「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a biosensor which detects electric characteristics of a bio-related substance contained in fluid to be tested such as aqueous solution arranged in a sensitive film and observes the bio-related substance contained in the fluid to be tested by observation equipment such as a microscope and with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

Residual magnetization Φr of the magnetic layer is 5 to 50 mA and a ratio (Sds/Sac) of an average area Sdc of a magnetic cluster in DC magnetized state measured by a magnetic force microscope (MFM) and an average area Sac of the magnetic cluster in an AC demagnetized state is 0.8 to 2.0.例文帳に追加

前記磁性層の残留磁化Φｒが５〜５０ｍＡであり、かつ磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）で測定したＤＣ磁化状態の磁気クラスターの平均面積ＳｄｃとＡＣ消磁状態の磁気クラスターの平均面積Ｓａｃとの比（Ｓｄｃ／Ｓａｃ）が０．８〜２．０である。 - 特許庁

To provide an image data display device in which the display size or display position of an image can be freely set without losing visibility even when image data acquired by a confocal microscope system and an image based on a profile of the image are simultaneously displayed, and to provide a program.例文帳に追加

共焦点顕微鏡システムによって取得した画像データと同時にその画像のプロファイルに基づく画像を表示した場合でも視認性を損なわず、画像の表示サイズや表示位置を自由に配置可能な画像データ表示装置及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

wt. polyamide, (B) 0.005-1 pt. wt. ethylene bis-oleic acid amide and (C) 0.01-2 pt. wt. barium stearate is characterized in that the mean value A and standard deviation B of a spherical crystal diameter observed by a polarlizing optical microscope satisfy the following formula (1): B/A≤0.3.例文帳に追加

ポリアミド（Ａ）１００重量部に対し、エチレンビスオレイン酸アミド（Ｂ）０．００５〜１重量部、ステアリン酸バリウム（Ｃ）０．０１〜２重量部からなり、偏光光学顕微鏡で観察した球晶直径の平均値Ａ、標準偏差Ｂが、次の（１）式を満たすことを特徴とするポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

A method of managing an etching width includes a step of forming contact arrays R1, R2 having different intervals of contacts C1, C2, a step of wet etching an insulating layer with resist patterns corresponding to these contact arrays R1, R2 as masks, and a step of then observing the discoloring of the resist patterns of these contact arrays R1, R2 by a metallurgical microscope.例文帳に追加

コンタクトＣ１、Ｃ２の間隔が互いに異なるコンタクトアレイＲ１、Ｒ２を形成し、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２に対応したレジストパターンをマスクとして、絶縁層のウェットエッチングを行った後に、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２のレジストパターンの変色を金属顕微鏡にて観察する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope device is capable of taking a high-resolution image in various conditions by calculating a beam intensity waveform based on imaging conditions and sample information, and by carrying out image restoration by using a resolution deterioration factor as a subject of a deterioration model in addition to the beam intensity waveform.例文帳に追加

撮像条件や試料情報に基づいてビーム強度波形を計算し、また、ビーム強度波形以外による分解能劣化要因も劣化モデルの対象として画像復元を行うことにより、様々な条件において高分解能な画像を取得することを可能とした。 - 特許庁

To provide an optical detecting circuit capable of expanding an optical detection dynamic range without making the SN of an optical detection signal and height data of a sample dark part worse and acquiring image data of good quality even if a sample has a large luminance difference, and a laser microscope equipped with the optical detecting circuit.例文帳に追加

試料暗部の光検出信号および高さデータのＳ／Ｎを劣化させずに光検出ダイナミックレンジを拡大し、輝度差が大きい試料であっても良質の画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えたレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier.例文帳に追加

半導体レーザー照射装置の励起光照射部１８が手術顕微鏡１の観察光の取入口１５に着脱自在なアタッチメント１６に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス（交換調整等）も容易である。 - 特許庁

To provide a method of measuring a three-dimensional shape of a sample including a sharp tip part, in particular, a portion with two faces constituting a ridge line where the angle formed by the faces is 120° or less, or a sample having a conical part or a pyramid part with 120° or less of apex angle, using a confocal microscope.例文帳に追加

