「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

An atomic force microscope with a probe in its light condensing system is installed in the cathode luminescence composite device which detects light from a sample irradiated by a electron beam.例文帳に追加

試料に電子線を照射して、その電子線照射により試料から発生した光を検出するカソードルミネッセンス装置において、集光システムとして探針をプローブとする原子間力顕微鏡を設けたことを特徴とするカソードルミネッセンス複合装置。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information.例文帳に追加

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations whose endoscopic image can be made smaller and movable for orientation procedure and endoscopic observation of an entire image, not disturbing the endoscopic orientation procedure under microscopic observations.例文帳に追加

内視鏡観察において、オリエンテーション操作時は、内視鏡画像を小さくし、かつ移動可能とし、顕微鏡観察下で内視鏡の位置操作を行なう際に、邪魔にならず、かつ画像全体も観察できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

When coating osmium on a metal plate 16, such as an iris plate of an electron microscope as a metal plate in which micropores are made, hydrogen gas is added in addition to sublimation gas, consisting of osmium oxide using the plasma excitation chemical vapor phase deposition method.例文帳に追加

例えば微小な孔を空けた金属板である電子顕微鏡の絞りプレート等の金属板１６にオスミウムのコーティングを施す際に、プラズマ励起化学気相堆積法において、酸化オスミウムからなる昇華ガスに加えて水素ガスを添加する。 - 特許庁

To provide an otological microscope which is excellent in the facility and certainty of posture control, suitably used for, especially, an outpatient service where subjects are frequently exchanged, and easily changed for right-handed use and left-handed use.例文帳に追加

姿勢制御の容易性及び確実性に優れ、特に被検者が頻繁に入れ替わる外来診察に好適に用いられ、さらに右利き用及び左利き用への改変が容易な耳鼻科用顕微鏡装置の提供を目的とするものである。 - 特許庁

The magnetic particles are reduction treatment products of hexagonal ferrite magnetic particles, and a ratio Dc/Dtem between a particle diameter Dtem in a direction perpendicular to a face (220) obtained with a transmission electron microscope and a crystallite size Dc obtained from a diffraction peak of the face (220) is within the range of 0.90-0.75.例文帳に追加

前記磁性粒子は、六方晶フェライト磁性粒子の還元処理物であって、透過型電子顕微鏡により求められる（２２０）面に垂直な方向における粒子径Ｄｔｅｍと、（２２０）面の回折ピークから求められる結晶子サイズＤｃとの比Ｄｃ／Ｄｔｅｍが０．９０〜０．７５の範囲である。 - 特許庁

The scanning electron microscope scans electron beams on a test piece two-dimensionally and produces two dimensional image data 40 based on secondary electrons emitted from the test piece and composes scales 41a, 41b for expressing a prescribed length (1 μm) on the image data along two vertical and horizontal directions mutually perpendicular.例文帳に追加

本発明の走査型電子顕微鏡は、電子ビームを試料上に２次元状に走査し、試料から発せられる２次電子に基づいて２次元的な画像データ４０を生成するとともに、画像データ４０に、互いに垂直な縦横の２方向に沿って、所定の長さ（１μｍ）を表すスケール４１ａ，４１ｂを合成する。 - 特許庁

To solve the problem that exact image information is not obtained and gradation characteristics are spoiled in gain compensation, etc. when large luminance difference occurs during photography when exposure conditions are set before starting the photography when photographing a sample in which luminance of fluorescence changes in an image recorder to be loaded on the conventional microscope.例文帳に追加

従来の顕微鏡に搭載される画像記録装置は、蛍光発光の輝度が変化する標本を撮影する場合、撮影開始前に露出条件を設定すると、撮影中に大きな輝度差が発生すると、正確な画像情報が得られず、ゲイン補正等では階調特性が損なわれる。 - 特許庁

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加

半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

A first image acquisition control part 62 of a control unit 60 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of a confocal microscope with light of a light quantity shown by the first light quantity setting data, and records the image in a memory 66.例文帳に追加

