「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

In a magnetic head for a contact slide type linear tape drive sliding in contact with the magnetic tape upon recording and/or reproduction of a magnetic signal, a surface sliding in contact with the magnetic tape upon contact sliding has a plurality of recessed parts observed in a surface projecting and recessed image of a scanning probe microscope and the plurality of recessed parts satisfy the following (1) to (4).例文帳に追加

磁気信号の記録および／または再生時に磁気テープと磁気ヘッドとが接触摺動する接触摺動型リニアテープドライブ用磁気ヘッドにおいて、接触摺動時に磁気テープと接触摺動する面に、走査型プローブ顕微鏡の表面凹凸像において観察される凹部を複数有し、かつ該複数の凹部は下記（１）〜（４）を満たす。 - 特許庁

A wafer chuck rotatable 360° and an X-Y stage with a movable distance which is a half of the diameter of a semiconductor wafer are provided, and the regions provided by dividing a semiconductor wafer 1 into four is rotated with a wafer chuck, according to wafer's defect position coordinate and the four regions are observed sequentially with a fixed microscope 2, for defect review on the entire wafer surface.例文帳に追加

３６０度回転可能なウェハチャックと半導体ウェハ直径の半分の可動距離をもつＸ−Ｙステージとを有し、半導体ウェハ１を４分割した領域をウェハの欠陥位置座標に応じてウェハチャックを回転して、この４つの領域を順次固定された顕微鏡２により観察して、ウェハ全面の欠陥レビューを行うようにしている。 - 特許庁

To provide a method for joining a probe to a detecting piezoelectric element in a scanning probe microscope that uses a piezoelectric element as the distance control means of the probe, without depending on changes in ambient condition, such as temperature, and the amount of an adhesive or a method of adhesion, so that stable vibration characteristic and detection characteristic can be obtained and so that the detecting piezoelectric element can be reused.例文帳に追加

プローブの距離制御手段として圧電体を利用する走査型プローブ顕微鏡において、温度などの環境変化や接着剤の量や接着方法によらず、安定した振動特性や検出特性が得られ、さらに検出用圧電素子の再利用が可能なようなプローブと検出用圧電体の接合方法を提供する。 - 特許庁

Concerning a plurality of grouping areas whose peripehral parts overlap each other in a photographing object area of a microscope image, the data of a plurality of screening and zooming static images photographed at the highest magnification and the data of a plurality of focusing static images photographed with variable focal points in the respective grouping areas are created.例文帳に追加

顕微鏡像のうちの撮影対象領域を、互いに周辺部の一部が重なり合う複数の区分け領域について、最高倍率で撮影された複数のスクリーニング・ズーミング用静止画像のデータと、前記各区分け領域においてそれぞれ焦点を変えて撮影された複数のフォーカシング用静止画像のデータを作成する。 - 特許庁

The resin structure is constituted by a resin composition substantially comprising (a) a polyester resin and (b) a polyphenylene sulfide resin(PPS resin) at a specific ratio and, simultaneously, the PPS resin layer being allowed to have a special structure such as a continuous phase and a belt-shaped dispersion phase as the resin phase separation structure to be observed in the resin composition by an electron microscope.例文帳に追加

特定比の実質的に（ａ）ポリエステル樹脂及び（ｂ）ポリフェニレンスルフィド樹脂（ＰＰＳ樹脂）からなる樹脂組成物で構成され、かつ、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造としてＰＰＳ樹脂層が連続相や帯状分散相等の特殊な構造を持った樹脂構造体とする。 - 特許庁

The negative electrode for lithium secondary battery is comprises coating and integrating, on a current collector, a graphite paste which is made by adding and mixing an organic binder and solvent to graphite particles which are made by assembling and binding a plurality of flat-shape particles so that the orientation surface is unparallel having pores, when the cross-section of the particles is observed by a scanning type microscope photograph.例文帳に追加

扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合又は結合させてなり、粒子の断面を走査型顕微鏡写真で観察したときに細孔を有する黒鉛粒子に、有機系結着剤及び溶剤を添加し、混合してなる黒鉛ペーストを集電体に塗布、一体化してなるリチウム二次電池用負極。 - 特許庁

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.例文帳に追加

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁

This ophthalmic surgical microscope includes: an observation optical system for observing a patient's eye during surgery; a corneal shape measuring means for measuring the corneal shape of the patient's eye placed in a surgical position; and a guide means for outputting guide information for guiding the intraocular lens surgery based on a measured result obtained by the corneal shape measuring means.例文帳に追加

