「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

An inspection method of a semiconductor element using an emission microscope having time resolution comprises the steps of: applying a voltage pulse to the semiconductor element to be inspected; detecting a photon emitted from the semiconductor element to which the voltage pulse was applied per elapsed time; and determining whether the photon was detected during an on-state time after the semiconductor element changed from an off state to the on state.例文帳に追加

時間分解能を有するエミッション顕微鏡を用いた半導体素子の検査方法において、検査される半導体素子に電圧パルスを印加する工程と、前記電圧パルスが印加された状態における前記半導体素子より、放出されるフォトンを経過時間ごとに検出する工程と、前記半導体素子がオフ状態からオン状態となった後のオン状態の時間において、前記フォトンが検出されているか否かを判断する工程と、を有することを特徴とする半導体素子の検査方法を提供することにより上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method corresponding to the subject related to a sample holding stand, sample pretreatment and a sample holder for analyzing a structure, a composition and an electronic state in a device operated state by applying external voltage to a sample to be observed in a sample analyzer inclusive of a transmission electron microscope, and a sample analyzing method.例文帳に追加

透過電子顕微鏡をはじめとする試料分析装置において、観察しようとする試料に外部電圧を印加し、デバイスが動作状態のまま構造、組成、電子状態を分析するための、試料保持台、試料の前処理および試料ホルダに関する課題に対応する方法、および、当該試料の分析を行う方法を提供する。 - 特許庁

A intensive wet blasting operation is applied to a coating film of a CVD coated cutting tool equipped with a TiC_XN_Y layer containing a cemented carbide as base material and having a low tensile stress level of 50-390 Mpa and Al_2O_3 having a high surface smoothness with a mean Ra 0.12 μm or below as measured by the atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

超硬合金を母在とし、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具の被膜に、非常に激しい湿潤吹き付け処理を施す。 - 特許庁

To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁

The refractory steel has a composition containing 0.005 to 0.050% C, 0.50 to 2.00% Mn, 0.50 to 2.00% Cr, 0.10 to 0.50% V and 0.005 to 0.030% Ti, and has an optical microscope structure in which, by area fraction, ≥80% is composed of a bainitic phase or a martensitic phase.例文帳に追加

Ｃ：０．００５％以上０．０５０％以下、Ｍｎ：０．５０％以上２．００％以下、Ｃｒ：０．５０％以上２．００％以下、Ｖ：０．１０％以上０．５０％以下、Ｔｉ：０．００５％以上０．０３０％以下であり、光学顕微鏡組織が、面積分率で８０％以上がベイナイト相またはマルテンサイト相である耐火鋼材。 - 特許庁

The heat-resistance resin is obtained by subjecting to a crystallization treatment a film comprising 70-30 wt.% of a polyarylketone resin having a crystal melting peak temperature of at least 260°C and 30-70 wt.% of a non- crystalline polyetherimide resin and has a maximum crystal grain size of at most 0.3 μm as observed by a transmission electron microscope.例文帳に追加

結晶融解ピーク温度が２６０℃以上であるポリアリールケトン樹脂７０〜３０重量％と非晶性ポリエーテルイミド樹脂３０〜７０重量％とからなるフィルムを結晶化処理したフィルムであって、透過型電子顕微鏡で観察した際に、最大結晶粒径が０．３μｍ以下であることを特徴とする耐熱性フィルム。 - 特許庁

A main pattern of a photomask having a focus monitor mark capable of controlling a focus position can be subjected to a transfer simulation giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity, only by setting a focus controlling system 80 on a measurement stage of a lithographic simulation microscope, the system capable of giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity.例文帳に追加

リソグラフィシュミレーション顕微鏡の測定ステージに、ジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られるフォーカス制御システム８０をセットするだけで、フォーカス位置が制御可能なフォーカスモニターマークが配置されたフォトマスクのメインパターンをジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られる転写シュミレーションを行うことができる。 - 特許庁