制御ユニット６０の第１の画像取得制御部６２は、第１の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

The texture 13 of a low frequency component obtained by measuring a 10 μm square range by an atomic force microscope has 10 to 200 nm width W, 2 to 10 nm height H and the ratio (Rp/RMS) of the maximum height Rp to root-mean-square roughness RMS of not more than 15.例文帳に追加

原子間力顕微鏡で１０μｍ四方の範囲を測定して得られる低周波成分のテクスチャー１３の幅Ｗは１０〜２００ｎｍ、テクスチャー１３の高さＨは２〜１０ｎｍ、テクスチャー１３の自乗平均粗さＲＭＳに対する最大山高さＲｐの比（Ｒｐ／ＲＭＳ）は１５以下である。 - 特許庁

To provide a standard template with a standard mark as the standard point for producing an displacement-modified image for observing an image of a sample three-dimensionally correctly and precisely by appropriately processing stereo detection data obtained from an electronic microscope and for measuring the three-dimensional shape of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡から得られたステレオの検出データを適切に処理して、試料像を正確に精度よく立体観察すると共に、試料の三次元形状計測を行う為に、偏位修正画像を作成するために基準点となる基準マークを有する基準テンプレート及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The electron microscope introducing a sample through a spare exhaust room for carrying out measurement and observation by electron beams is to be provided with an exchange room for an electrostatic chuck different from the spare exhaust chamber, and a vacuum pump for vacuum pumping the exchange chamber.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームによる測定，観察を行うために予備排気室を経由して、試料を導入する電子顕微鏡において、前記予備排気室とは異なる静電チャックの交換室と、当該交換室を真空排気するための真空ポンプを備えた電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁

In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。 - 特許庁

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view.例文帳に追加

光学装置である顕微鏡１００に用いる照明部（照明装置）１０を、照明光を放射する光源部２０と、この光源部２０からの照明光を物体面Ｏに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部３０と、から構成する。 - 特許庁

The resinous structure comprises a resin composition consisting of 5-80% by volume of a polyketone resin and 95-20% by volume of a polyolefin resin and has a phase structure, as a resin phase-separating structure observed with an electron microscope, in which structure the polyolefin resin is of a continuous phase and the polyketone resin is of a beltlike dispersed structure.例文帳に追加

（ａ）ポリケトン樹脂５〜８０容量％及び（ｂ）ポリオレフィン樹脂９５〜２０容量％からなる樹脂組成物であり、電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造として、ポリオレフィン樹脂が連続相、ポリケトン樹脂が帯状分散相である相構造を有する樹脂構造体とする。 - 特許庁

The sample holding mesh 13 used for a transmission electron microscope has a separable part (a primary mesh 13-1) and this part is made to be detachable from the remaining part (a secondary mesh 13-2) after separation so that it may not break a tip of the sample during measurement and precise elemental analysis can be performed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュ１３において、前記メッシュの一部（第１のメッシュ１３−１）が分離し、当該一部が、分離後に残った部分（第２のメッシュ１３−２）と脱着可能な形態とすることにより、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なう。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In the piezoelectric power generating element, a pair of electrodes is arranged on a piezoelectric ceramics layer formed of a ceramics in a range of average grain size of 0.01-0.1 μm by observation using a scanning electron microscope, and the piezoelectric ceramics layer subjected to polarization processing is applied with an external force different from the polarization direction, thereby generating electric potentials.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡観察により平均粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されている圧電セラミックス層に対電極を配置し、分極処理した圧電セラミックス素子に、分極方向と異なる外力を与え電荷を発生することを特徴とする圧電発電素子。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

To provide a method to easily measure phase difference by using a scanning atomic force microscope(AFM) without peeling a resist 1 during manufacturing a Levenson type phase shift mask, and to provide a method for manufacturing phase shift mask such that the manufacture process of a Levenson phase shift mask can be significantly reduced by using the above method for measuring the phase difference.例文帳に追加

レベンソン位相シフトマスクの製造途中にレジスト１を剥離せずに、走査型原子間力顕微鏡(AFM)を用いて簡便に位相差を測定する方法を提供し、この位相差測定方法を用いてレベンソン位相シフトマスクの製造プロセスを大幅に短縮することが可能になる位相シフトマスク製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manipulator system enabling an operator to perform the attaching operation of a capillary or the like without moving even if a microscope to which a manipulator is attached and a controller are installed remotely, and configured to prevent microscopic observation from being adversely influenced by vibration caused by manipulator operation by the operator.例文帳に追加