手術時における患者眼を観察するための観察光学系と、手術位置に配置された患者眼の角膜形状を測定する角膜形状測定手段と、角膜形状測定手段によって得られた測定結果に基づいて眼内レンズ手術をガイドするためのガイド情報を出力するガイド手段と、を備える。 - 特許庁

A method for obtaining a crystal lattice Moire pattern of a crystal structure through the use of a scanning microscope includes the process for periodically arranging a plurality of virtual lattice points in a scanning surface of the crystal structure according to the crystal structure and orientation, the process for detecting signals from the plurality of virtual lattice points through the use of an incidence probe, and the process for generating a crystal lattice Moire pattern of the crystal structure on the basis of detected signals.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いて、結晶構造の結晶格子モアレパターンを取得する方法であって、前記結晶構造の走査面において、前記結晶構造と方位に対応して、複数の仮想格子点を周期的に配置する工程と、入射プローブを用いて複数の前記仮想格子点からの信号を検出する工程と、検出した前記信号に基づいて、前記結晶構造の結晶格子モアレパターンを生成する工程と、を備えている。 - 特許庁

The measuring microscope A is configured by installing a specimen imaging camera 2 with an optical system lens 5 mounted thereon in order to image a specimen B placed on a stage 1, and a periphery imaging camera 4 which captures an image including the periphery of the specimen B, and outputs an image captured by the specimen imaging camera 2 in an image captured by the periphery imaging camera 4.例文帳に追加

本発明は、ステージ１上に載置された被検物Ｂを撮影するために光学系レンズ５を装着した被検物撮影カメラ２と、前記被検物Ｂ周辺を含んで撮影する周辺撮影カメラ４とを設置し、前記周辺撮影カメラ４で撮影した映像内に前記被検物撮影カメラ２で撮影した映像を出力した測定顕微鏡Ａである。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 comprises a cantilever 110 for examining a sample, mechanism 120 for scanning the cantilever 110, light source section 140 emitting a light beam, mirror 170 for directing a light beam from the light source 140 toward the cantilever 110, and section 160 for detecting a light beam reflected on the cantilever 110.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を調べるためのカンチレバー１１０と、カンチレバー１１０を走査するための走査機構１２０と、光ビームを射出する光源部１４０と、光源部１４０からの光ビームをカンチレバー１１０に方向付ける方向付けミラー１７０と、カンチレバー１１０で反射された光ビームを検出するための光検出部１６０とを備えている。 - 特許庁

An atomic force microscope 3 is prepared, and a cantilever 4 having the head on which a probe 6 is formed is mounted on a substrate 4a to form a cantilever combination 8, and an oscillation member 7 is driven to oscillate with a characteristic frequency of the cantilever 4, and a voltage corresponding to the frequency change Δf of the oscillation frequency from the characteristic frequency is detected by a frequency change detector 19.例文帳に追加

原子間力顕微鏡３を準備し、探針６が先端に形成されたカンチレバー４を基体４ａに、取付けてカンチレバー組合せ体８を構成し、振動部材７を駆動してカンチレバー４の固有振動数で発振し、振動周波数の固有振動数からの周波数変化Δｆに対応する電圧を周波数変化検出器１９によって検出する。 - 特許庁

The device partially attenuates the light intensity (lightness) of the lighting of a microscope having, for example, a lighting optical path, a main objective, a light source, and a spectrum filter; and the spectrum filter (4) is so constituted that the light intensity values of different wavelength ranges (22) are attenuated to a specific extent (attenuated intensity Int 0) in mutually different spatial lighting areas (21).例文帳に追加

例えば、照明光路、主対物レンズ、光源及びスペクトルフィルタを有する顕微鏡における、照明の光強度（明るさ）を部分的に減衰する装置において、互いに異なる空間的照明領域（２１）において、異なる波長レンジ（２２）の光強度を所定の程度（減衰強度Int０）（２４）に減衰するように、スペクトルフィルタ（４）が構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

The scanning electron microscope having a function specifying a desired position based on a pattern registered beforehand, comprises a means for setting information about the type of the pattern, spaces between a plurality of parts forming the pattern and the size of parts forming the pattern, and a means for forming a pattern image formed of a plurality of the parts based on information acquired by the setting means.例文帳に追加

