「reflected x-rays」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Shaped X-rays S are allowed to be incident very closely to the surface of the measuring sample, and the reflected X-rays from the surface of the measuring sample are measured by the reflected X-ray measuring means 6.例文帳に追加

整形されたＸ線Ｓを前記測定試料の表面にすれすれに入射させ、前記測定試料表面よりの反射Ｘ線を前記反射Ｘ線測定手段６により測定する。 - 特許庁

The X rays 22 are reflected by the parabolic multilayer film mirror 24 to become parallel beams 26.例文帳に追加

このＸ線２２は放物面多層膜ミラー２４で反射して平行ビーム２６となる。 - 特許庁

The sample is the thin film formed on the sample and the scattered X rays attenuated by the attenuation mechanism 7 are mirror surface reflected X rays.例文帳に追加

前記試料は、基板上に形成された薄膜であり、前記減衰機構７で減衰させる散乱Ｘ線は、鏡面反射Ｘ線である。 - 特許庁

A sample 26 is irradiated with parallel beam X-rays 24 and the diffracted X-rays 28 from the sample 26 are reflected by a mirror 18 to be detected by an X-ray detector 20.例文帳に追加

平行ビームのＸ線２４を試料２６に照射して、試料２６からの回折Ｘ線２８をミラー１８で反射させてからＸ線検出器２０で検出する。 - 特許庁

An X-ray detector for irradiating the surface of a sample with X-rays to detect reflected X-rays from the surface of the sample at a predetermined angle position is fixedly provided.例文帳に追加

試料面にＸ線を照射し、該試料面から反射してくる反射Ｘ線を所定の角度位置で検出するように前記Ｘ線検出器を固定する。 - 特許庁

X rays are irradiated to a flocculate thus obtained at an angle causing them to be totally reflected, and the radiated X rays are detected to perform total reflection fluorescent X-ray analysis (S105).例文帳に追加

この凝集物にＸ線を全反射する角度で照射し、放射Ｘ線を検知することにより、全反射蛍光Ｘ線分析を行う（Ｓ１０５）。 - 特許庁

The white X rays are applied to the sample 2 at an incident angle ranging from 0 to 1° in a step of 0.1°, the illuminated X rays are totally reflected, and the reflection factor of the intensity of the reflected X rays is measured by a silicon drift detector 9 to measure an energy distribution.例文帳に追加

試料２に白色Ｘ線を入射角が０から１°まで、０.１°ステップで入射し、照射されたＸ線を全反射させ、反射Ｘ線の強度をシリコンドリフト検出器９で反射率を測定してエネルギー分布を測定する。 - 特許庁

The X-rays reflected by the film thickness monitoring area reaches from an aperture of a film deposition chamber 10 to an X-ray detector 28.例文帳に追加

この膜厚モニタ領域で反射されたＸ線は成膜室１０の窓からＸ線検出器２８に到達する。 - 特許庁

The X-rays reflected by the base 31 are detected through the X-ray exit window 33.例文帳に追加

そして、薄膜形成サンプル基板３１にて反射してきたＸ線をＸ線取出窓３３を透して検出する。 - 特許庁

The respective parametric X-rays are extracted by being reflected selectively by reflection monocrystals 3, 5, 7, 9, 10 for X-ray selection.例文帳に追加

それぞれのパラメトリックＸ線を、Ｘ線選択用の反射単結晶３、５、７、９、10で選択的に反射させて取り出す。 - 特許庁

To provide an X-ray detecting device with high picture quality, wherein an influence of reflected X rays from a reverse surface of an X-ray detecting element is suppressed.例文帳に追加

Ｘ線検出素子の裏面からの反射Ｘ線による影響が抑えられた高画質のＸ線検出装置を提供することにある。 - 特許庁

In the crystal azimuth detecting method of a silicon ingot, an X-ray receiving region 28 is covered with a mask 38 and a first reflected light path 26-1 is allowed to receive more X-rays than a third reflected light path 26-3.例文帳に追加

