「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

Particularly, a preferable example is the powder having rare earth elements (Sc, Y can be treated as rare earth elements)on the particle surfaces, such as having an average long axis length of 10-200 nm when measured in the image photographed by using transmission electron microscope and a specific surface area of 30-200 m^2/g by the BET method.例文帳に追加

特に、粒子表面に希土類元素（Ｓｃ、Ｙも希土類元素として扱う）を有するものが挙げられ、透過型電子顕微鏡写真より計測される平均長軸長が１０〜２００ｎｍ、ＢＥＴ法による比表面積が３０〜２００ｍ^2／ｇであるものが好適な対象となる。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

In this microscope imaging device and a dimension measuring instrument, a retreating area is provided in each of the plurality of imaging devices, a stoke is provided to move the each imaging head to a position of a measuring point for a measured object, and the imaging head is covered with the residual imaging head when troubled or brought into under a non-operational condition.例文帳に追加

複数の撮像装置それぞれについて退避エリアを設け、かつ、それぞれの撮像ヘッドが、被測定対象物の測定ポイントの位置に移動可能なストロークを持たせ、撮像ヘッドが故障または非稼動状態である場合には、残りの撮像へッドでカバーすることが可能な顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置。 - 特許庁

To provide a medical navigation system eliminating the fear that the position of a surgical microscope becomes undetectable because of an operator's movement during a surgical operation, and permitting a stable surgical operation by preventing the operator's movement from being limited and the surgical operation from being interrupted.例文帳に追加

本発明は、手術中の術者の動きなどによって手術用顕微鏡の位置検出が不能になるおそれがなく、術者の動きが制限されたり、手術が中断されることを防止して安定した手術を行うことができる医療用ナビゲーションシステムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

An image means 11 photographs an inspection surface including the deformed layer of a worked surface 201 of a metallic worked member 20, for instance, a grain boundary microscope image of a surface 202, the image signal of the imaging means 11 is subjected to AD conversion, and an image vectorizing means 14 converts the image signal subjected to AD conversion into a vector image.例文帳に追加

金属加工品２０の加工面２０１の加工変質層を含む検査面、例えば、２０２面の粒界顕微鏡像を、撮像手段１１により撮影し、撮像手段１１の画像信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換された画像信号を画像のクトル化手段１４により、ベクトル画像に変換する。 - 特許庁

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means.例文帳に追加

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

In the atomic force microscope, the cantilever control device 1 is constituted of: the cantilever 10 having the probe 12; an actuator 20 for causing the self-oscillation of the cantilever 10; an oscillation speed detector 30 for detecting the oscillation speed of the cantilever 10; a displacement calculator 32 for calculating the oscillation displacement of the cantilever 10 and a controller 40 for forming a signal for driving the actuator 20.例文帳に追加

原子間力顕微鏡において、探針１２を有するカンチレバー１０と、カンチレバー１０を自励振動させるアクチュエータ２０と、カンチレバー１０の振動速度を検出する振動速度検出器３０と、カンチレバー１０の振動変位を算出する変位算出器３２と、アクチュエータ２０を駆動するための信号を生成する制御器４０とから、カンチレバー制御装置１を構成し、フィードバック制御信号Ｓを（Ｋ−Ｇ・ｘ^2）・ｄｘ／ｄｔとする。 - 特許庁

The charged particle beam microscope acquires a plurality of frame images by scanning the field of view of the sample (S304, 305), adds the images together (S307), computes the dimensions of the pattern formed on the sample (308), and at the same time acquires pattern information (314) using a separated image (309, 310) composed of a single frame image comprising a frame image, a subframe image, and the like.例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡において、試料の観察視野を走査して得られたフレーム画像を複数枚取得し（Ｓ３０４、Ｓ３０５）、それらの画像を積算し（Ｓ３０７）、試料上に形成されたパターンの寸法を算出（Ｓ３０８）すると共に、フレーム画像を構成する１フレーム画像またはサブフレーム画像等からなる分別画像（Ｓ３０９，Ｓ３１０）を用いてパターン情報を取得する（Ｓ３１４）。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample which can form at once a large quantity of thin piece samples for a crystal defect observing transmission electron microscope in the silicon crystal and which can be simply manufactured in a wide area and to provide the thin piece sample.例文帳に追加

シリコン結晶中の結晶欠陥観察用透過型電子顕微鏡用の薄片試料を、一度に大量に作成することができるとともに簡便に広い面積で作製することを可能とした試料作製方法及び薄片試料を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of optimally and accurately removing static electricity in a short time and measuring and inspecting samples by stable operation without having to interrupt the approximation of a probe even if the samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、短時間で最適にかつ正確に除電し、探針の接近を中断することなく、安定した動作で測定・検査を行える走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A size of a magnetic aggregate present in the magnetic layer is 0.5 μm or higher, and the number of magnetic aggregates having magnetic intensity larger by 20 times or more than an average value of magnetization disturbance obtained from a magnetic force image by a magnetic force microscope is 100/2000 μm^2.例文帳に追加