マニピュレータを取り付けた顕微鏡とコントローラとが離れて設置されている場合でもキャピラリ等の装着作業を操作者が移動することなく行うことが可能であり、かつ、操作者のマニピュレータ操作に起因する振動が顕微鏡観察に悪影響を及ぼさないようにしたマニピュレータシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a needle crystal which can manufacture the needle crystal having an extremely sharp tip without requiring materials such as Au and the like that cause deterioration of a semiconductor crystal, and a cantilever of a scanning type probe microscope which can comply with extremely fine irregularities of the surface of an observation object.例文帳に追加

半導体結晶の劣化を引き起こすＡｕ等の材料を必要とせず、先端が極めて鋭い針状結晶を製造することができる針状結晶の製造方法と、被観察物表面の極めて微細な凹凸に対応することが可能な走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーとを提供する。 - 特許庁

To provide a quantitative phase microscope A designed so that light use efficiency is high, disturbance is highly resisted, a quantity of light can be easily adjusted, the need for a space filter 43 specially provided to match a wavelength is eliminated, and quantitative measurement of the thickness of a specimen S or the like can be performed with high measurement precision.例文帳に追加

光利用効率が高く、外乱に対して強く、光量調節を容易に行え、波長に応じて専用の空間フィルタ４３を用いる必要がなく、測定試料Ｓの厚みなどの定量的な測定を高い測定精度で行うことが可能な定量位相顕微鏡Ａを提供する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is provided with the function of computing corrected precision after coordinates compensation to be displayed by using a vector 39, the function of automatically determining scale factor during search in automatic detection of foreign materials/defects after coordinates compensation from acquired information, and the function of computing appearance ratio of foreign materials/defects and time required from search scale factor and measuring conditions.例文帳に追加

座標補正後の補正精度を算出し、ベクトル３９を用いて表示する機能、得られた情報から座標補正後異物／欠陥を自動検出する際の探索時の倍率を自動で決定する機能、また探索倍率と測定条件から異物／欠陥の出現率とかかる時間を算出する機能を設けた。 - 特許庁

To provide a filtration membrane apparatus with which a fluorescent image with a high contrast can be provided by suppressing the background of the filtration membrane in the case of microorganism observation using a fluorescent microscope after filtration of raw water containing organic components; whose filtration capability is hardly deteriorated by adsorption of organic components; and which has a high water permeability.例文帳に追加

有機成分を含有する原水をろ過して蛍光顕微鏡での微生物観察をする場合において、ろ過膜からのバックグラウンドを抑えることにより、コントラストの高い蛍光像を得ることができ、さらに、有機成分の吸着等によりろ過特性が低下しづらく、通水性が高いろ過膜装置を提供する。 - 特許庁

The microorganisms of plural specimens can be simply and rapidly detected without requiring work force for a visual measurement and a fluorescence microscope which has the problem of difference between measurers by combining a filtration film for capturing microbes, a device such as a microtiter plate and a device for reading a signal by converting the signal to an electric signal.例文帳に追加

細菌を捕捉するろ過膜と、マイクロタイタープレートのようなデバイスとシグナルを電気信号に換えて読み取る装置を組み合わせることにより、目視計測による労力や測定者間の誤差に問題のある蛍光顕微鏡を必要とせず、同時に複数の検体について簡易かつ迅速に微生物を検出する。 - 特許庁

To provide a capturing device capable of efficiently capturing a floating particulate matter in the atmosphere, facilitating the observation of the captured particles with a microscope and the extraction and supply of independent particles to various analyzing equipments, and a method capable of measuring the particle size distribution of the floating particulate matter captured by the capturing device with high resolution in a wide particle size range.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を効率的に捕集し、その捕集した粒子を容易に顕微鏡で観察することができ、かつ、容易に個別の粒子を抽出して各種分析機器に供することのできる捕集装置と、その捕集装置により捕集した浮遊粒子状物質を、広い粒径範囲において高い分解能のもとに粒度分布を測定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

