder adaptable to various test tubes having different outer diameters in common.例文帳に追加

異なる外径を有する複数種の試験管に共通に適用可能な汎用タイプの試験管ホルダーを提供。 - 特許庁

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

To use test results obtained by the execution of device test programs for controlling each of test heads and the changed contents of the programs for these device test programs in common.例文帳に追加

それぞれのテストヘッドを制御するデバイステストプログラムの実行によって得られた試験結果やプログラムの変更内容をデバイステストプログラム間で共通に利用することができるようにする。 - 特許庁

To provide a general-purpose test tube holder which is applicable in common to a plurality of kinds of test tubes with different outer diameters.例文帳に追加

異なる外径を有する複数種の試験管に対し共通に適用可能な汎用タイプの試験管ホルダーを提供。 - 特許庁

Hereby, preparation of an exclusive horn antenna is not required for each test, and the pyramid horn 22 can be used in common for each test.例文帳に追加

このため、各試験毎に専用のホーンアンテナを準備する必要がなく、角錐ホーン２２を各試験で共用できる。 - 特許庁

The test terminal and the control terminal are combined as one common terminal KP.例文帳に追加

そして、テスト端子と制御端子とを１つの共通端子ＫＰに共通化した。 - 特許庁

To reflect efficiently to a common storage device, test information updated by a control device unconnected to the common storage device.例文帳に追加

共有記憶装置と非接続の制御装置により更新された試験情報を効率的に共有記憶装置に反映する。 - 特許庁

The common control part 28 is connected with an integrated test jig 10 by serial communications, and a test of the PDS control part is performed via the common control part 28 and the conversion circuit 24, while a test of the Ethernet interface section is performed via the common control part 28.例文帳に追加

共通制御部２８と統合検査治具１０とをシリアル通信で接続し、共通制御部２８及び変換回路部２４を介してＰＤＳ制御部の検査を行なうとともに、共通制御部２８を介してイーサインタフェース部の検査を行なう。 - 特許庁

A conversion circuit part 24 is provided between the test mode circuit 23 and the common control part 28.例文帳に追加

テストモード回路部２３と共通制御部２８との間に変換回路部２４を設ける。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁

Accordingly, the test terminal, a rest terminal and a test mode control terminal become common, and the number of terminals can be reduced largely.例文帳に追加

従って、テスト端子とリセット端子とテストモード制御端子が共通になり、端子の数を大幅に削減することが可能である。 - 特許庁

To put it concretely, a common region only for test circuit for conducting the test on a plurality of chips is formed on the wafer, and test circuits are removed from the respective chips 112.例文帳に追加

ウェハ１１１上のチップ１１２を接続できる配線と、その配線を電気的に遮断できる構成を持ち、全てのチップを一度にテストできる構成とする。 - 特許庁

In the case of executing the complied test program, a tester control part 110 executes the common program linked by the intermediate code independently of the test program, and even when the content of the common program are changed, the changed contents are reflected on the test program in common.例文帳に追加

テスタ制御部１１０はコンパイルされたテストプログラムを実行する際に、中間コードによってリンクされている共通プログラムをテストプログラムとは独立して実行し、共通プログラムの内容が変更された場合でもその変更内容が、テストプログラムに共通に反映されるようにする。 - 特許庁

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.例文帳に追加

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁

The components of the self-test circuit 10 are integrated on a common integrated circuit chip 20.例文帳に追加

自己検査回路１０の構成部品は、共通の集積回路チップ２０上に集積されている。 - 特許庁

The plural kinds of test elements are formed in a structure that common parts, such as using a same diffusion layer or the like, can be combined so that the plural test elements can be combined into one test element.例文帳に追加

すなわち、各種テスト素子について、同一拡散層を使用している等の共通化できる箇所を組み合わせる構造にして、複数のテスト素子をひとつのテスト素子にする。 - 特許庁

To provide a specific structure of a combined degradation accelerator used in common for weather resistance and corrosion resistance test or for heat resistance and water resistance test.例文帳に追加

耐候耐食性試験や耐熱耐水性試験に共通して利用し得る複合劣化促進装置の具体的な構成を提供する。 - 特許庁

The power supply line 9 connected to the zero-phase current transformer 2 is also used in common with a test circuit 10 connected to the zero-phase current transformer 2 for shielding test.例文帳に追加

零相変流器２に通す電源線９を、遮断テストをする為に零相変流器２に通したテスト回路１０と共用させた。 - 特許庁

To attain the function verification of a logic circuit and the test of a semiconductor device specialized in a stack failure test by using common hardware.例文帳に追加

共通のハードウェアを用いて論理回路の機能検証とスタック故障テストに特化した半導体デバイスのテストとが行えるようにすること。 - 特許庁

This work carry-in/out device is provided with a work carriage taking in/out device 22 arranged in a side of the test machine, and a common carriage 23 arranged between the device 22 and the test machine and reciprocated by a common carriage moving device 24.例文帳に追加

試験機の側方に配置されるワーク台車出し入れ装置22と、装置22と試験機との間に配置されて共通台車移動装置24により往復移動される共通台車23とを具備する。 - 特許庁

The pattern 50 belongs to the same net with test lands 44 and 46, and common electric signals flow through it.例文帳に追加