鋭利な先端部、特に稜線を構成する２面のなす角度が１２０度以下の部分を含む試料もしくは頂点の角度が１２０度以下の円錐部や角錐部を有する試料の三次元形状を、コンフォーカル顕微鏡を用いて計測する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a biosensor that allows electrical characteristics of a biologically-relevant substance contained in a subject fluid such as an aqueous solution disposed on a sensing film to be detected and the biologically-relevant substance contained in the subject fluid to be observed with an observation instrument such as a microscope with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

As to this array for irradiation by using several wavelengths inside a microscope, in a parallel optical path inside an irradiating and image forming lens system EO, a compensating a lens system for producing the wavelengths while adjusting the wavelengths to be accurately superposed inside a sample area P is arranged.例文帳に追加

顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列であって、照射・結像レンズ系EOの内部にある平行光路内で、諸波長を試料領域P内に正確に重ね合わせることを調整しながら作り出すための補正レンズ系が配備されている配列 - 特許庁

when chromosomes at a particular stage in cell division are stained using one of several laboratory techniques, a specific pattern of light and dark stripes (bands) appears when the chromosomes are viewed through a microscope; the banding pattern assists in assigning each chromosome its particular number and evaluating its structure. 例文帳に追加

いくつかの検査技法のひとつを用いて細胞分裂の特定の段階にある染色体を染色すると、顕微鏡下で観察した染色体上に明暗の縞模様（バンド）が出現する；このバンドのパターンは各染色体の同定と構造の評価に有用な情報となる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide an apparatus and method of measuring crystallographic orientation relationship of adjacent crystal grains using the goniometer of a transmission electron microscope capable of accurately observing the orientation relationship of two crystal grains and characteristics of their grain boundary in real time.例文帳に追加

２つの結晶の方位関係と結晶粒界の特性をリアルタイムで正確に確認できることを特徴とし、透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係と結晶粒界の特性を測定する測定装置及びその測定方法を提示する。 - 特許庁

The silver paste comprises rod-like silver powders, a resin component, and an organic solvent, and a powder particle of the rod-like silver powders is needle-like, and has an average diameter L of primary particles of not more than 10 μm as measured with a scanning electron microscope.例文帳に追加

ロッド状銀粉と樹脂成分と有機溶剤とからなる銀ペーストであって、前記ロッド状銀粉の粉粒は針状であり、走査型電子顕微鏡像から判断できる一次粒子の平均長径Ｌが１０μｍ以下であることを特徴とする銀ペースト等を採用する。 - 特許庁

To provide a contact type atomic force microscope capable of rapidly obtaining a stable image of surface shape of a specimen in a state of an atmospheric pressure not in environmental control when the surface shape is measured by a contact mode having high sensitivity for irregularities.例文帳に追加

環境制御がされていない大気圧の状態にある試料の表面形状を、凹凸に対する感度の高いコンタクトモードによって測定するとき、吸着力の影響を回避して安定した表面形状像を迅速に得る。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.例文帳に追加

本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope which measures and indicates an amount and directions deviations in a visual field of a reference image recorded after an arbitrary set time relative to a recorded image in a real time and a high degree of accuracy and automatically corrects for the deviations in visual field.例文帳に追加

記録した登録画像に対し、任意の設定時間後に記録した参照画像の２つの画像間の視野ずれ量および方向をリアルタイムで高精度に計測，表示し、視野ずれを自動的に補正する透過型電子顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a microscope for operation capable of being driven substantially in an XY plane relative to a plane to be observed even when the mirror body is in any condition by constituting a visual field moving means capable of being driven around two tilted axes.例文帳に追加

２つの傾斜軸まわりに駆動可能な視野移動手段を構成することで、鏡体がどういった観察状態にあっても、観察面に対して略ＸＹ平面に駆動可能となる手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image acquisition apparatus and its method optimal for an observation device such as a microscope, which uses biological materials such as nearly transparent cells in an undyed state as samples and visualizes low-contrast samples, and provide a processing apparatus using the same.例文帳に追加

透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。 - 特許庁

To provide a multiple photon exciting and scanning type laser microscope capable of obtaining a sharp image over a range from a surface layer to a deep layer even if performing the observation up to an extremely deep region (e.g., about 100 μm or above from a surface).例文帳に追加