本発明は、予め登録されているパターンに基づいて、所望の位置を特定する機能を備えた走査電子顕微鏡において、パターンの種類，パターンを構成する複数の部分間の間隔、及びパターンを構成する部分の寸法に関する情報を設定する手段と、当該手段によって得られた情報に基づいて、複数の部分によって構成されるパターン像を形成する手段を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the method for mounting the microscope observation sample mount of a porous body, a cured resin is subjected to impregnation treatment to the pore section of the porous body by a vacuum impregnation method, a sample mount having a ring type before the curing resin is cured is rotated by a rotary pressurizing apparatus 1 for filling the cured resin into the pore section of the porous body by centrifugal force (1).例文帳に追加

１．多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法にして、前記多孔質体の気孔部に真空含浸法により硬化型樹脂を含浸処理し、該硬化型樹脂が硬化する前の型リング付き試料マウントを回転加圧装置１により回転させて前記多孔質体の気孔部へ前記硬化型樹脂を遠心力により充填させることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法。 - 特許庁

The laser scanning microscope is equipped with an illumination beam path for illumination of a sample, and a detection beam path for wavelength-dependent sensing of the light from the sample, whereby filters for selection of the detection wavelengths are provided, characterized in that at least one graduated filter spatially variable in regard to the threshold wavelength between the transmission and reflection is provided in several partial beam paths for the selection of the wavelengths.例文帳に追加

この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 - 特許庁

To provide measurement in high reliability by confirming errors, evaluating reliability of the measured data, and removing errors for less measurement error when wide-area measurement or long-time measurement in narrow- area scanning is performed with a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、広域測定を行うときまたは狭域走査で時間をかけて測定を行うとき、測定誤差を確認し、測定データの信頼性を評価し、測定誤差を除去して測定誤差を低減し、信頼性の高い測定を行えるようにする。 - 特許庁

An image for defect detection obtained by a confocal microscope 10 is recorded in an image recording part 20, and only a G signal is taken out from RGB signals included in the image for defect detection to detect an abnormal position by an abnormal position detection part 30.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０で得られる欠陥検出用画像を画像記録部２０に記録し、異常個所検出部３０で、欠陥検出用画像に含まれるＲＧＢ信号の中からＧ信号のみを取り出すことにより異常個所を検出する。 - 特許庁

An illumination device (20) for a microscope (40) has a laser unit (24) that generates at least one broadband laser light pulse (30), and light components (71, 72, 73, 74, 75, 76) of different wavelengths of the broadband laser light pulse (30) are temporally offset from one another.例文帳に追加

顕微鏡（４０）の照明装置（２０）は、少なくとも１つの広帯域レーザ光パルス（３０）を生成するレーザユニット（２４）を有し、上記広帯域レーザ光パルス（３０）の異なる波長の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）は、互いに時間的にずらされる。 - 特許庁

To conform an assigned scanning area with an actual scanning area to allow accurate measurement reduced in an error, by measuring an electrostatic capacity due to temperature variation, and by correcting scanner sensitivity based on the electrostatic capacity, in a temperature-varied scanning probe microscope.例文帳に追加

温度の変化する走査形プローブ顕微鏡において、温度変化による静電容量を測定し、この静電容量によりスキャナ感度を補正することで、指定した走査領域と実際の走査領域を一致させ、誤差の少ない正確な測定を行う。 - 特許庁

To provide a stereoscopic shape measuring method by a scanning electron microscope (SEM) and its device capable of highly-accurate stereoscopic shape measurement even in the case of a flat surface or a nearly vertical surface, by utilizing tilt angle dependency of a secondary electron image signal quantity.例文帳に追加

ＳＥＭの２次電子画像信号量の傾斜角依存性を利用して平坦な面や垂直に近い面についても高精度な立体形状計測を可能にしたＳＥＭによる立体形状計測方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

The cross section of chemically treated hair, which is obtained by twice treating hair with a commercial high bleaching agent, and that of treated hair obtained by treating hair with a 2% amino acid aqueous solution are respectively measured by an atomic force microscope to obtain an amplitude image shown in Fig.1 and a phase image shown in Fig.2.例文帳に追加

毛髪を市販のハイブリーチ剤で２回ブリーチ処理を行った化学処理毛と、更に２％アミノ酸水溶液で処理したトリートメント処理毛との断面を、それぞれ、原子間力顕微鏡で測定し、図１に示すamplitude像と、図２に示すphase像とを得た。 - 特許庁

To provide a system such that when a shape of a shot during exposure is distorted as a circuit pattern becomes finer, a decrease in throughput during wafer inspection with an electron microscope and a decrease in automation rate are recognized, and a position correcting operation for the shot distortion is carried out.例文帳に追加

