「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(83ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning electron microscope is provided with a means of changing optical angles of aperture by changing a plurality of converging lenses and aperture hole diameters, and changes electron beam angles of aperture in accordance with a visual field range equivalent to one pixel, a so-called pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

In a scanning electron microscope in which a lubricant is coated on a sliding portion of a movable member that moves inside a vacuum chamber, a substance from which low molecular components were removed is used as the lubricant.例文帳に追加

以上のような目的を達成するために、真空室内にて移動する移動部材の摺動部分に潤滑剤を塗布した走査型電子顕微鏡において、当該潤滑剤として、低分子成分が除去されたものを採用する。 - 特許庁

The separator is obtained by molding a conductive composition comprising graphite particles in which crystallites having a mean size of 1-5 μm are oriented at random when observed under a polarization microscope, and a resin (e.g. a phenolic resin or a polyphenylene oxide resin).例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察したとき、平均サイズ１〜５μｍの結晶子がランダムに配向している黒鉛粒子と、樹脂（フェノール樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂など）とで構成された導電性組成物を成形し、セパレータを得る。 - 特許庁

This secondary electron image observation device 10 is provided with an irradiation system 15 having a structure for observing a sample while scanning it with an electron microscope and capable of irradiating the sample with at least either of an ultraviolet ray and an X-ray.例文帳に追加

試料に対して電子顕微鏡を走査しながら観察を行う構成を有し、紫外光、Ｘ線の、少なくともいずれかを照射可能な、照射系１５を具備している二次電子像観察装置１０を提供する。 - 特許庁

To evade failure in X-ray analysis caused by coming-out from a sample position where an X-ray is efficiently taken in, when executing the X-ray analysis following to sample observation by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡による試料観察に引き続いてＸ線分析を実行する場合に、試料の位置がＸ線を効率良く取り込める位置から外れていることでＸ線分析が失敗してしまうことを回避する。 - 特許庁

As for formation of a buried plug in formation of a wiring contact part, a buried plug is formed by using a conductive material and inspection of burying height by means of a scanning electron microscope is made possible by electrical conductivity of the buried plug.例文帳に追加

配線コンタクト部の形成における埋め込みプラグの形成について、導電性材料を用いて埋め込みプラグを形成し、埋め込みプラグの導電性によって走査型電子顕微鏡による埋め込み高さの検査を可能とする。 - 特許庁

Further, by performing cooling at a cooling rate equal to or higher than water cooling from the temperature range of from a β transformation point -100°C to a β single phase region upper limit, an optical microscope structure has 45% or less of pro-eutectoid α phase.例文帳に追加

さらに、β変態点−１００℃からβ単相域上限の温度範囲より水冷以上の冷却速度で冷却することにより、光学顕微鏡組織の初析α相が４５％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

A control part 121 has a storage part for storing parameters for at least two or more samples 102, where each parameter controls the operation of a microscope apparatus and is allowed to correspond to each sample 102 to be observed.例文帳に追加

制御部１２１は、顕微鏡装置の動作を制御するパラメータであって観察対象のサンプル１０２毎に対応付けられている当該パラメータを、少なくとも２つ以上のサンプル１０２について記憶しておく記憶部を有している。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a plate-like transparent body and a method thereof capable of detecting a minute defect with a length of about 10 μm in a major axis which is present on a surface of the plate-like transparent body without microscope inspection.例文帳に追加

板状透明体の表面に存在している長径１０μｍ程度の微細傷を、顕微鏡精査を行うことなく検出することができる板状透明体の欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence illuminator, capable of rapidly irradiating only an optional designated area from an acquired image with total reflection fluorescence illuminating light, optionally varying the intensity of irradiated light and added to a microscope.例文帳に追加

取得画像から任意の指定領域にのみ全反射蛍光照明光を速やかに照射可能で、かつ照射光の強度を任意に可変できる顕微鏡に付加される全反射蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-frequency oscillation probe for a high-speed scanning probe microscope that permits a quick observation of a sample and, especially, an observation of a moving object by improving the scanning speed of an oscillation scanning probe.例文帳に追加

