「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(89ページ目) - Weblio英語例文検索

(2) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope and containing fine powder having a 50% average particle diameter of 0.05 to 10 μm in an amount of 0.2 to 5 wt.%.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍであり、かつ５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含有する異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide: an objective lens switching device capable of easily switching an objective lens, decreasing a size of the very device, and arranging a coarse/fine focusing operation part and an objective lens switching part on a near side relative to an observing optical axis; and a microscope equipped with an objective lens focusing device.例文帳に追加

対物レンズの切り換えを簡単に行うことができ、装置自体をコンパクトにするとともに、粗微動焦準操作部と対物レンズ切り換え操作部を観察光軸よりも手前側に配置する対物レンズ切り換え装置及び対物レンズ焦準装置を具備する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for quickly and firmly attaching the cover glass of an optical microscope sample to a lower material and a chamber with which reaction from a moment to a long time to stimulation to a live sample is continuously observed in high resolution.例文帳に追加

光学顕微鏡試料のカバーガラスを素早くかつ強固に下部材に密着する方法を提供すること、および生きた試料の刺激などに対する瞬時から長期に及ぶ反応を高解像度で継続的に観察することを可能にするチャンバーを提供すること。 - 特許庁

In an image selecting device, a controller 9 examines a pattern of vibration which is generated in a substrate 1 based on an image of a subject photographed by an imaging portion 3 by a microscope 2 or an output of a vibration sensor 10, and derives an imaging time T and an imaging interval dt based on the pattern.例文帳に追加

制御部９は、顕微鏡部２を介して撮像部３が撮像した被写体の画像または振動センサ１０の出力に基づいて、基板１に生じる振動のパターンを調べ、そのパターンに基づいて撮像時間Ｔと撮像間隔ｄｔを導出する。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted, by incorporating respective elements, such as a polarizer, in advance and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby becoming capable of switching observation, from a very low magnification to a high magnification only by revolving operation of a revolver, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To perform wave front correction for preventing an obtained image from becoming unclear by phase fluctuation such as the fluctuation of a medium in an optical path in video equipment such as a microscope, a telescope and a camera in real time by an optical write type liquid crystal space phase modulation element.例文帳に追加

顕微鏡、望遠鏡、カメラ等の映像機器において、光路中の媒質のゆらぎ等の位相変動により、得られた像が不鮮明となることを防止する波面補正において、光書き込み型液晶空間位相変調素子により実時間で行うようにする。 - 特許庁

This confocal microscope has amplification means (32, 33) for amplifying a frame image signal with a high gain and a low gain alternately, and means (36, 37, 38, 39) for forming respectively the whole focal image from a series of high-gain amplification images and low-gain amplification images.例文帳に追加

本発明による共焦点顕微鏡は、フレーム画像信号を高ゲイン及び低ゲインで交互に増幅する増幅手段（３２，３３）と、一連の高ゲイン増幅画像及び低ゲイン増幅画像から全焦点画像をそれぞれ形成する手段（３６，３７，３８，３９）を有する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of efficiently detecting fluorescence generated by excitation with a laser beam from a first scanning optical system with preventing entry of a second laser beam into the first scanning optical system even when a plurality of scanning optical system are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a quantitative analytical method capable of analyzing quantitatively a mass of a specified substance with high sensitivity, using a fluorescence microscope image, even when the specified substance such as a protein and a eucaryotic cell having a size exceeding several μm is contained in a sample.例文帳に追加

数μｍを超える大きさを有するたんぱく質や真核細胞などの特定物質が試料中に含まれる場合でも、蛍光顕微鏡画像を用いてその特定物質の質量を高感度で定量分析することができる定量分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for certainly sticking a sample to a substrate, more concretely, without using a metal ion source as a solution, and without requiring an expensive coat on the rear surface of a cantilever.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

This emission microscope is provided with an ultraviolet ray irradiating device 12 for irradiating with an ultraviolet ray a sample 8 stored inside a vacuum container 15, an electrode current introducing terminal 9 for impressing pulse voltage to the sample 8, and a pulse generator 10.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、真空容器１５の内部に収容された試料８に紫外線光を照射する紫外線照射装置１２と、試料８にパルス電圧を印加するための電極（不図示）、電流導入端子９およびパルス発生器１０とが備えられている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can easily obtain a confocal color image of a necessary area or focus measurement data by making pixels or pixel groups of a confocal image and a CCD color image correspond to each other even when both the images are different resolution.例文帳に追加