非常に深い領域(例えば、表面から約１００μｍ以上)まで観察する場合であっても、表層から深層まで鮮明な画像を得ることのできる多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

The sheeted material for preventing electromagnetic interference is provided, in which at least one layer (layer A) of a soft magnetic metal film comprising microcrystal whose particle size is less than 100nm as observed by a transmission microscope, is formed by wet plating.例文帳に追加

透過型顕微鏡下における観察で粒径が１００ナノメートル未満の微結晶を含有する軟磁性金属皮膜の少なくとも一層（Ａ層）が湿式めっき法によって形成されてなるシート状電磁波障害防止用材料である。 - 特許庁

To provide a light detection method and device, capable of detecting light to be detected with high sensitivity, even if the light to be detected is scattered light or light disturbed in wave front, and to provide a living body observing method, a microscope and an endoscope.例文帳に追加

被検出光が、散乱光や波面の乱れた光であっても、高感度かつ高感度に検出することができる光検出方法および光検出装置、並びに、生体観察方法、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

A half mirror 41 is provided on an optical path between a beam expander 12 provided in a confocal microscope and a light source 2 generating a laser beam L to thereby divide the laser beam L into a laser beam L1 being illuminating light and a laser beam L2 being inspecting light.例文帳に追加

共焦点顕微鏡に設けられたビームエキスパンダ１２とレーザ光Ｌを発生する光源２との間の光路上にハーフミラー４１を設けて、レーザ光Ｌを照明光であるレーザ光Ｌ１と検査光であるレーザ光Ｌ２とに分割する。 - 特許庁

To prevent poor transfer and obtain a highly fine image of high quality by configuring an endless belt so that a ten-point mean roughness of a surface of the endless belt, measured with a scanning probe microscope, is in a range from not less than 2.1 nm to not more than 11.0 nm.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡によって測定した表面の十点平均粗さが２．１〔ｎｍ〕以上、かつ、１１．０〔ｎｍ〕以下の範囲となるようにして、転写不良が発生せず、高品質な高精細画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

The silver halide photographic emulsion contains ≥50% by number of silver halide grains each having ≥10 nm thickness of a short-range repulsion region measured by a force curve method using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォースカーブ法によって測定される、近距離反発力領域の厚さが、１０ｎｍ以上であるハロゲン化銀粒子を粒子個数比率で５０％以上含有することを特徴とするハロゲン化銀写真乳剤である。 - 特許庁

A digital microscope 1 comprises a half mirror 13 for providing bright field illumination, a ring lens 16 for providing dark field illumination and a mechanism for changing mixing ratio of bright field illumination and dark field illumination according to the operation at an operation part 26.例文帳に追加

デジタル顕微鏡１は、明視野照明光を供給するハーフミラー１３と、暗視野照明光を供給するリングレンズ１６と、操作部２６での操作に応じて明視野照明光と暗視野照明光の混合割合を変える機構を備える。 - 特許庁

To provide a movable diaphragm position control method and a device of an electron microscope enabled in carrying out intuitive operation in the case of moving a diaphragm.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置に関し、絞りを移動させる場合に直感的な操作を行なうことができるようにした電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A microscope 20 detects a displacement of a preparation PRT relative to a standard position PR, which is determined by holding projections 71A to 71C provided on a stage 21, from a thumb nail imaging including the preparation PRT distributed an organism sample SPL.例文帳に追加

顕微鏡２０は、生体サンプルＳＰＬが配されたプレパラートＰＲＴを含むサムネイル像から、ステージ２１に設けられる保持突起７１Ａ〜７１Ｃにより規定される基準位置ＰＲに対する該プレパラートＰＲＴの位置ずれを検出する。 - 特許庁

In the microscope system 1, a high resolution image acquisition processing unit 453 acquires a VS image of a target specimen S stained with a staining dye containing a dye for cell component identification and a molecule target dye.例文帳に追加

本発明のある実施の形態の顕微鏡システム１において、高解像画像取得処理部４５３は、細胞コンポーネント同定用色素および分子標的色素を含む染色色素によって染色された対象標本ＳのＶＳ画像を取得する。 - 特許庁

This optical product including ≤10,000/mm^3 foreign matters having 1-5 μm size measured by microscope observation is obtained by molding the aromatic-aliphatic copolymerized polycarbonate resin including ≤100/g foreign matters having ≥5 μm particle diameters insoluble in methylene chloride.例文帳に追加