振動走査探針の走査速度を改善して、迅速な試料の観測を可能とし、特に、移動する物体の観測も行い得る高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a compact scanning type laser microscope having stable performance and high optical resolution which is not affected by vibration and heat generation from a laser light source, and the quantity of UV laser light with respect to a sample is not fluctuated.例文帳に追加

本発明は、レーザ光源からの振動及び発熱の影響を受けることがなく、かつ試料へのＵＶレーザ光の光量が変動することなく、小型で安定した性能を有し、高い光学分解能を有すること。 - 特許庁

A genetic screening apparatus is provided with both a reaction stage 103 for supporting a reaction vessel 101 containing a DNA microarray and for accelerating reaction and a microscope 102 for optically observing the DNA microarray.例文帳に追加

遺伝子検査装置は、ＤＮＡマイクロアレイを含む反応容器１０１を支持すると共に反応を促進するための反応ステージ１０３と、ＤＮＡマイクロアレイを光学的に観察するための顕微鏡１０２とを備えている。 - 特許庁

More particularly, a plurality of targets can be labeled by a metal specifically deposited and other chromogenic labels, and the use of bright field light microscope enables chromogenic immunohistochemical (IHC) detection in situ.例文帳に追加

より詳細には、複数の標的が、特異的に沈着される金属および他の発色標識で標識され得、明視野光学顕微鏡を用いることによってインサイチュで発色免疫組織化学的（ＩＨＣ）検出が可能になる。 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which reduces a sample damage without depending on a measurement magnification or a sample and with the minimized illumination beam, and makes astigmatism correction automatically.例文帳に追加

本発明の目的は、測定倍率や試料に依存しないで、また、できる限り照射ビームを少なくして試料損傷低減を図り、自動的に非点収差補正を行うことができる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample.例文帳に追加

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is structured so that an ion detector for detecting an ion is disposed on the further electron source side than a first differential exhaust throttle to maintain prescribed vacuum in a sample chamber.例文帳に追加

上記目的を達成するための構成として、試料室を所定の真空に維持するための第１の差動排気絞りより、電子源側にイオンを検出するためのイオン検出器を配置した走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To obtain a probe with carbon nanotubes for a scanning probe microscope which can manufacture in an atmosphere in a short manufacturing time in a mass production and which does not exert an adverse influence on mechanical and electrical characteristics of the nanotubes.例文帳に追加

大気中で作製でき、作製時間が短く可能で、大量生産ができ、しかも、カーボンナノチューブの機械的、電気的特性に悪影響を与えることがない走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブ付き探針を得ること。 - 特許庁

To provide a microscope system, a focal position detecting method, and a focal position detecting program, capable of detecting the focal position of an optical system relative to a desired area of an observation object.例文帳に追加

観察対象物の所望の領域に対して相対的な光学系の焦点の位置を自動的に検出することが可能な顕微鏡システムおよび焦点位置検出方法および焦点位置検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a photomask that can accurately control a focus at a desired position within the photomask face in a transfer simulation of a photomask using a lithographic simulation microscope, and to provide a transfer simulation method on a photomask.例文帳に追加

リソグラフィシミュレーション顕微鏡を用いたフォトマスクの転写シュミレーションにおいて、フォトマスク面内の任意の箇所でフォーカスを正確に制御することができるフォトマスクと、フォトマスクの転写シュミレーション方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current.例文帳に追加

一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

Out of various parameters which are required in an image processing process, those which are easily understood by an operator are inputted from a control system or an adjoining terminal of a scanning type microscope, and then the remaining parameters are made automatically optimized.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から画像処理工程で必要になる各種パラメータのうち操作者に理解しやすいものを入力すると、残りのパラメータが自動的に最適化されるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of automatically setting transmitted illumination, epi-illumination, or transmitted epi-illumination even when a connected illuminating device is changed, while minimizing the number of control ports for an illuminating device.例文帳に追加

照明装置の制御ポートを最小限に抑えつつ、接続された照明装置が変更された場合でも自動的に透過照明、落射照明、或いは落射透過照明に設定することのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a plate for microscope specimen capable of economical and efficient use, that has proper workability and capable of using the residual liquid sample coating part, after a part of liquid sample coating parts has been used.例文帳に追加