The mask for manufacturing the observation mask of the electron microscope is provided with a first mask 13 formed on a semiconductor substrate 11 with the observed region 13A and having a width W1 corresponding to a thickness for transmitting an electron beam through the observed region 13 and a second mask 14 formed on the semiconductor substrate 11 and having a width W2 partially larger than the first mask 13.例文帳に追加

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスクは、観察対象領域１３Ａを有する半導体基板１１上に、観察対象領域１３を電子線が透過できる厚みに相当する幅Ｗ１で形成された第１マスク１３と、半導体基板１１上に、少なくともその一部が第１マスク１３よりも大きい幅Ｗ２で形成された第２マスク１４とを具備している。 - 特許庁

To detect, in a method detecting particles containing infinitesimal fission materials contained in a collected swipe sample by the fission track method, the particles containing the fission materials in a short time and easily by eliminating sophisticated measuring techniques using special apparatus such as an atomic force microscope and eliminating effects in which the shape of the core of a fission track depends on the surface shape of the particles.例文帳に追加

採取したスワイプ試料中に含まれる極微量核分裂性物質を含む粒子をフィッショントラック法によって検出する手法において、原子間力顕微鏡のような特殊な装置を用いた高度な測定技術を必要とせず、また、フィッショントラックのコアの形状が粒子の表面形状に依存する影響をなくして、短時間で容易に核分裂性物質を含む粒子を濃縮度別に検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, where stable contact resistance can be obtained when a probe is brought into contact with an electrode pad to check its properties, and the probe is kept in contact with the electrode pad can be visually confirmed with ease by a microscope, the electrode is superior in solder wettability, and a solder bump can be suitably formed on the electrode pad.例文帳に追加

探針プローブを電極パッドに接触させて特性検査を行う際、安定な抵抗が得られ、探針プローブを接触させたことが顕微鏡観察等により容易に視認することができるようにし、さらに、ハンダに対する濡れ性が良好で、電極パッド上にハンダバンプを好適に形成することができる、半導体装置を提供する。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

The composition for polishing the semiconductor wafer preferably has a 40 to 300 mol ratio of silica/urea, an average short diameter of the aspherical heteromorphic silica particles having urea fixed through a transmission electron microscope is 7 to 30 nm, and a long diameter/short diameter ratio is 1.2 to 10, an average value of the long diameter/short diameter ratio being preferably 1.2 to 5.例文帳に追加

この半導体ウエハ研磨用組成物のシリカ／尿素のモル比は４０〜３００であることが好ましく、また、尿素が固定化された非球状の異形シリカ粒子の透過型電子顕微鏡観察による平均短径が７〜３０ｎｍであり、長径／短径比が１．２〜１０であり、かつ長径／短径比の平均値が１．２〜５であることが好ましい。 - 特許庁

The microscope lens barrel 10 includes: an optical system 12 dividing light from a specimen into an imaging optical path and a visual observation optical path; and a moving means 11 moving the optical system 12 to at least three positions different in a ratio of a light quantity distributed to the visual observation optical path to that distributed to the imaging optical path.例文帳に追加

顕微鏡鏡筒１０は、試料からの光を撮像光路と目視観察光路に分配する光学系１２と、光学系１２を、撮像光路に分配される光量に対する目視観察光路に分配される光量の比率が異なる少なくとも３つの位置に移動させる移動手段１１と、を含んで構成される。 - 特許庁

The microscope body 21 has an image processing circuit 103 that processes a digital image signal obtained from a lens group 101, an imaging device 44 and an AD conversion device 102 in real time and generates digital image data, a display section 62 that displays an image based on the digital image data, and an interface circuit 105 that outputs the digital image signal to the outside.例文帳に追加