Ｘ線の受光領域（２８）にマスク（３８）を被せて、第１の反射光路（２６−１）を第３の反射光路（２６−３）よりも多く受光させる。 - 特許庁

Incident X-rays 203 of Kα of copper Cu from an X-ray tube 201 are passed through a slit 202, a reflected by a crystal surface (r) of a lumbered quartz crystal 220 at a point of incidence 204, and enter a scintillation counter 214 which is an X-ray detecting part as reflected X-rays 213.例文帳に追加

Ｘ線管２０１からの銅ＣｕのＫαの入射Ｘ線２０３はスリット２０２を通り入射点２０４でランバード加工水晶２２０である水晶ｒ面で反射し、反射Ｘ線２１３として、Ｘ線検出部であるシンチレーションカウンタ２１４にはいる。 - 特許庁

To provide an X-ray detecting device of high picture quality, where an influence of reflected X rays from a backside of a wiring board for X-ray detecting element mounting is suppressed.例文帳に追加

Ｘ線検出素子搭載用配線基板の裏面からの反射Ｘ線による影響が抑えられた高画質のＸ線検出装置を提供することにある。 - 特許庁

The X-ray generator generates X-rays by incident or reflected electron beams radiated from an electron source to a target (1).例文帳に追加

Ｘ線発生装置は、電子源から照射される電子ビームをターゲット(1) に入射しまたは反射させることによりＸ線を発生させる。 - 特許庁

These soft X-rays 10 are reflected by a multilayer film revolution parabolic mirror 11 to be radiated outside as soft X-ray parallel light fluxes 12.例文帳に追加

この軟Ｘ線１０は、多層膜回転放物面鏡１１で反射され、軟Ｘ線平行光束１２となって外部に放出される。 - 特許庁

The interlayer conductor layer 6 and interlayer connecting conductor 8 block reflected X-rays to suppress an influence thereof.例文帳に追加

層間導体層６および層間接続導体８により反射Ｘ線を遮蔽して影響を抑えることができる。 - 特許庁

The relative positional relation of a plurality of the flat reflecting surfaces and the X-ray detector 20 is determined so that the reflected X-rays reflected by the different flat reflecting surfaces respectively arrive at the different points of the X-ray detector 20.例文帳に追加

異なる平坦反射面で反射した反射Ｘ線が、Ｘ線検出器２０の異なる地点にそれぞれ到達するように、複数の平坦反射面とＸ線検出器２０との相対位置関係が定められている。 - 特許庁

In the reflected X-ray small angle scattering device for irradiating the sample 5 on a substrate with X rays at a fine angle and measuring X rays scattered from the sample using a two-dimensional detector 6, an attenuation mechanism 7 for attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of the detector 6.例文帳に追加

基板上の試料５に対してＸ線を微小角度で照射し、前記試料から散乱されるＸ線を２次元型の検出器６を用いて測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、前記検出器６面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させる減衰機構７を設ける。 - 特許庁

X-rays discharged from a micro region regarded substantially as a point on a sample are made parallel by a multi-capillary X-ray lens, and are dispersed and reflected by first and second parallel dispersive crystals 51 and 52 arranged in parallel with each other, thereby always making outgoing X-rays 55 parallel with incoming X-rays 54.例文帳に追加

試料上のほぼ点とみなせる微小領域から放出されるＸ線をマルチキャピラリＸ線レンズで平行化し、互いに平行に配置した第１及び第２平板分光結晶５１，５２で分光及び反射させることにより、出射Ｘ線５５が常に入射Ｘ線５４に平行になるようにする。 - 特許庁

In parallel with this operation, scattered rays by one kind or a plurality of kinds of fluorescent X-rays B2 which are generated from a part on the mask 3 or by primary X-rays B1 which are reflected by the mask 3 are detected through a diaphragm hole 14A for visual-field restriction.例文帳に追加

これと並行して、マスク３上の一部分から発生する１種もしくは複数の蛍光Ｘ線Ｂ２、またはマスク３により反射された１次Ｘ線Ｂ１の散乱線を視野制限用の絞り孔１４Ａを通して検出する。 - 特許庁