前記磁性層中に存在する磁気凝集体の大きさが0.5μm以上であり、かつ磁気力顕微鏡による磁気力像から得られた磁化乱れの平均値の２０倍以上の磁気強度を有する前記磁気凝集体の個数が100個/2000μm^2以下である。 - 特許庁

To provide an electron microscope device in which analysis of spacial configuration is made possible by applying a CT method (computerized tomography method) without segmentizing the test piece and application of the CT method is possible in a general case.例文帳に追加

ＣＴ法を応用することにより試料を切片化することなしに立体構造の解析を可能とし、電子顕微鏡装置に特有の問題を解決して、一般的なケースにおいてＣＴ法の応用が可能である電子顕微鏡装置を提供する - 特許庁

This method is constituted so as to laminate the observation sample 4 by using an existing FIB (focused ion beam) device, and to perform an extracting and sticking work of the laminated sample 4 by using an optical microscope having an existing micromanipulator equipped with an electrostatic pincette 10.例文帳に追加

この発明は、既存のＦＩＢ装置を用いて観察用試料４の薄片化加工を行い、静電ピンセット１０を装備した既存のマイクロマニピュレータ付きの光学顕微鏡を用いて、薄片化試料４の摘出と貼り付け作業を行うように構成される。 - 特許庁

A microscope for magnifying a sample image by an optical system provided in a body 2 is provided on the back-face when a surface opposed to an observer faces forward during use, and is equipped with a grip 3 located above a center of gravity of the body.例文帳に追加

本体２に設けた光学系によって標本の像を拡大して観察する顕微鏡は、使用の際に観察者と対向する面を正面とするときの背面側に設けられ、本体の重心よりも上方に位置する取っ手３を備えている。 - 特許庁

A β-type iron silicate has a fluorine content of 400 ppm or less relative to the dry weight and has all or part of iron contained in a β-skeleton structure, provided that crystalline particles of the β-type iron silicate have a dual truncated quadrangle pyramid under a scanning electron microscope.例文帳に追加

乾燥重量に対するフッ素の含有率が４００ｐｐｍ以下、走査型電子顕微鏡観察において結晶粒子が双四角錐台形状である鉄の全部又は一部をβ骨格構造中に含有するβ型鉄シリケートを用いる。 - 特許庁

The photosensitive resin composition has a sea-island structure comprising sea and island parts in which two phases different from each other in horizontal force are present in cross-section observation with a horizontal force microscope (LFM) and ≥60% of the island part has ≤4 μm2 average domain area.例文帳に追加

水平力顕微鏡（ＬＦＭ）で断面観察した場合、水平力の異なる相が二相存在する、海部分と島部分とからなる海島構造であり、前記島部分の６０％以上がドメイン平均面積を４μｍ^2以下とする感光性樹脂組成物。 - 特許庁

The colloidal silica produced using activated silicic acid as a raw material in the presence of potassium ions contains potassium ions and contains a group of nonspherical deformed silica particles having a major to minor axis ratio of 1.2-10 as observed with a transmission electron microscope.例文帳に追加

カリウムイオンの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、カリウムイオンを含有し且つ透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

To provide a dicing machine having a shield plate for shielding water splash or mist between a machining part and a microscope; the shield plate not obstructing in exchanging a rotary blade, even if the machine is a twin dicer having two opposed spindles.例文帳に追加

加工部と顕微鏡との間で水しぶきやミストを遮蔽する遮蔽板を有するダイシングマシンにおいて、該ダイシングマシンが２本のスピンドルを対向配置したツインダイサであっても、回転刃の交換時に前記遮蔽板が邪魔にならないダイシングマシンを提供すること。 - 特許庁

To provide a culture board for microscope observation which can culture an organism specimen and is less deteriorated in imaging performance in observing the organism specimen and to provide an observation method suitable for observation of the organism specimen by using this culture board.例文帳に追加

生物標本を観察する際に、生物標本を培養することができ結像性能の劣化が少ない顕微鏡観察用培養基板を提供すると共に、その培養基板を用いて生物標本の観察に適した観察方法を提供する - 特許庁