顕微鏡本体２１は、レンズ群１０１、撮像素子４４、AD変換素子１０２により得られるデジタル画像信号をリアルタイムに処理し、デジタル画像データを生成する画像処理回路１０３、デジタル画像データに基づく画像を表示する表示部６２、デジタル画像信号を外部に出力するインタフェース回路１０５を備える。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD FOR COUPLING CONDITION AND AGGREGATION CONDITION OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION, PHOTOGRAPHIC METHOD FOR SUSPENDED MATTER USING THE OBSERVATION METHOD, EVALUATION METHOD FOR AQUEOUS SOLUTION USING THE OBSERVATION METHOD OR THE PHOTOGRAPHIC METHOD, AND DATA BY STATIC PICTURES OR ANIMATION OF COUPLING CONDITION OF SUSPENDED MATTER AND AGGREGATION CONDITION PHOTOGRAPHED BY THE PHOTOGRAPHIC METHOD例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を利用した懸濁物質の撮影方法と、その観察方法又は撮影方法を利用した水溶液の評価方法と、その撮影方法で撮影された懸濁物質の結合状態、集合状態の静止画又は動画による資料 - 特許庁

In a micromanipulation system for applying micro manipulation to an object within the view of a microscope by using a micro needle, positions of the object and an objective lens are relatively moved to detect a position where the object is focused, in accordance with movement, and the movement of a object moving means is controlled on a basis of a detection result.例文帳に追加

顕微鏡の視野内で被検体に対して微小針を用いて微細操作を行うマイクロマニピュレーションシステムは、被検体と対物レンズとの位置を相対的に移動させ、この移動に応じて前記被検体に焦点の合う位置を検出し、この検出結果に基づいて、前記被検体移動手段の動作を制御することにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

In the method, a pulse voltage VB is applied to a material 3 having a ferroelectric thin film 1 by a conductive needle 2 by using an atomic force microscope, the amplitude of the pulse voltage VB is changed by a voltage applying means when a film thickness change of the ferroelectric thin film 1 is measured, and also a detecting output is measured through a lock-in amplifier 4.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて導電性針２によって強誘電体薄膜１を有する試料３にパルス電圧Ｖ_B を印加し、強誘電体薄膜１の膜厚変化分を測定する際に、パルス電圧Ｖ_B の振幅を電圧印加手段によって変化させるとともに、検出出力をロックインアンプ４を通して測定する。 - 特許庁

To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のＳＮ比を向上する。 - 特許庁

The microscope which has at least one magazine (30, 40) having a plurality of reception areas (42) receiving a plurality of constituent elements (44) is equipped with a read unit which has transponders (48) arranged at the plurality of constituent elements (44) received in the plurality of reception areas (42) and reads data stored in the transponders 48.例文帳に追加

複数の構成要素（４４）をそれぞれ受容する複数の受容領域（４２）を有する少なくとも１つのマガジン（３０、４０）を有する顕微鏡において、前記複数の受容領域（４２）に受容される複数の構成要素（４４）に、トランスポンダ（４８）が配属され、及び該トランスポンダ（４８）に記憶されたデータを読み取る読取ユニットを備える。 - 特許庁

The microscope condenser lens LCon includes, in order from the light source side to the specimen side: a first lens group G1 having a cemented negative meniscus lens L1 whose concave face is oriented on the light source side; a second lens group G2 having a single positive lens L2; and a third lens group G3 having a positive lens L31 and a negative lens L32.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズＬＣｏｎは、光源側から標本側に向かって順に並んだ、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズＬ１を有する第１レンズ群Ｇ１と、単体正レンズＬ２を有する第２レンズ群Ｇ２と、正レンズＬ３１と負レンズＬ３２とを有する第３レンズ群Ｇ３とから構成される。 - 特許庁

When a power source switch provided on an operating part 30 is operated, and power supply to a digital camera for a microscope is started, the CPU 201 gives an instruction to a reading attribute setting part 74, and the reading attribute setting part 74 sets read-only attributes in a data file already recorded in the removable media 35 when the power supply is started.例文帳に追加

操作部３０に備えられている電源スイッチが操作されてこの顕微鏡用デジタルカメラへの電力の供給が開始されたときに、ＣＰＵ２０１は読み出し属性設定部７４へ指示を与え、当該開始時点においてリムーバブルメディア３５に既に記録されていたデータファイルに対して読み出し専用の属性を設定する。 - 特許庁