パターン部５０はテストランド４４，４６と同一ネットに属しており、共通の電気信号が流れる。 - 特許庁

To substantially simultaneously generate a digital control trigger and an analog control trigger from a common input test signal.例文帳に追加

共通の入力試験信号からデジタル制御トリガ及びアナログ制御トリガを略同時に発生する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.例文帳に追加

異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁

The automated test equipment (ATE) 100 comprises a plurality of hardware components, and at least two among them provide a common test feature.例文帳に追加

自動試験装置（ＡＴＥ）（１００）は、少なくともその中の２つが共通試験機能を提供する複数のハードウェアコンポーネント（１０２〜１０８）を有している。 - 特許庁

To shorten a test time by efficiently executing pre-processing and post-processing procedures which are common between test cases to be executed continuously.例文帳に追加

連続して実行されるテストケース間で共通の事前処理手順及び事後処理手順の実行を効率化することで、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a single test equipment that can realize normality test of a plurality of functions with a small circuit scale where components are shared in common.例文帳に追加

複数の機能の正常性試験を、単一の試験装置内で素子を共有化し、小規模な回路構成で実現可能な手段を提供する。 - 特許庁

As a result, when the test timing information of the external pin without signal variation can be made identical to test timing information of other function pattern, test timing information can be carried out in common, so that periods necessary for the LSI test can be reduced.例文帳に追加

したがって、信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンのテストタイミング情報と同じにすることができる場合には、テストタイミング情報を共通にすることができ、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することができる。 - 特許庁

To provide a channel test system which can be used in common despite of an encoding system with simple constitution.例文帳に追加

符号化方式にかかわらず共通に用いることができるチャネルチェックテストシステムを簡易な構成で提供する。 - 特許庁

Clocks of the SDRAM and the ASIC are integrated to one by enabling a test by a common internal clock.例文帳に追加

共通の内部クロックによるテストを可能にすることによって、ＳＤＲＡＭとＡＳＩＣのクロックを１つに統合する。 - 特許庁

A plurality of test systems B2 to B4 and a common-use measuring part B5 are connected to a network B1.例文帳に追加

複数の試験システムＢ２乃至Ｂ４と、共用測定部Ｂ５とが、ネットワークＢ１により接続され制御される。 - 特許庁

For example, a pattern generator PG produces a common test patten S_PTN to the plurality of DUT 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に対して共通のテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

To provide a common output setting circuit of an LCD driver to easily set a common output state in a short time according to a test, and a setting method therefor.例文帳に追加

短時間で容易に試験に応じたコモン出力状態を設定することのできるＬＣＤドライバのコモン出力設定回路及び設定方法を提供する。 - 特許庁

The switching circuit couples the test currents with the reference currents, and thereby realizes a differential swing comparison mode and a common mode comparison mode necessary for the test of a differential signal.例文帳に追加

スイッチング回路は、試験電流と基準電流を結合し、それにより差動信号の試験に必要な差動揺れ比較モードおよびコモンモード比較モードを実現している。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁

To test whether or not a common component is appropriately used without using a method such as a source review and a debugger.例文帳に追加

ソースレビューやデバッカ等の方法を用いることなく、適切に共通部品が使用されているか否かをテストすること。 - 特許庁

A common electrode in a cardiac catheter is simultaneously used to test pacing capture and to deliver ablation energy.例文帳に追加

心臓カテーテル内の共通電極を同時に使用して、ペーシング捕捉を検査し、かつ、切除エネルギーの送達を行なう。 - 特許庁

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12.例文帳に追加

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。 - 特許庁

In the dispensation of the test sample, the pump aspirates the test sample in the total amount of the common dummy amount and the dispensation amount set on the sample dispensation conditioning screen 43, and then delivers the test sample of the aspirated dispensation amount.例文帳に追加

また、被検試料の分注では、共通ダミー量及びサンプル分注条件設定画面４３に設定された分注量を総和した量の被検試料を吸引した後、吸引した分注量の被検試料を吐出する。 - 特許庁

At least one chip out of the first and the second chips receives an input voltage through the common input/output pad and includes a high voltage generator that generates a test voltage in response to test mode signals between test operating modes.例文帳に追加

第１及び第２のチップのうち少なくとも一つは、共通入／出力パッドを通じて入力電圧を受け入れ、テスト動作モード間テストモード信号に応答してテスト電圧を発生する高電圧発生器を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced.例文帳に追加

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The second detecting means 1, 2 detect the common mode voltage produced in a measured cable 20A of the kind same as the test cable 20.例文帳に追加

第２の検出手段１，２は、試験ケーブル２０と同種の被測定ケーブル２０Ａで発生するコモンモード電圧を検出する。 - 特許庁

An individual test pattern preparing means 11 prepares a pin information table 15 on the basis of LSI pin assign information 1 and adds pattern data having a pattern in regard to a no-pattern logic pin to a common test pattern 2 for preparing an individual test pattern 7.例文帳に追加

個別テストパターン作成手段１１は、ＬＳＩピンアサイン情報１に基づいてピン情報テーブル１５を作成し、パターンなし論理ピンに対するパターンを有するパターンデータを共通テストパターン２に対し追加して個別テストパターン７を作成する。 - 特許庁