To arbitrarily control relative directions between an axis of a probe and an axis of a carbon nanotube being set at the head of a scanning probe microscope or held by a handling equipment such as carbon nanotube tweezers or the like, in order to improve its durability and precision and stability of measurements.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡先端のカーボンナノチューブや、カーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器に把持されたカーボンナノチューブについて、プローブの軸とカーボンナノチューブの軸の相対方向を任意に制御し、測定の精度、安定性、耐久性等を向上させる。 - 特許庁

By overlapping an image A of an optical microscope 2 for observing the package 1 and that B of an X-ray fluoroscope 3 for observing the package 1 through using an image processor 4 to display their images on a monitor system 5, a region required for seal breaking can be determined.例文帳に追加

パッケージ１を観察する光学顕微鏡２の画像Ａと、パッケージ１を観察するＸ線透過装置３の画像Ｂとを、画像処理装置４によって重ね合わせしてモニター装置５に表示し、開封処理に要求される領域を確認できる。 - 特許庁

To provide a wafer-working method/apparatus for efficiently working a wafer, by measuring a surface shape by an inter-atom force microscope, without having to clean the wafer polished by CMP and cleaning the wafer.例文帳に追加

本発明は、ＣＭＰで研磨されたウェーハを、洗浄することなく原子間力顕微鏡で表面形状を測定し、この後にウェーハを洗浄することにより、効率よくウェーハを加工することができるウェーハ加工方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce a drop in output power in a positive-dispersion element used as a pulse compressor, thus improving multiphoton-excitation efficiency, to reduce the size of the positive-dispersion element to make it easier to attach it to a microscope main body and to accommodate it therein, thus improving maneuverability.例文帳に追加

パルス圧縮器として使用される正分散素子における出力減衰を低減して、多光子励起効率を向上するとともに、正分散素子のサイズを低減して、顕微鏡本体への取り付けや収納を容易にすることができ、取り回しを容易にする。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope using a plurality of scanning optical systems, and capable of preventing the same area from being irradiated simultaneously with laser light beams emitted from respective scanning optical systems, even when areas to be scanned by the scanning optical systems overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用し、各走査光学系の走査領域が重なり合うような場合でも、各走査光学系からのレーザ光が同時に同じ領域を照射しないようにすることが可能な走査型レーザ光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A first verification execution part 34 causes a microscope image of the piece determined to be defective at the inspection device 6 to be displayed in parallel with an inspection device image, and causes a quality determination result made by an inspector to be stored as a first verification result in a storage part 31.例文帳に追加

第１のベリファイ実行部３４は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第１のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which forms an enlarged image of almost the same magnification on a monitor screen before and after switching-over when supplying to the monitor a high resolution TV camera output signal replaced with a wide view TV camera output signal.例文帳に追加

広視野ＴＶカメラの出力信号に代わって高分解能ＴＶカメラの出力信号をモニターへ切替えて供給しても、その切替えの前後において、モニター画面上の試料拡大像倍率がほぼ同じになるような電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

When recording an observation image, a camera control unit 13 displays on a monitor 24 input fields and display fields for selecting items of information depending on the purpose of use of a microscope 11 as items of comment to be added to the observation image.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、観察画像の記録時に、観察画像に付加するコメントの項目として、顕微鏡１１の使用用途により予め定められている項目の情報を選択するための入力欄および表示欄をモニタ２４に表示させる。 - 特許庁

A distribution of a reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scanning microscope and an adjacent terminal, and a shape of an area expressing the vicinity of an edge is digitalized to calculate a tapering tendency based on a result thereof.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

A pigment 1006 of an observation object is arranged on a sample holder 1005, and incident light 1008 from a light source 1003 is made to enter, and light passing the hyper lens 1007 is received by a microscope 307 and measured by a CCD camera 309.例文帳に追加

被観察物体の色素１００６をサンプルホルダ１００５に並べ、光源部１００３からの入射光１００８を入射し、ハイパーレンズ１００７を通過した光を顕微鏡３０７で受け、ＣＣＤカメラ３０９で観測する。 - 特許庁

To provide a sample chamber which ensures an electron accelerating space, can easily adjust an optical position and makes exchange of a sample easy in a novel X-ray microscope that an X-ray image of the sample is converted to an electron image to observe it.例文帳に追加

試料のＸ線像を電子像に変換して観察する新規なＸ線顕微鏡において、電子加速空間を確保し容易に光学的位置調整ができさらに試料の交換を容易にする試料室を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope enabling a user to correct deviation between the optical axis of fluorescence and a detection-side pinhole without operating a tilt adjusting mechanism of a detection-side condenser lens every time a beam splitter is exchanged.例文帳に追加