作業性が良好であるとともに、一部の液体試料塗沫部を使用した後で残部の液体試料塗沫部を使用することが出来る、経済的かつ効率的な使用が可能な顕微鏡標本用プレートを提供する。 - 特許庁

To provide an optical system equipped with a focusing optical system capable of easily focusing with a simple constitution, dispensing with a mechanically complicated configuration for adjusting a pupil position, and to provide a laser microscope using the optical system.例文帳に追加

瞳位置の調整のための機械的に複雑な構成を必要とせずに簡単な構成で、フォーカシングを容易に行うことができるフォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A micro-marking system includes: a microcapsule particle 1 encapsulating a solvent containing fine particles for marking; a hollow glass probe 2 storing the microcapsule particles; a drive mechanism 6 for extruding the microcapsule particles on the marking object sample 5 through the inside of the probe; and a manipulating mechanism for depositing the extruded particles on a targeted place of the marking object sample under an optical microscope 3.例文帳に追加

マーキング用の微粒子を含む溶媒を封入したマイクロカプセル粒子１と、このマイクロカプセル粒子を収納した中空ガラスプローブ２と、このプローブ内を通してマイクロカプセル粒子をマーキング対象試料５の上に押し出す駆動機構６と、押し出した粒子を光学顕微鏡３下で、マーキング対象試料の目的箇所に付着させるマニピュレート機構と、を備える。 - 特許庁

This raster microscope has a light source to illuminate an object under test, a detection beam path and a detector disposed in the beam path to detect the light emitted from the object, and is also provided with a light injector which can lead the light other than the emitted light into the above beam path and supply it to the detector.例文帳に追加

被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路と、該検出ビーム路に配されると共に被検試料から射出する検出光を検出するための検出器とを有するラスタ顕微鏡において、検出光以外の光を、前記検出ビーム路に差込入射可能としかつ前記検出器に供給可能とする差込入射装置を有することを特徴とする。 - 特許庁

This microscope has coefficient determining means (5) for determining a coefficient according to the arithmetic value of either one of the luminance value or contrast value of the optical information, detected by optical information detecting means (10) and setting means (6) for multiplying the signal from operation means (4) by the coefficient determined by the coefficient determining means and setting the result thereof in a driving means (7).例文帳に追加

光学情報検出手段（１０）により検出された光学情報の輝度値またはコントラスト値の内いずれか１の演算値に基づいて係数を決定する係数決定手段（５）と、操作手段（４）からの信号に係数決定手段により決定された係数を乗じてその結果を駆動手段（７）に設定する設定手段（６）とを備えた顕微鏡装置である。 - 特許庁

A cantilever provided with a spherical member in a tip part of a probe is used in this scanning probe microscope for measuring the sample surface properties, comprising the cantilever having the fine probe in its tip part, a means for detecting a displacement of the cantilever, a means for oscillating the cantilever or the sample at a fixed cycle by a desirable amplitude quantity, and a sample moving means for moving the sample.例文帳に追加

先端に微小な探針を有するカンチレバーとカンチレバーの変位を検出する手段とカンチレバーまたは試料を一定周期で所望の振幅量で振動させる手段と試料を移動させる試料移動手段からなり、試料の表面物性を測定する走査型プローブ顕微鏡において、探針の端部に球状のものを設けたカンチレバーを使用することにした。 - 特許庁

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A.例文帳に追加

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。 - 特許庁

The stereoscopic microscope possesses the pair of the photographing optical systems separated by a prescribed base line length and forming the pair of images for the same observation object and a convergence prism 260 to guide the optical axis of each photographing optical system to right and left image pickup areas on the image pickup surface of a CCD 116 by respectively shifting in parallel in directions in which they approach with each other.例文帳に追加

立体顕微鏡は、所定の基線長に隔てられるとともに同一観察対象物に対する一対の像を形成する一対の撮影光学系と，各撮影光学系の光軸を互いに接近する方向に夫々平行にシフトさせてＣＣＤ１１６の撮像面上の左右の撮像領域に導く輻輳寄せプリズム２６０とを有している。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The high pressure sample container for the optical microscopic observation 10 for observing the sample under high pressure by a microscope includes: a container body 12; a cover 14 detachably attached to the container body 12; and an observation window 32 provided in at least one of the container body 12 and the cover 14 and emitting light emitted from the sample.例文帳に追加