共焦点画像とＣＣＤカラー画像の解像度が異なる場合であっても、両画像の画素又は画素群を対応付けることにより、必要な領域の共焦点カラー画像又は共焦点測定データが容易に得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance processing speed in an analysis method of an energy loss spectroscopic device and a transmission electron microscope, equipped with the energy loss spectroscopic device.例文帳に追加

本発明はエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡に関し、処理速度を向上させることができるエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

In an MR guided surgical system which is carried out in the bore of an MR magnet, there is provided a microscope system for viewing a required part of a patient which includes stereoscopic viewing components arranged for use in generating 2D and 3D images displayed to a surgeon.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムが提供される。 - 特許庁

To provide a method and a device for adjusting automatic axis of an electron lens of a scanning electron microscope capable of automatically adjusting an axis of the electron lens in high precision.例文帳に追加

本発明は走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置に関し、電子レンズの軸調整を高精度で高速に自動で行なうことができる電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To improve reliability of an electron beam application device by preventing a rapid change of state to an electron source with regard to a high voltage power source of a Schottky electron source adopted in the electron beam application device such as an electron microscope or an electron beam picture drawing device.例文帳に追加

電子顕微鏡や電子線描画装置などの電子線応用装置において採用されるショットキー電子源の高圧電源に関し、電子源に急激な状態変化をもたらさないようにすることで、電子線応用装置の信頼性向上を目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device having a function to produce precisely and rapidly an imaging recipe having an equal or better performance than an imaging recipe produced manually by SEM operators based on their own unique know-how, and to provide an imaging method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭオペレータが独自のノウハウに基づきマニュアルで生成した撮像レシピと同等あるいはそれ以上の性能をもつ撮像レシピを正確にかつ高速に生成する機能を備えた走査型電子顕微鏡装置ならびにそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

An imaging control unit composed of a TG 4, an AFE 5, a synchronizing control section 6 and a system control section 7 controls an imaging device 3 under a predetermined imaging condition, and picks up an observation image of a sample, formed on a light receiving surface of the imaging device 3, under a microscope.例文帳に追加

ＴＧ４、ＡＦＥ５、同期信号生成部６、及びシステム制御部７で構成される撮像制御部は、所定の撮像条件の下で撮像素子３を制御して、撮像素子３の受光面に結像した標本の顕微鏡での観察像の画像を撮像させる。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises a probe holding mechanism A for pushing to hold a probe B having fixed a cantilever 6 provided with a probe 5 at its end by a lever 21 by a force acting equally on three clamp surfaces 3a, 3b, and 3c in a lower surface of a clamp body 1.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡は、先端に探針５を設けたカンチレバー６を固着したプローブＢを、クランプ本体１の下面の３つのクランプ面３ａ，３ｂ，３ｃに等しく作用する力でレバー２１によって押し付けて保持するプローブ保持機構Ａを備えている。 - 特許庁

There is provided the CVD coated cutting tool insert including: a TiCxNy layer having a low tensile stress level of 50-390 Mpa; and Al_2O_3 having surface smoothness having a high average Ra of 0.12 μm or lower measured by an interatomic force microscope (AFM) technology.例文帳に追加

本発明は、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具インサートに関する。 - 特許庁

To obtain a lens barrel for a joint observer made monoscopic or conditionally stereoscopic, which is installed at the different spot of a microscope, especially on an opposite side, without requiring troublesome assembling operation to take much time or a supplementary adjusting method, and having no fault in a well-known similar solution.例文帳に追加

時間のかかる煩瑣の組込操作または補足の調節方策を要することなく、顕微鏡の異なる箇所に−特に、反対側に−設置でき、公知の類似の解決法の欠点がないモノスコピックのまたは条件付きでステレオスコピックの共同観察用鏡筒を創成する。 - 特許庁

This new method for forming a MOS structure having a GaAs base 140 includes the steps of ion implanting after formation of an oxide and thereafter performing slow heating and cooling operations, in such a manner that an interface defect detectable by a high-resolution transmission electron microscope essentially will not be generated.例文帳に追加

ＧａＡｓを基本とするＭＯＳ構造を形成する新しい方法は、酸化物形成後のイオン注入及び高分解透過電子顕微鏡によって検出できる界面欠陥が本質的に形成されないように行われるその後のゆっくりした加熱及び冷却を含む。 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope including an evacuation system in which an orifice diameter can be made larger than the conventional one so that a throughput until observation from sample exchange can be improved, and a required amount of a probe current can be obtained when irradiating an electron beam.例文帳に追加

