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scanning microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2150件
To provide a laser scanning microscope apparatus which facilitates the setting of an observation range, to provide a control method of the laser scanning microscope and to provide a control program for the laser scanning microscope.例文帳に追加
観察範囲の設定を容易にする、レーザ走査型顕微鏡装置、その制御方法、及びその制御プログラムを提供する。 - 特許庁
METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND D/A CONVERTER例文帳に追加
走査形プローブ顕微鏡及びＤ／Ａコンバータ - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
STAGE POSITION MEASURING DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡のステージ位置測定装置 - 特許庁
BEAM SHAPING OPTICAL SYSTEM AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
ビーム整形光学系および走査型顕微鏡 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNER DRIVE UNIT例文帳に追加
レーザ走査型顕微鏡およびスキャナ駆動装置 - 特許庁
PROBE CONTROL METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法 - 特許庁
LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁
TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁
SCANNING ELECTROMAGNETIC WAVE MICROSCOPE AND CONTROL METHOD例文帳に追加
走査型電磁波顕微鏡および制御方法 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR IMAGE FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE METHOD例文帳に追加
走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び試料作成方法 - 特許庁
SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE AND CONFOCAL PINHOLE ADJUSTING METHOD FOR THE SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法 - 特許庁
SCANNING OPTICAL MICROSCOPE AND OPTICAL PATH SWITCHING DEVICE APPLIED TO SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡及び走査型光学顕微鏡に適用される光路切り換え装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁
TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁
PROBE CLEANING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ型顕微鏡の探針洗浄方法 - 特許庁
CANTILEVER PROBE STRUCTURE, AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁
PROBE EVALUATING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
探針評価法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び基板検査方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加
ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
REMOVAL METHOD FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法 - 特許庁
SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
SHADING CORRECTION METHOD FOR SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法 - 特許庁
LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁
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