回路パターンの微細化に伴い、露光の際のショットの形状の歪みがある場合には、電子顕微鏡によるウェーハ検査時のスループットの低下や自動化率の低下が認められ、ショット歪みに対する位置補正動作を実行する方式を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope.例文帳に追加

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance type ultrasonic transducer, ultrasonic diagnostic equipment and ultrasonic microscope, each of which is equipped with an electret, thereby dispensing with the application of a DC bias voltage, while being able to transmit/receive ultrasonic waves with ample sound pressure and sensitivity.例文帳に追加

エレクトレットを具備することによりＤＣバイアス電圧の印加を不要としながら、十分な音圧及び感度により超音波を送受信することが可能な静電容量型の超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.例文帳に追加

位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope, whose aperture stop diameter is automatically changed interlocking with objective lens change of a motor-driven revolver mounted with a plurality of objective lenses and also easily set for each of the plurality of objective lenses, compactly at low cost.例文帳に追加

複数の対物レンズが装着された電動レボルバの対物レンズ転換に連動して開口絞り径が自動的に変更され、且つそれら複数の対物レンズ毎に開口絞り径の設定が容易に行える落射顕微鏡を安価に、またコンパクトに提供すること。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device, a contrast information correction method, a contrast information correction program, and a scanning type confocal laser microscope capable of correcting deterioration of the contrast information (brightness information) by brown of a fluorescent pigment dying a sample.例文帳に追加

試料を染色している蛍光色素の褪色による濃淡情報（輝度情報）の劣化を補正することが可能な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a means for easily and reliably preventing an accident that a sample and chart information about an alien living body are falsely recognized as a sample and chart information about the same living body when using an electric chart system in observing a sample by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による試料の観察において電子カルテシステムを利用する際に、異なる生体に関する試料とカルテ情報を同じ生体に関する試料とカルテ情報であると誤認する事故を容易かつ確実に防止する手段を提供する。 - 特許庁

To provide a composite apparatus which is an integral system of a probe microscope and a charged particle beam device, such as an FIB or the like, and has a means, capable of easily and stably processing a probe head section being worn or damaged, by using own charged particle beam device.例文帳に追加

ＦＩＢ等の荷電粒子ビーム装置とプローブ顕微鏡が一体システムとなった複合装置において、プローブ先端部の摩耗や欠損に対して自前の荷電粒子ビーム装置を用いて容易に安定して加工が施せる手段を備えた装置を提供する。 - 特許庁

This sample holding member 30 for an electron microscope used for holding a sample is composed by stacking a grid mesh thin piece 25 provided with a grid mesh 25a at its distal end, and a member provided with a plurality of reinforcing ribs 26 of thin pieces for reinforcing the grid mesh 25a.例文帳に追加

試料を保持する電子顕微鏡用試料保持部材３０であって、その先端部にグリッドメッシュ２５ａを設けたグリッドメッシュ薄片２５と、前記グリッドメッシュ２５ａを補強するための薄片の補強用リブ２６を複数枚設けたものとを積層構成とした。 - 特許庁

To provide a noise canceling type headphone capable of preventing the disturbance of musical sounds caused by unexpected noise canceling sounds by preventing resonant sounds near an outside sound taking port which are listened to as sounds having no relation to original outside sounds from being taken into a microscope.例文帳に追加

本来の外部ノイズとは関係のない音として聴取される外部音取り込み口付近での共鳴音がマイクロホンに取り込まれるのを防止して不用意なノイズキャンセル発音による楽音の乱れを防止できるノイズキャンセル型ヘッドホンを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope device using a short focus objective lens that enables acquiring a good image of high resolution without any distortion in a wide range from low magnification to high magnification at the observation in low acceleration voltage condition.例文帳に追加

短焦点の対物レンズを用いた電子顕微鏡装置において、低加速電圧条件での観察時に、低倍率から高倍率までの広い倍率範囲において高解像度で歪みのない良好な画像の取得を可能とする電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an illumination optical system and a microscope provided with the system capable of easily switching evanescent illumination and ordinary vertical illumination while using a laser beam having intensity high enough to excite fluorescence dye though an entire device is compact.例文帳に追加

蛍光色素を励起するのに十分な強度を有するレーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This electron microscope has an electron emitting negative electrode having a carbon nanotube, and an extraction device to cause field emission of an electron, and uses the carbon nanotube having an acute angle portion in an almost conic form at its tip part.例文帳に追加