Incidence X rays 103 of copper Cuα1 (1.5374 Å) from an X-ray tube 101 pass through a slit 102 and is reflected from a crystal r surface that is an artificial crystal ingot 105 at an incidence point 104, and enters an X-ray detection section 112 as reflection X-rays 111.例文帳に追加

Ｘ線管１０１からの銅Ｃｕα_１（１．５３７４Å）の入射Ｘ線１０３はスリット１０２を通り入射点１０４で人工水晶インゴット１０５である水晶ｒ面で反射し、反射Ｘ線１１１として、Ｘ線検出部１１２に入る。 - 特許庁

By using a detector 15 and a detector 16, diffracted X-rays 14D and specularly reflected X-rays 14R of the sample 14 in which a thin film is formed on a crystal substrate and those of the sample after the removal of the thin film are detected.例文帳に追加

検出器１５，１６は、結晶基板上に薄膜が形成された前記試料と前記薄膜を除去した後の前記試料の回折Ｘ線１４Ｄおよび鏡面反射Ｘ線１４Ｒを検出する。 - 特許庁

A substrate 1 is made flat, and a multilayer film 2 on which exposed wavelength X-rays are reflected with high reflectivity is formed on the surface.例文帳に追加

基板１は平板で、その表面に、露光する波長のＸ線を高い反射率で反射する多層膜２が形成されている。 - 特許庁

In the X-ray contracted projection/exposure by scanning exposure, parallel rays are reflected with a reflex integrator 5 having a plurality of cylindrical surfaces, and the parallel rays are further reflected with a concave reflecting mirror to perform Kohler illumination on an arcuate area in a mask.例文帳に追加

スキャン露光によるＸ線縮小投影露光において、複数の円筒面をもつ反射型インテグレータ５で平行光を反射し、更に凹面反射鏡で反射してマスクの円弧状の領域をケーラー照明する。 - 特許庁

This constitution permits the efficient survey of the observation part of the sample based on a wide view by the reflected X-rays from the oblique incidence reflecting mirror 8, and the minute observation of the sample based on the image of high magnification by the reflected X-rays from the oblique incidence reflecting mirror 7.例文帳に追加

これにより、斜入射反射鏡８からの反射Ｘ線による広視野な像に基づく試料の観察部位の効率的な探査と、斜入射反射鏡７からの反射Ｘ線による高倍率の像に基づく試料の微細観察とが可能となる。 - 特許庁

For example, X-rays incident from an X-ray generator 10 are split on its wavefront by an X-ray prism 12, and one of the beams is irradiated directly to the sample 14, and its reflected beam is detected with a detector 16.例文帳に追加

例えば、Ｘ線発生装置１０から入射されるＸ線をＸ線プリズム１２によって波面分割し、一方の光束はそのまま試料１４に当て反射光を検出器１６で検出する。 - 特許庁

An X-ray generator which generates plasma and takes out X-rays radiated from the plasm has a means for generating the plasma and a plurality of reflected optical systems guiding the X-rays through different optical paths.例文帳に追加

プラズマを生成し、当該プラズマから放射されるＸ線を取り出すＸ線発生装置であって、前記プラズマを生成する手段と、前記Ｘ線を異なる光路で導光する複数の反射光学系とを有することを特徴とするＸ線発生装置を提供する。 - 特許庁

The X-ray reflectivity measuring apparatus has a sample loading stand 4 to load a measuring sample plate 3, a swivel mechanism 5 loading the sample loading stand 4 while tilting it, and a reflected X-ray measuring means 6 for measuring reflected X-rays from the surface of the measuring sample on the measuring sample plate 3.例文帳に追加

測定試料板３を搭載する試料搭載台４と、該試料搭載台４を搭載し該試料搭載台を傾動するスイベル機構５と、前記測定試料板３の測定試料の表面よりの反射Ｘ線を測定する反射Ｘ線測定手段６とを有する。 - 特許庁

This detector array is equipped with a 1st structure for detecting X-rays reflected from surface of the sample at a grazing angle, and the 2nd structure for detecting X-rays diffracted from the surface near the Bragg angle of the sample.例文帳に追加