A coal ash evaluation method: calculates a specific surface area of a particle of a specific type contained in coal ash to be used through a particle analysis using an electronic microscope; and evaluates a suppression effect of the coal ash to be used on an alkali-silica reaction by comparing data on expansion coefficients obtained through alkali-silica reaction tests using mortar mixed with preliminarily collected coal ash from different production areas.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた粒子解析により、使用する石炭灰中に含まれる特定の種類の粒子の比表面積を算出し、予め収集した産地の異なる石炭灰を混合したモルタルによるアルカリシリカ反応性試験の膨張率のデータとを比較し、使用する石炭灰のアルカリシリカ反応の抑制効果を評価する。 - 特許庁

To provide a magnetic domain observation method, a magnetic domain observation device and a magnetic domain observation program capable of acquiring a clear magnetization image by reducing deterioration of a magnetic domain contrast by image processing in detail, concerning magnetic domain observation using a microscope by utilizing a magnetic Kerr effect for observing the magnetic domain of a magnetic body such as a magnetic head.例文帳に追加

本発明は、磁気ヘッド等の磁性体の磁区を観察する磁気カー効果を利用した顕微鏡を用いた磁区観察に関し、より詳細には磁区コントラストの劣化を画像処理によって低減して明瞭な磁化画像を得ることができる磁区観察方法、磁区観察装置および磁区観察プログラムに関するものである。 - 特許庁

To quantitatively express directional properties(anisotropy) in a three-dimensional structure created by a target to be noticed in an image to a three-dimensional image constructed by a tomogram acquired nondestructively, a sectional image acquired by direct observations using a microscope, or the like by a nondestructive inspection, such as X rays and a nuclear magnetic resonance method.例文帳に追加

エックス線や核磁気共鳴法などの非破壊検査により非破壊で取得された断層画像や顕微鏡などの使った直接的な観察よって取得された断面の画像などから構築された３次元画像に対して、画像内にある注目対象が作る３次元構造の方向性（異方性）を定量的に表現する。 - 特許庁

As a result, the observation object can be observed from many aspects using a microscope.例文帳に追加

試料液供給手段１６から管部材６を通して試料液回収手段１８に観察試料液を流すと、管部材６を流れる際に観察試料液に含まれる観察体が多数の微小突部１２に衝突し、かかる衝突によって観察体が観察試料液の所定方向の流れを利用して回動し、その結果、顕微鏡を用いて観察体を多面的に観察することができる。 - 特許庁

To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に２個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the illuminator for the microscope, the light directing member is equipped with a switching mechanism for selectively arranging one of two or more kinds of light directing members between the sample placing plate and the surface light source.例文帳に追加

本発明の課題は、試料を載置するための光学的に透明な試料載置板と、試料載置板に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源と、前記面光源と前記試料載置板の間に照明光の拡散を制限する光指向部材とを備えている、顕微鏡用照明装置において、前記光指向部材は、複数種類の光指向部材のうちの一つを選択的に前記試料載置板と前記面光源との間に配置する切り換え機構を備えていることを特徴とする顕微鏡用照明装置によって解決される。 - 特許庁

To provide a technique capable of measuring accurately a topograph relative to even the sample surface whose accurate surface topograph measurement is difficult by a conventional method, by overcoming a defect that the accurate surface topograph can not be measured because an attraction detected by a cantilever tip includes both an interatomic force and an electrostatic force when executing the surface topograph measurement by a conventional noncontact type atomic force microscope.例文帳に追加

本発明は、従来の非接触型原子間力顕微鏡による表面トポグラフ計測の際に、カンチレバー先端で検出される引力には原子間力と静電気力の両方が含まれるために正確な表面トポグラフを計測できないという欠点を克服し、従来法では正確な表面トポグラフ計測が困難であった試料表面に対しても、そのトポグラフを正確に計測する技術を提供するものである。 - 特許庁