ビームスプリッタの交換の度に使用者が検出側集光レンズのチルト調整機構を操作することなく、蛍光の光軸と検出側ピンホールとのずれを補正することができるコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a multi-probe and a microprocessing method using it, able to be applied as it is to a scan type probe microscope, performing high-accuracy nano-processing for an arbitrary position in a wide range collectively, and directly measuring the surface shape of a workpiece after processing.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡にそのまま適用することができ、広範囲を一括に、且つ任意位置に高精度なナノ加工を行うことができ、加工後、直接被加工物の表面形状を計測することができる。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations having an ultrasonic probe generating a tomographic image of a region to be operated on by which an operator can effectively perform surgical operations by obtaining tomographic images of high resolution depending on the operating circumstances.例文帳に追加

術部の断層画像を生成する超音波プローブを有し、術者は手術状況に応じて高解像の断層画像情報が得られ、効率的に手術が遂行できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope, even if air is contained in a preparation, capable of determining a region other than an air region as a region of an object of focusing process or the like, and to provide a region determining method, and a program.例文帳に追加

プレパラート内に空気が含まれる場合でも、当該空気の領域以外の領域を、合焦処理等の対象となる領域として判定することができる顕微鏡、領域判定方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁

In this scanning type charged particle beam microscope using an electron beam etc., when a scanning image is taken-in in a memory device synchronizing with a scanning signal, a delay of the electronic circuit is corrected and taken-in by a shift registor having variable number of steps.例文帳に追加

電子線等を使用した走査型荷電粒子ビーム顕微鏡において、走査信号に同期して走査画像を記憶装置に取り込む際に、電子回路の遅延を可変段数のシフトレジスタにより補正して取り込む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a relatively small space, and for minimizing a magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system used for simultaneously executing image formation and operation of an inspection object.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

The objective aqueous dispersion contains polymer particles having a DL/Dn ratio of 1.05-5.0 wherein DL is average particle diameter measured by dynamic light-scattering and Dn is number-average particle diameter determined by a transmission electron microscope.例文帳に追加

動的光散乱式測定装置によって測定した平均粒子径Ｄ_Lと、透過型電子顕微鏡によって測定した数平均子粒径Ｄ_nとの比（Ｄ_L／Ｄ_n）が１．０５〜５．０である重合体粒子を含む水系分散体を得る。 - 特許庁

To provide a method for observing and acquiring a histological image inside an individual by a two-photon laser microscope without being influenced by spontaneous vibration of an individual (living body) itself, and to provide a sheet having a hollow part used in the method.例文帳に追加

個体（生体）自体の自発振動の影響を受けずに、２光子レーザー顕微鏡により個体内部の組織学的イメージ像を観察・取得する方法、並びに該方法に使用する中空部を有する薄板の提供。 - 特許庁

To obtain confocal effect for improving the picture quality of a simple laser scanning microscope which has its Y-directional scan fixed (linear scan type) and picks up an image formed by an objective at a return destination directly by a television camera.例文帳に追加

レーザー走査顕微鏡で、Ｙ方向走査を固定型（線走査型）とし、戻り先の対物レンズによる結像を直接テレビカメラに写し込む簡易化型レーザー走査顕微鏡の画質を向上させるため共焦点効果をだすこと。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system which provides a high quality image by removing both of noise such as smearing noise due to an optical image incidence to an imaging apparatus during the term other than an exposure term and banding noise.例文帳に追加

スミアノイズ等の露光期間以外の期間における撮像装置への光像入射に起因するノイズ、及びバンディングノイズの両方を解消し、高品位な画像の取得を可能とする共焦点顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder of an electron microscope doing away with pretreatment of a sample for having it electrically conducted, and enabling electricity conduction to the sample and image observation during measurement of electric resistance only by thrusting it down on a sample pedestal.例文帳に追加

試料に電気的導通を取るための試料前処理が不要で、試料台に試料を押止するだけで試料への通電及び電気抵抗測定中の像観察を可能とする電子顕微鏡用試料ホルダの提供。 - 特許庁

A confocal microscope 10 which is provided movably in the Z-axis direction by a Z-stage 21, images a focal image on a Z-position different relative to a sample 16 by a measuring camera 18, and outputs it to a control unit 20.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０は、Ｚステージ２１によりＺ軸方向に移動可能に設けられ、試料１６に対して異なるＺ位置での焦点画像を測定カメラ１８で撮像し、制御ユニット２０へ出力する。 - 特許庁

To control lightness and to control prescribed color temperature of a transmitted light base for a zoom microscope in which a light source is incorporated by making it possible to control illumination intensity and then making the color temperature constant to control lightness.例文帳に追加

光源が組み込まれた、ズーム顕微鏡用の透過光ベースにおいて、照明強度を制御できるようにし、ひいては色温度を一定にして明度を制御することができ、かつ所定の色温度を調整できるように構成する。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