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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > heating microscopeに関連した英語例文

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heating microscopeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28



例文

HEATING DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用加温装置 - 特許庁

MICROSCOPE SLIDE HEATING SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡スライド加熱システム - 特許庁

SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料加熱装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE HEATING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および試料の加熱方法 - 特許庁

例文

OBSERVATION PLATE AND HEATING APPARATUS FOR MICROSCOPE例文帳に追加

観察用プレート及び顕微鏡用加熱装置 - 特許庁


例文

SAMPLE HEATING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用試料加熱ホルダ及び試料観察方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of restraining a temperature rise in a scanner due to heating of a heating holder.例文帳に追加

加熱ホルダの加熱によるスキャナの温度上昇を抑えることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To make a diaphragm plate replaceable without exposing the inside of a microscope body to the air and enable heating of the diaphragm plate at a position different from the position of the microscope body.例文帳に追加

鏡体内を大気開放することなしに絞り板を交換するとともに、鏡体部とは異なる位置にて絞り板を加熱することを可能とする。 - 特許庁

例文

In the heating stage 1 for the microscope with an applying function which is installed and used under an objective lens of a microscope, the heating stage 1 comprises at least ink applying mechanisms 4 and 4', and a heating mechanism 2.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ1において、前記塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ1は、少なくとも、インキ塗布機構4,4’と、加熱機構2と、からなることを特徴とする。 - 特許庁

例文

HEATING STAGE FOR MICROSCOPE WITH APPLYING FUNCTION, AND METHOD FOR ANALYZING INK APPLYING FILM FORMATION PROCESS USING THE SAME例文帳に追加

塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、及びそれを用いたインキ塗膜形成過程の解析方法 - 特許庁

To provide a heating device that can automatically stain or treat a plurality of tissue samples placed each on a microscope slide (37).例文帳に追加

顕微鏡スライド(37)上に載せた複数の組織サンプルを自動的に染色または処理するための装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that prevents a sample such as pathological tissue to be photographed with a microscope from being damaged by heating from a surface light source using many light emitting diodes, and that can obtain a clear and precise photographing image.例文帳に追加

顕微鏡撮影を行う病理組織等の標本が、多数の発光ダイオードを用いた面光源の発熱によって損傷されるおそれがなく、明瞭且つ高精度な撮影画像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁

To provide a heating device for a microscope by which the temperature of a transparent plate for heating on which an inspection sample is placed or a transparent plate for protection are always kept at a specified temperature, whose temperature disribution is uniform, and which can be made thinner.例文帳に追加

従来の顕微鏡用加温装置は検体を載せる発熱用透明板または保護用透明板が常に所望の温度に保つのが難しく、またその温度分布が不均一になりがちである。 - 特許庁

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

To provide an electron microscope of which, the problem of deterioration of vacuum in a mirror body caused by gas, and drift of sample resulting from the elongation of a heater by heating, which occurs in real-time observation of a reaction process of the sample with the gas in heating are solved, capable of observing with high resolution.例文帳に追加

電子顕微鏡で試料の加熱時のガスとの反応過程をリアルタイムで観察する際に起こる、ガスによる鏡体内の真空の悪化や、加熱によるヒーターの伸びからくる試料ドリフトを解決し、高分解能観察を可能にする。 - 特許庁

To save power and prevent wasteful heating while maintaining a high-quality observation state by performing an optimum restoration operation based on a restoration timing of a non-operation part in a microscope system.例文帳に追加

顕微鏡システムにおける非稼動部位の復帰タイミングに着目し、最適な復帰動作を行うことで、質の高い観察状態を維持しつつ省電力と無駄な発熱を回避する。 - 特許庁

To provide a microchip and a microchip energization unit capable of heating a sample surely up to a prescribed temperature, and observing the sample in a recessed part for analysis by a microscope.例文帳に追加

試料を確実に所定の温度に加温できて、しかも分析用凹部内の試料を顕微鏡によって観察することが可能なマイクロチップ、マイクロチップ通電ユニットを提供する。 - 特許庁

A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.例文帳に追加

試料を上方から観察する光学顕微鏡1の載置台上に配置された熱処理ユニット4内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁

The sample observation method using the electron microscope includes a fixing process for placing the sample 1 on a sample stand 2 and heating the metal joining material 3 while subjecting the same to ultrasonic vibration not only to join and fix the sample 1 and the sample stand 2 but also to electrically connect both of them and the sample 1 is observed using the electron microscope as it remains fixed on the sample stand 2.例文帳に追加

試料台2上に試料1を載置し、金属接合材3を超音波振動させながら加熱することで試料1と試料台2とを金属接合材3により接合して固定すると共に電気的に接続する固定工程を備え、試料台2上に試料1を固定した状態で電子顕微鏡を用いた観察を行う。 - 特許庁

To provide a grid for a transmission electron microscope capable of heating a sample of powder of the like at several hundred degrees C or higher in the degree of vacuum in the range of 10^-2-10^-3 Pa, and a grid holder capable of preventing pollution or damage of the grid.例文帳に追加

粉末などの試料に10^−2〜10^−3Pa程度の真空度で数100℃以上の加熱を行える透過型電子顕微鏡用グリッドと、グリッドの汚染や破損を防止できるグリッドホルダーを提供する。 - 特許庁

As to this heating device 1 for the microscope; the end parts of a pair of electrodes 7 and 7 extend in a direction where they come closer to each other so that a current rapidly starts flowing in a transparent conductive film 6 existing in the opposed area of the electrodes when the electrodes 7 and 7 are energized.例文帳に追加

顕微鏡用加温装置1では、一対の電極7,7の一端部は互いに近づく方向へ延びているので、電極7,7に通電すると、その対向領域にある透明導電膜6に速やかに電流が流れる。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample room for sample placement accommodating a heating system to be able to heat the internal space of the sample room including the samples for observation.例文帳に追加

本発明は上記目的を達成するために、観察対象試料を配置するための試料室を備えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含む試料室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for efficiently cleaning a desired cleaning spot on the inner surface of a vacuum device without giving damage to the inner surface of a vacuum chamber nor heating resin components disposed outside the vacuum chamber more than required, with respect to the vacuum device represented by an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡などに代表される真空装置に対して、真空チャンバ内面にダメージを与えず、また真空装置外部に配置された樹脂部品を必要以上に加熱せず、真空装置内面のクリーニングしたい箇所を効率的にクリーニングする方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron emitting cathode, capable of attaining a high luminance due to low electron affinity while sufficiently ensuring heat radiation performance, and reducing the energy width by reducing heating temperature, to provide an electron microscope, and to provide an electron beam exposing machine provided with the electron emitting cathode.例文帳に追加

放熱性を十分に確保しつつ、電子親和力が低いことにより、高輝度を達成するとともに加熱温度を抑えてエネルギー幅を抑制することが可能な電子放射陰極、当該電子放射陰極を備えた電子顕微鏡および電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

例文

This new method for forming a MOS structure having a GaAs base 140 includes the steps of ion implanting after formation of an oxide and thereafter performing slow heating and cooling operations, in such a manner that an interface defect detectable by a high-resolution transmission electron microscope essentially will not be generated.例文帳に追加

GaAsを基本とするMOS構造を形成する新しい方法は、酸化物形成後のイオン注入及び高分解透過電子顕微鏡によって検出できる界面欠陥が本質的に形成されないように行われるその後のゆっくりした加熱及び冷却を含む。 - 特許庁




  
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