本発明の目的は、試料交換から観察までのスループット向上を図ると共に、電子ビーム照射時には、必要なプローブ電流量が得られるようオリフィス径を従来より拡大することができる排気システムを備えた低真空電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens for a microscope constituted only of a single lens not using a doublet, excellent in the performance of aberration correction and effectiveness to eccentric tolerance, having high magnification (≥ about 40) and such numerical aperture as about 0.9 and used in a deep ultraviolet wavelength region.例文帳に追加

接合レンズを用いない単レンズのみの構成で、収差補正の性能と偏心公差への効きが良好な、高倍率（４０倍程度以上）で開口数が０．９程度の、深紫外波長領域で使用することを目的とした顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a configuration to prevent an easy forgery by a means such as the investigation of a hologram pattern using an optical microscope, in a optical recording medium (computer generated hologram(CGH) recording medium) recorded with information by using a CGH.例文帳に追加

計算機生成ホログラム（ＣＧＨ：Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｇｅｎｅｒａｔｅｄ Ｈｏｌｏｇｒａｍ）を用いて情報を記録した光記録媒体（ＣＧＨ記録媒体）において、光学顕微鏡でホログラムパターンを調べる等の手段によって容易に偽造を行うことを防止する構成を提供する。 - 特許庁

The toner for electrostatic image development includes at least a binder resin, a colorant and a charge control agent, wherein the surface potential of an arbitrary surface of the toner particles for electrostatic image development after contact charging measured by a surface potential measuring mode of a scanning probe microscope varies from the surface potential before the contact charging by ≥±1,000 mV.例文帳に追加

少なくともバインダー樹脂、着色剤、荷電制御樹脂を含む静電荷像現像用トナーであって、走査型プローブ顕微鏡の表面電位測定モードで測定した接触帯電処理後の該静電荷像現像用トナー粒子の任意の表面の表面電位が、該接触帯電処理前の表面電位に対し正又は負に１，０００ｍＶ以上変化することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.例文帳に追加

対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for microscopic analysis capable of labeling specifically a specific portion of a target molecule in a sample, labeling and analyzing an analysis object without damaging a space resolution of a used microscope, and analyzing localization, the direction (aspect), the shape (stereoscopic structure) and kinetics of the analysis object in the functional state, and a microscopic analysis method using the probe for microscopic analysis.例文帳に追加

試料中の標的分子の特定部位を特異的に標識可能であり、使用する顕微鏡の空間分解能を損なわずに解析対象を標識及び解析することができ、該解析対象の局在、方向（向き）、形状（立体構造）、及び動態を、機能状態において解析可能とする顕微鏡解析用プローブ、及び該顕微鏡解析用プローブを用いた顕微鏡解析方法を提供する。 - 特許庁

The methods includes a hybridization reaction process with a probe on the microarray and a target nucleic acid labeled; a process for checking a probe's location from a signal from the label of the target nucleic acid that is detected by observing a surface with a probe fixing region with a cofocal microscope; and a process for eliminating the target nucleic acid by cleaning buffer, wherein theses processes are repeated to a same microarray.例文帳に追加

マイクロアレイ上のプローブと、標識したターゲット核酸とのハイブリダイゼーション反応工程と、共焦点型の顕微鏡によりプローブ固定領域が存する面を観察して検出されるターゲット核酸の標識からのシグナルからプローブの位置を確認する工程と、洗浄用バッファによりターゲット核酸を除去する工程とを有し、これらの工程を同じマイクロアレイに対して繰り返し行う。 - 特許庁

In order to solve above problems, a high-powered microscope apparatus is provided with a prescribed pattern which is formed on the stage or a sample support member for microscopes, a recognizing means which recognizes the prescribed pattern, and a moving means which moves the sample support member for the microscopes to a prescribed position, based on positional information being recognized by the recognizing means.例文帳に追加

本発明によれば、上記課題を解決するために、顕微鏡用試料保持材やステージに形成された所定のパターンと、この所定のパターンを認識する認識手段と、この認識手段によって認識された位置情報に基づいて、上記顕微鏡用試料保持材を所定位置に移動させる移動手段とを備えていることを特徴とする高倍率顕微観測装置を提供される。 - 特許庁