この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したＸ線を検出器アレイが検知する第１の構造と、サンプルのＢｒａｇｇ角の近傍において、表面から回折したＸ線を検出器アレイが検知する第２の構造と、を具備している。 - 特許庁

Subsequently, the angle ϕ of rotation of the sample is set to an arbitrary angle ϕn of rotation and the flapping angle ωof the sample is adjusted to measure the flapping angle ωn at a time when the X-ray detector detects reflected X-rays.例文帳に追加

次いで、試料の回転角φを任意の回転角φｎに設定し、試料のあおり角ωを調整してＸ線検出器が反射Ｘ線を検出したときのあおり角ωｎを測定する。 - 特許庁

Then, the relative positional relation between the mirror 18 and the X-ray detector 20 is determined so that the reflected X-rays from a plurality of the different points on the reflecting surface of the mirror 18 respectively arrive at a plurality of the different points of the X-ray detector 20.例文帳に追加

そして、ミラー１８の反射面上の複数の異なる地点からの反射Ｘ線が、Ｘ線検出器２０の複数の異なる地点にそれぞれ到達するように、ミラー１８とＸ線検出器２０との相対位置関係が定められている。 - 特許庁

This X-ray wavefront sensor includes a wavefront-splitting element for splitting incident X-rays into a plurality of light beams, and a measuring instrument which applies the beams to different areas of a sample and causes the reflected beams to interact with one another, to detect them.例文帳に追加

Ｘ線波面センサは、入射されるＸ線を複数の光束に分割する波面分割素子と、各光束を試料の異なる領域に照射し、それぞれの反射光を干渉させて検出する計測器とを備える。 - 特許庁

The X rays 28-1 generated in the insertion light source 22 is emitted from the accelerator 21 and is reflected at an angle θ2 which is different from that of the laser light going along a light path 30 by the asymmetrical mirror 29.例文帳に追加

挿入光源２２で発生したＸ線２８−１は加速器２１から出射して非対称ミラー２９で光路３０を進むレーザ光とは異なる角度θ２で反射する。 - 特許庁

The panel supporter 70 of the X-ray detector is formed with a radiation-absorbing material for reducing X-rays reflected from the back of a scintillator 58, where the panel supporter 70, an electronic apparatus 72, and the geometrical shape of the back cover 56 of the X-ray detector 30 are included.例文帳に追加

Ｘ線検出器パネル支持体７０は、シンチレータ５８背後からのＸ線反射を低減する放射線吸収材料で形成され、このシンチレータ背後には、パネル支持体７０、電子機器７２及びＸ線検出器３０のバックカバー５６の幾何学形状が含まれることになる。 - 特許庁

X rays are incident on the substrate in which dopants are injected to a depth of several tens of nanometers, while incident angle is scanned, the interference vibration curve of the X rays reflected by a sample to be measured is measured and the depth distribution of the dopant injected in the sample to be measured is measured from the data of the interference vibration curve.例文帳に追加

数十nmの深さに不純物を注入した基板に、入射角度を走査しながらＸ線を入射し、被測定試料によって反射されたＸ線の干渉振動曲線を測定し、干渉振動曲線のデータから、被測定試料に注入された不純物元素の深さ分布を測定する。 - 特許庁

At the same time, an X-ray irradiation region A is shielded by the shielding blades 22, which cannot be seen directly from the inlet 15, 16, and the X-rays, reflected by the irradiation position A, are thereby prevented from leaking to the outside from the inlet 15 and the outlet 16.例文帳に追加

同時に遮蔽用羽根２２により、入口１５、１６から見てＸ線の照射領域Ａが見通せない用遮蔽されており、照射位置Ａで反射したＸ線が入口１５、出口１６から外部漏洩することを防止する。 - 特許庁

The ion injection device injecting impure ions into a silicon wafer 2 has a platen 1 supporting the wafer 2, a goniometer moving the platen 1, an X-ray irradiation mechanism 3 irradiating X-rays to the wafer 2 supported by the platen 1, and a scintillation counter 6 detecting a reflected X-ray 5 which is an X-ray 4 irradiated from the mechanism 3 and reflected from the wafer 2.例文帳に追加