上記目的を解決する本発明の特徴は、カーボンナノチューブを有する電子放出陰極と、電子を電界放出させる引出装置とを有する電子顕微鏡であって、先端部に略円錐形状の鋭角部を有するカーボンナノチューブを用いる点にある。 - 特許庁

To provide a scanning X-ray electron microscope capable of detecting photoelectrons under a wide range of a vacuum condition from a low vacuum to a high vacuum when photoelectrons generated from a sample by the scanning of X-rays are detected.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線の走査により試料から発生した光電子を検出する際、低真空から高真空までの広範囲の真空条件において光電子を検出することが可能な走査Ｘ線電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To detect fine powder in real time, and to raise an alarm, based on light scattered by fine powder generated by applying light near the contact section between a stator and a rotor for composing a mechanically driven ultrasonic motor for a stage using a charged particle microscope.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡に用いるステージについて、機械駆動する超音波モータを構成するステータとロータの接触部分の近傍に光を照射して発生した微粉によって散乱したを光をもとに微粉をリアルタイムに検出および警報を発する。 - 特許庁

The durability predicting apparatus 100 comprises a deterioration promoting apparatus 10 (a deterioration promoting means), an electron microscope 12, an energy dispersing X-ray analyzing apparatus 1206, a film thickness measuring instrument 14, a gloss measuring instrument 16, a contact angle measuring instrument 18 and a color measuring instrument 20.例文帳に追加

耐久性予測装置１００は、劣化促進装置１０（劣化促進手段）、電子顕微鏡１２、エネルギー分散形Ｘ線分析装置１２０６、膜厚測定器１４、光沢測定器１６、接触角測定器１８、色測定器２０を備えて構成されている。 - 特許庁

A main body H of the microscope is provided with a variable power knob 7 capable of changing an observation magnification by rotationally operating this knob and a fine adjustment focusing knob 11 movable by focusing adjustment by rotationally operating on a common revolving shaft.例文帳に追加

顕微鏡の本体部Ｈには、回転操作することにより観察倍率を変化させることの可能な変倍ノブ７と、回転操作することによりピント調節をすることの可能な微動焦準ノブ１１とが共通の回転軸上に設けられている。 - 特許庁

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20.例文帳に追加

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。 - 特許庁

This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.例文帳に追加

第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus 100 is equipped with a cassette 102 which can house a plurality of sheets of samples 101, an elevator to vertically move the cassette 102, a microscope 132 to enlarge and observe a sample 101, an XY stage 105 to appropriately place the sample 101 in an observation position, and a carrying device 104 to carry the sample 101 between the cassette 102 and the XY stage 105.例文帳に追加

顕微鏡検査装置１００は、複数枚の標本１０１を収納し得るカセット１０２と、カセット１０２を上下方向に昇降させるエレベーター１０３と、標本１０１を拡大観察する顕微鏡１３２と、標本１０１を観察位置に適宜配置するためのＸＹステージ１０５と、カセット１０２とＸＹステージ１０５の間で標本１０１を搬送する搬送装置１０４とを備えている。 - 特許庁

Information related to a sample such as height of the sample, alignment information or the like are obtained from the sample 5 housed in a load lock part 15 by sample information obtaining means like height detecting equipment or an optical microscope 30 arranged on the load lock part 15, in parallel with pressure reduction work executed when transferring the sample 5 from the load lock part 15 to a sample chamber 22.例文帳に追加

ロードロック部１５に設けた高さ検出器や光学顕微鏡３０といった試料情報取得手段によって、試料室２２で観察する試料の高さ情報やアライメント情報といった試料情報の取得を、ロードロック部１５から試料５を試料室２２への搬送するに際して実行されるロードロック部１５の減圧作業と並行して、ロードロック部１５に収容されている試料５に対して実行する。 - 特許庁

The objective monomer cast nylon resin produced by the monomer cast polymerization of an ω-lactam has a structure characterized in that the length of the bright region observable by a polarizing microscope under crossed nicols at a magnification of 400 is ≤10 μm and the distance between a bright region and the adjacent bright region is ≤10 μm.例文帳に追加

ω−ラクタムをモノマーキャスト法により重合して得られるモノマーキャストナイロン樹脂において、偏光顕微鏡により、直交ニコル下で、４００倍の倍率で観察される明るい領域の長さが１０μｍ以下であり、且つ、一の明るい領域と、該一の明るい領域に最も近い他の明るい領域との間の距離が１０μｍ以下であるような構造を有することを特徴とするモノマーキャストナイロン樹脂。 - 特許庁