本発明は、高圧力下における試料を顕微鏡観察するための光学顕微観察用高圧力試料容器１０であって、容器本体１２と、この容器本体１２に着脱可能に装着される蓋体１４と、前記容器本体１２及び前記蓋体１４の少なくとも一方に設けられ、試料から放射される光を放出する観察窓３２とを備えている。 - 特許庁

The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.例文帳に追加

α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁

An illumination means 10 which is attached to the slit lamp microscope and can irradiate the eye of the patient with light, a control box 11 which allows the illumination means 10 to emit light by synchronizing with timing that the video capture means 5 fetches a photographing picture from the imaging device 4, and a cable 12 for providing electric power from the control box 11 to each illumination means 10 are included.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡に取り付けられて患者の眼に光を照射し得る照明手段１０と、ビデオキャプチャー手段５が撮像装置４から撮影画像を取り込むタイミングに同期して、照明手段１０から光を照射させるコントロール・ボックス１１と、コントロール・ボックス１１から各照明手段１０に電力を供給するケーブル１２を備える。 - 特許庁

To provide a retaining apparatus which retains an optical viewing device, for example, a microscope stably without any vibration and with (position) reproducibility, and specially improves a vibration state perpendicularly, increases the rigidity and strength of the whole structure by mechanical properties of the structure, and makes the structure as lightweight as possible on the whole.例文帳に追加

顕微鏡等の光学観察装置の安定的、無振動的、かつ（位置）再現性のある支持を可能にし、とりわけ、鉛直方向において、振動状態の改善、その構造の機械的性質による構造全体の剛性ないし強度の更なる増進、構造全体の重量の可及的軽量化も図ることが可能な支持装置を提供すること。 - 特許庁

In the cantilever-type near-field optical probe and its manufacturing method, and the microscope, recording/reproducing device, and fine- machining device using them, a surface plasmon polariton transmission line for guiding light from a light source to a small opening or guiding light from the light source being introduced from the small opening is provided at the cantilever.例文帳に追加

カンチレバー型近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置であって、該微小開口ヘ光源からの光を導波させ、または／及び該微小開口から導入された光源からの光を導波させるための表面プラズモンポラリトン伝送路が、前記カンチレバーに設けられようにする。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

To provide a charged particle beam equipment, that can effectively utilize specimen observing conditions (coordinates, tilting angles, loci, observed image, etc.), memorized before its specimen holder was removed even when the positional deviation of the observed image as the specimen holder was once detached from the microscope column followed by its return to the column again.例文帳に追加

試料ホルダーをいったん鏡筒から取り外した後、再び鏡筒内に戻して観察画像に位置ずれが生じた場合でも、試料ホルダーを鏡筒から取り外す前に記憶させておいた試料の観察条件（座標、傾斜角、軌跡、観察画像など）をそのまま有効に活用することのできる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

This emission microscope has an ultraviolet-ray irradiating device 11 for irradiating an ultraviolet ray on a sample 1 to emit electrons from the sample 1, a phosphor plate 8 for indicating an electron image formed by the electrons emitted from the sample 1 and an electron lens system (respective lenses 4, 5 and 6) for imaging the electron image on the phosphor plate 8.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、試料１に紫外線光を照射して試料１から電子を放出させる紫外線照射装置１１と、試料１から放出された電子によって形成される電子像を表示する蛍光板８と、その電子像を蛍光板８上に結像させる電子レンズ系（各レンズ４，５，６）とを有する。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of benzotriazole, and contains benzotriazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.2-15 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.5-10.例文帳に追加

ベンゾトリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にベンゾトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．５〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１１を上下移動させるＺステージ１５と、被検体２１に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系３０と、合焦検出結果に基づいてＺステージ１５を制御する信号処理部４１と、対物レンズ１１の移動量を測定する測定部４２とを有する。 - 特許庁