本発明に係るイオン注入装置は、シリコンウェーハ２に不純物イオンを注入する装置において、前記ウェーハ２を保持するプラテン１と、プラテン１を動かすゴニオメータと、プラテン１に保持された前記ウェーハ２にＸ線を照射するＸ線照射機構３と、機構３によって照射されたＸ線４が前記ウェーハ２で反射する反射Ｘ線５を検出するシンチュレーションカウンター６と、を具備する。 - 特許庁

X rays emitted from the radiation source impinge on the reflection mirror via the interval, and are totally reflected by the reflection mirror and overlap each other for irradiation as the flux.例文帳に追加

前記線源から射出されたＸ線が前記間隙を介して前記反射ミラーに入射し、前記反射ミラーでそれぞれ全反射して互いに重畳することにより、前記フラックスとして照射される。 - 特許庁

To permit highly accurate measurement of the shape of a reflection surface or the like of a non-spherical mirror and a reflected wave front of the non-spherical mirror having a multilayer film for reflecting X rays formed on the surface.例文帳に追加

非球面ミラーの反射面形状等、表面にＸ線を反射させる多層膜を形成した非球面ミラーの反射波面等を高精度に計測することができる干渉計を提供する。 - 特許庁

The arithmetic operation of noise equivalent NEXD, NEYD and NEZD is performed from tristimulus values B_X, Y and Z of the reflected rays of light of a visible camera 6, tristimulus values X, Y and Z at a signal side and tristimulus values X_N, Y_N and Z_N of a noise.例文帳に追加

可視カメラ６の反射光の三刺激値Ｂ_X 、_Y 、_Z 、信号側の三刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚと、ノイズの三刺激値Ｘ_N 、Ｙ_N 、Ｚ_N とからノイズ等価ＮＥＸＤ、ＮＥＹＤ、ＮＥＺＤを演算する。 - 特許庁

The reflected X-ray measuring means 6 is moved along the track obtained by setting an emitted X-ray vector in the same direction as the incident vector of incident X-rays to a reference point (zero point) to rotate the same centering around the normal line T from the center of the surface of the measuring sample to detect the diffracted light from the surface of the sample.例文帳に追加

入射Ｘ線の入射ベクトルと同方向の射出Ｘ線ベクトルを基準点（０点）として、前記測定試料表面の中心からの法線Ｔの周りに前記射出ベクトルを回転して得た軌跡に沿って、前記反射Ｘ線測定手段６を移動し、試料表面からの回折光を検出する。 - 特許庁

In this sample analyzer 1, since the reflectivity of the X rays or neutron beam reflected from the sample 12 is measured and the transmissivity of the X rays or neutron beam transmitted through the sample 12 measured as measuring data, the number of the measuring data is increased and the presicion of the structure parameter led out by residual root sum.例文帳に追加

このような試料分析装置１によれば、測定データとして、試料１２を反射したＸ線あるいは中性子線の反射率が測定されると共に、試料１２を透過したＸ線あるいは中性子線の透過率が測定されるので、測定データの数が増加し、残差二乗和によって導出される構造パラメータの精度が向上する。 - 特許庁

The interior of the low pressure gas filled chamber 2 and the interior of the intermediate chamber 3 communicate mutually via a first slit 11a through which the X-rays incident to and reflected from the reflective mask 4 can pass.例文帳に追加

低圧ガス充満室２の内部と中間室３の内部とは、反射型マスク４に入射されると共に反射されるＸ線を通過可能な第１のスリット部１１ａを介して互いに連通している。 - 特許庁

The shielding portion 11 is constituted of a recessed part 11a and a projected part 11b of a truncated cone shape, and light emitted from the light-emitting element 20 is reflected by the shielding portion 11 and led out to the outside, thereby, leakage of X-rays can be prevented excellently and visible light can be extracted to the outside excellently.例文帳に追加

遮蔽部１１を円錐台形状の凹部１１ａと凸部１１ｂとから構成し、発光素子２０から発せられる光を遮蔽部１１で反射し、外部に導出させることにより、Ｘ線の漏洩を良好に防ぎ、更に良好に可視光を外部に取り出すことができる。 - 特許庁