To discover a new equibration system of a type to obstruct the undesirable equibration operation by bearing power by performing the equibration operation when the accessories of the microscope are changed without using intricate or costly force sensors or stroke sensors and as immediately as possible and rapidly in such a manner that a surgery interruption is averted without preliminarily carrying out the operation to measure physical quantities (for example, force, deformation, etc.).例文帳に追加

複雑なまたは高価な力センサまたはストロークセンサを使用せず、顕微鏡のアクセサリを変更した場合には直ちに、物理量（例えば、力、変形など）の測定操作を事前に行うことなく、手術中断が回避されるようできる限り直ちに且つ迅速に平衡化操作を行い、支持力による望ましくない平衡化操作が阻止される形式の新規の平衡化システムを見出すこと。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The method of operating laser scanning microscope comprises: lighting a sample through at least one scanner 2; imaging the sample; measuring temperature at the scanner 2 and/or a scanner driving part; starting a cooling device 6 when limit temperature is reached; advantageously interrupting the imaging operation once the cooling device 6 is switched on; and making a display device perform optical display or acoustic display when the limit temperature is reached.例文帳に追加

本発明によるレーザ走査型顕微鏡の動作方法では、試料は少なくとも１つのスキャナ２を通じて照明され、撮像が行われ、スキャナ２および／またはスキャナ駆動部において温度測定が行われ、限界温度に達すると冷却装置６が始動され、また有利なことに、冷却装置６のスイッチがオンに入ると撮像が中断され、または限界温度に達すると表示装置が光学的表示または音響的表示を行う。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, the tube scanner is the above-mentioned tube scanner.例文帳に追加

また、試料と、前記試料に対向する探針と、前記試料と前記探針を相対的に２次元走査すると共に、試料と探針との間の距離を変化させるチューブスキャナと、を備え、前記探針と前記試料との間に作用する物理量により検出される信号に基づいて像を表示する走査形プローブ顕微鏡において、チューブスキャナが前記チューブスキャナであることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

In the device for generating a laser light beam such as an illumination light beam preferably for a confocal scanning microscope, including at least one laser light source (2), the laser light source (2) constitutes a module (1) having a mechanical and/or electrical and/or optical interface which is regulated to the outside individually or by grouping.例文帳に追加

少なくとも１つのレーザ光源（２）を含んで構成される、好ましくは共焦点式の走査顕微鏡のための照明光ビーム等のレーザ光ビームを生成するための装置において、前記レーザ光源（２）は、個別に又はグループ化されて、外部に対して規定される機械的及び／又は電気的及び／又は光学的インターフェースを有するモジュール（１）を構成することを特徴とする。 - 特許庁

(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000.例文帳に追加

（ａ）：前記シリカ粒子の形状係数ＳＦ１が１．００〜１．２０であること（ｂ）：前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が５〜１００ｎｍであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数ＣＶ値が０〜１５％であること（ｃ）：前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が２００〜１５０００であること - 特許庁

The thermoplastic resin composition is obtained by compounding 15-50 wt.% polyamide resin (a) and 50-85 wt.% polylactic acid resin (b), and forming a phase structure, wherein, in resin phase separation structure observed by an electron microscope, the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polylactic acid resin (b) forms a continuous phase or a dispersed phase.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）１５〜５０重量％およびポリ乳酸樹脂（ｂ）５０〜８５重量％を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であり、かつ電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造においてポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリ乳酸樹脂（ｂ）が分散相または連続相となる相構造を形成することを特徴とする熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

An optical magnification device for varying the distance between an observer's eye (1) and an object (7), e.g. for a binocular magnifier or a microscope, in which focusing onto the object (7) is accomplished by means of progressive and/or multifocal lenses (3) displaceable perpendicular to the observation beam(s) 2.例文帳に追加

観察者の眼と被検試料との間の距離調節装置と、少なくとも２つの光学レンズとを有するとりわけ顕微鏡又は望遠眼鏡等の光学拡大装置において、光学レンズの少なくとも一方は、前記被検試料（７）上で合焦するよう、観察光ビームの光軸（２）に対し横断方向に摺動可能な多焦点レンズ及び／又はプログレッシブレンズ（３）として構成する。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view.例文帳に追加

ガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した５０μｍ×５０μｍの視野中に、直径１〜１０μｍの孔が、少なくとも５個存在するか、該視野中に存在する幅０．５〜５μｍの線状孔の全長さが、少なくとも５０μｍであることを特徴とするガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品である。 - 特許庁

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed.例文帳に追加

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