「equipment manufacturing failure」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a method and a system for diagnosing a failure of production equipment capable of automatically diagnosing a failure even in the case of manufacturing various kinds of industrial products.例文帳に追加

多品種工業製品を製造する場合であっても、故障診断を自動的に対応出来る生産装置の故障診断方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To reduce the molding failure of a disk substrate to the utmost and to reduce the equipment investment of a disk manufacturing system, in the disk manufacturing system for manufacturing an optical disk by a continuous or successive processing system.例文帳に追加

連続・逐次処理方式で光ディスクを製造するディスク製造システムにおいて、ディスク基板の成形不良を可及的に低減可能であるとともに、ディスク製造システムの設備投資を削減できるようにすること。 - 特許庁

To provide a hot-rolling line on which new equipment such as an edge reduction press device, for example, can be installed without bringing about failure in operation and large plant and equipment investment by dissolving restriction of the distance between pieces of equipment in a hot-rolling line for manufacturing hot-rolled steel by hot-rolling a heated slab.例文帳に追加

加熱した鋼片を熱間圧延して熱延鋼材を製造する熱間圧延ラインにおいて、設備間距離の制約を解消して、操業上の不具合や多額の設備投資を招くことなく、例えば幅圧下プレス装置等の新たな設備を設置することができる熱間圧延ラインを提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive quality control system for a manufacturing line which realizes measurement of the operation condition of manufacturing equipment thereby facilitating detection of a step where defect occurs in a product and facilitating pursuit of failure of equipment causing the defect and which enables Ethernet (R) to be used.例文帳に追加

製造装置の稼動状態の測定が可能で、製品不良の発生した工程の発見や、不良原因となった装置不具合の追求が容易かつ、イーサネット（登録商標）の使用が可能で安価な製造ラインの品質管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device with improved yield by preventing luminescence failure and a narrow light emitting area of a luminous layer due to a short circuit, and to provide an manufacturing method for the electrooptical device and electronic equipment.例文帳に追加

短絡による発光層の発光不良や発光領域が狭くなるのを抑制し、歩留まりの向上を図った電気光学装置、電気光学装置の製造方法および電子機器を提供すること。 - 特許庁

To contribute to the stable operation of a semiconductor manufacturing line and the quality improvement of its products, by suppressing metal corrosion caused by the transmitting atmosphere of chemicals having high metal corrosiveness, and by suppressing the failure of equipment caused by the corrosion, and further, by protecting the products from pollution caused by metal impurities.例文帳に追加

金属腐食性が高い薬液の透過雰囲気による金属腐食、腐食による設備故障の抑止、及び金属不純物汚染から製品を守り、半導体製造ライン及び品質向上の安定稼動に寄与する。 - 特許庁

To provide a wiping device capable of only wiping a nozzle surface of a functional droplet discharge head with discharge failure, a droplet discharge device, a manufacturing method for an electro-optical device, an electro-optical device, and electronic equipment.例文帳に追加

吐出不良の機能液滴吐出ヘッドのノズル面のみをワイピングすることができるワイピング装置、液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a maintenance service support system that can increase the reliability of a food manufacturing plant and to reduce maintenance check costs by appropriately and quickly providing a plant user with an analysis of a factor in equipment failure found during a maintenance check of food manufacturing plant equipment and a corrective action on the factor.例文帳に追加

食品製造プラント設備の保守点検時に発見された設備異常の要因分析と上記要因の是正措置を適切、且つ迅速にプラント使用者に対して提供することによって、食品製造プラントの信頼性向上と、保守点検コストの低減を可能とする保守業務支援システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for confirming an ion implantation status in which ununiformity of ion implantation caused by malfunctions of equipment during the ion implantation, or the like is detected in a early stage and without any difficulty to permit the quality stabilization of a product and the reduction of the failure period thereof; and a method for manufacturing a semiconductor wafer utilizing the same.例文帳に追加

イオン注入時の装置上の不具合などによるイオン注入の不均一性を早期に、かつ、容易に発見し、製品の品質安定化、故障期間の短縮化を図ることができるイオン注入状況の確認方法とそれを利用した半導体ウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a structure for connecting IC chips by which a failure caused by the swelling of the IC chip can be prevented at the time of mounting the chip on a flexible substrate, and to provide a thermocompression bonding device, a method of manufacturing an electrooptic device, an electrooptic device, and electronic equipment.例文帳に追加

可撓性基板にＩＣチップを実装する際のＩＣチップの膨張に起因する不具合を確実に防止可能なＩＣチップの接続方法、ＩＣチップの接続構造、熱圧着装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a square-shaped wire and an apparatus therefor in which there is no loss in a manufacturing process completely, a long wire/super fine wire can be manufactured, the cost is reduced, the equipment is simple without failure, there is no noise, various sizes are allowed and dielectric breakdown does not occur in using for a covered wire of an enamel wire, etc.例文帳に追加

製造過程におけるロスが全くなく、長尺線、超極細線の製造を可能として、コストも低廉なもので済み、設備が簡易で故障等もなく、加えて騒音もなく、多様なサイズに対応でき、エナメル線等の被覆線に実施しても絶縁破壊をすることもない角型線の製造方法及びその装置とする。 - 特許庁