塩化メチレン不溶の粒径５μｍ以上の異物が１００個／ｇ以下である芳香族−脂肪族共重合ポリカーボネート樹脂を成形してなる、顕微鏡観察による１〜５μｍの異物が１０，０００個／ｍｍ^3以下である光学製品。 - 特許庁

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。 - 特許庁

To solve a problem that, in a conventional cover glass used for counting asbestos and other fiber particles with a phase-contrast microscope, a counting visual field varies, resulting in an error, even if multiple analysts use the same counting specimen.例文帳に追加

従来のカバーグラスでは、位相差顕微鏡によるアスベストやその他の繊維状粒子等の計数に用いるカバーグラスにおいて、複数の分析者によって同じ計数用標本を用いても計数する視野が異なり誤差が生じてしまう。 - 特許庁

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell.例文帳に追加

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。 - 特許庁

The particulate black composite oxide particles comprise 60 to 80 mass% cobalt and 0.1 to 5 mass% manganese and has an average primary particle diameter of 0.05 to 0.3 μm (as measured by observation with a scanning electron microscope (SEM)).例文帳に追加

６０質量％〜８０質量％のコバルトおよび０．１質量％〜５質量％のマンガンを含有し、ＳＥＭ観察で測定した一次粒子平均径が０．０５μｍ〜０．３μｍであることを特徴とする粒状黒色複合酸化物粒子。 - 特許庁

The electron beam control device for controlled use of an electron beam, such as an electron microscope or an electron beam aligner, comprises a magnetic sensor for measuring an externally influenced magnetic variation that influences a track of an electron beam.例文帳に追加

電子顕微鏡および電子ビーム露光装置等の、電子ビームを制御して利用する電子ビーム制御装置であって、電子ビームの飛跡に影響を及ぼす、外界からの影響による磁気変動量を測定するための磁気センサーを備えている。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of controlling quantity of electrons emitted from a sample generated by collision of electrons with other members, and to provide a method of static charge control for the sample by controlling quantity of electrons.例文帳に追加

本発明は、試料から放出された電子が、他部材に衝突した結果、生じる電子量を制御可能とすることを目的とした走査電子顕微鏡、及び電子量の制御による試料帯電制御方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A scanning electron microscope 1 having an automatic focusing function is provided with a coordinate navigation function which allows setting measurement points arbitrarily and an output function for plotting thickness distribution based on the measured data, for measuring flatness of a wafer.例文帳に追加

オートフォーカス機能を有する走査型電子顕微鏡１に測定箇所を任意に設定可能な座標ナビゲーション機能と、計測したデータに基づいて厚さ分布を描画する出力機能を搭載することによりウェーハの平坦度の測定する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

The reflector layer has at least one among an electrical conductivity exceeding about 5.0×10 (Ω.cm) an RMS surface roughness below about 1.0 nm in measurement by an atom force microscope and a refractive index below about 0.5 at a read-out wavelength.例文帳に追加

反射体層は、約５．０×１０^4（Ω・ｃｍ）^-^1を超える導電率、原子間力顕微鏡による測定で約１．０ｎｍ未満のＲＭＳ表面粗さ、および読出波長において約０．５未満の屈折率のうちの少なくとも１つを有する。 - 特許庁

To provide a microscope control device capable of suppressing a load related to focusing when browsing a microscopic image and improving the convenience of a reader; and to provide an image display device, a method for generating focus position information, and an image display method.例文帳に追加

顕微鏡画像閲覧時のピント調整に関する負荷を抑制し、閲覧者の利便性を向上させることが可能な顕微鏡制御装置、画像表示装置、合焦位置情報生成方法及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe.例文帳に追加

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample support stage for observing a three-dimensional structure of high versatility with a sample constitution while adopting a constitution capable of always holding a sample in the visual field center of an electron microscope, a protractor and a three-dimensional structure observing method.例文帳に追加

試料を常に電子顕微鏡の視野中心で保持可能な構成を採用しながら、簡素な構成で汎用性の高い３次元構造観察用の試料支持台及び分度器、並びに３次元構造観察方法を提供する。 - 特許庁