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order.例文帳に追加

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The silica-titania composite oxide particle produced by a vapor deposition method has a titania content of 50 wt.% or more, a BET specific surface area of 100 m^2/g or less, a containing rate of a silica single particle and a titania single particle by electron microscope observation of 10% or less, favorably 5% or less, and a hydrophobic surface.例文帳に追加

気相法によって製造されたシリカ・チタニア複合酸化物粒子であって、チタニアの含有量が５０重量％以上、ＢＥＴ比表面積が１００ｍ^2／ｇ以下、電子顕微鏡観察下においてシリカ単独粒子およびチタニア単独粒子の割合が１０％以下、好ましくは５％以下であり、表面が疎水化されているシリカ・チタニア複合酸化物粒子。 - 特許庁

Right and left pictures picked up by CCDs 18a and 18b arranged to have parallax right and left in a mirror body 6 constituting a surgical microscope are displayed on right and left LCDs 23a and 23b in an FMD 11 via a signal processing part 34 in the stereoscopic picture display controller 9, and optically stereoscopically observed by an operator with right and left eyes through zoom optical systems 22a and 22b.例文帳に追加

手術用顕微鏡を構成する鏡体６内で左右に視差を持つように配置されたＣＣＤ１８ａ、１８ｂにより撮像された左右の画像は、立体画像表示制御装置９の信号処理部３４を介してＦＭＤ１１の左右のＬＣＤ２３ａ、２３ｂに表示され、術者は左右の眼でズーム光学系２２ａ、２２ｂを経て光学的に立体観察する。 - 特許庁

In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁

In the method and apparatus for creating a template for template matching for specifying desired positions by comparing a previously stored template with images acquired by a microscope, in one embodiment for achieving the target, a plurality of images of a specific location are acquired by template matching, and averaged to thereby create a new template.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、予め記憶されたテンプレートと、顕微鏡によって取得された画像を比較することによって、所望の位置を特定するテンプレートマッチング用テンプレートの作成方法、及び装置において、テンプレートマッチングによって、特定された個所の画像を複数取得し、当該複数画像を加算平均することによって、新たなテンプレートを作成するテンプレートマッチング用テンプレートの作成方法、及び装置を提案する。 - 特許庁

In this extremely fine magnetic recording medium and its manufacturing method, non-oxidized regions enclosed by oxidized regions and oxidized regions enclosed by non-oxidized regions are arranged as an array by applying oxidation processing to the surface of a substrate which consists of magnetic material whose magnetic property is changed by oxidation by using an atomic force microscope under a wet atmosphere, and 1-bit information is made recordable in each region.例文帳に追加

酸化により磁気特性の変化する磁性材料からなる表面に対して、湿潤雰囲気下で原子間力顕微鏡を用いて酸化処理を施すことにより、酸化領域に囲まれた未酸化領域又は未酸化領域に囲まれた酸化領域をアレイ状に配し、前記各領域に１ｂｉｔの情報を記録可能とした、極微細な磁気記録媒体およびその製造方法。 - 特許庁

To provide a three-dimensional shape measuring device for measuring and displaying a three-dimensional shape efficiently by relating surface optical image information acquired by a confocal laser scanning type microscope with a simple configuration to height information acquired by a microscopic interference measurement method for management and easily acquiring the three-dimensional shape of a high-definition and high-resolution sample over a wide magnification range.例文帳に追加

簡単な構成で共焦点レーザ走査型顕微鏡によって取得される表面光学像情報と顕微干渉計測法によって取得される高さ情報を関連付けて管理し、広い倍率範囲に渡って高精細、高分解能な試料の３次元形状を容易に取得し、効率的にこの３次元形状を測定、表示する３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁

A surface area ratio ▵S^50 obtained from three-dimension data obtained by 512×512 point-measuring the 50 μm SQUARE of a surface by using an atomic force microscope and a steepness degree (a)45^50(0.2-2)例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、表面の５０μｍ□を５１２×５１２点測定して求められる３次元データより得られる表面積比ΔＳ^５０と、同じく表面の５０μｍ□を５１２×５１２点測定して求められる３次元データより波長０．２μｍ以上２μｍ以下の成分を抽出して得られる急峻度ａ４５^５０（０．２−２） とが、次の関係式［１］を満たすことを特徴とする平版印刷版用支持体。 - 特許庁

The present invention relates to a film thickness evaluation method for measuring the distribution of film thickness of an insulation thin film by using an atomic force microscope which applies a variable DC voltage between a sample and a probe held by a cantilever.例文帳に追加

試料と、カンチレバーに保持された探針との間に可変直流電圧を印加する原子間力顕微鏡を用いて、絶縁性薄膜の膜厚分布を測定する膜厚評価方法で、試料の測定領域に電圧を変化させて印加するとともに、発生電流および絶縁破壊電圧を測定し、前記測定領域のうち任意の１点の膜厚を基準値として、各測定点の絶縁破壊電圧および（１）式の関係に基づいて、前記測定領域内の相対膜厚の分布を求めることとする。 - 特許庁

an inherited condition marked by the following: (1) one or more first- or second-degree relatives (parent, sibling, child, grandparent, grandchild, aunt, or uncle) with malignant melanoma; (2) many moles, some of which are atypical (asymmetrical, raised, and/or different shades of tan, brown, black, or red) and often of different sizes; and (3) moles that have specific features when examined under a microscope. 例文帳に追加

以下を特徴とする遺伝性疾患：（1）悪性黒色腫を有する第一度または第二度近親者（両親、兄弟姉妹、子供、祖父母、孫、叔母、叔父）が1人以上存在する；（2）多数の母斑（ほくろ）が存在し、そのうちのいくつかが非典型的（左右が非対称である、盛り上がっている、および/または色調が黄褐色、褐色、黒、赤など様々である）で、多くの場合大きさは多様である；（3）母斑を顕微鏡で調べると特殊な特徴が認められる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

In the thermal transfer sheet having the photothermal conversion layer containing a dye having an unsaturated bond and a polymer, and an imaging layer on a support, the slice cross-section of a sample where the photothermal conversion layer containing a dye having an unsaturated bond and being dyed by osmium oxide is buried in resin is observed directly by means of a transmission electron microscope.例文帳に追加

即ち、支持体上に、不飽和結合を有する色素およびポリマーを含む光熱変換層と、画像形成層とを有する熱転写シートにおいて、酸化オスミウムにより不飽和結合を有する色素を選択的に染色させた光熱変換層を包埋樹脂により包埋した試料の薄切断面を透過型電子顕微鏡にて直接観察し、得られた該透過型電子顕微鏡による光熱変換層の観察画像の白黒の反射光学濃度を測定したときに、該反射光学濃度の分布が下記式（Ａ）（ＯＤ_ｍａｘ−ＯＤ_ｍｉｎ）／ＯＤ_ｍａｘ×１００≦５０を満足する光熱変換層を有することを特徴とする熱転写シート。 - 特許庁

Reflectance and adhesion with a sealing material are improved by making surface roughness Ra in measurement by a stylus surface roughness meter to be 0.010 μm or above and surface roughness Sa in measurement by an atomic force microscope to be 50 nm or below in the LED component material.例文帳に追加

金属基材上の、少なくとも片面もしくは両面に、一部もしくは全面に、電析によりめっき皮膜を析出させた後に、前記めっき皮膜の表面平滑化を加工して得られる、ＬＥＤ用部品材料において、針式表面粗さ計による測定での表面粗さＲａを０．０１０μｍ以上であり、かつ原子間力顕微鏡による測定で表面粗さＳａが５０ｎｍ以下であることで、反射率と封止材との密着性を向上させたことを特徴とするＬＥＤ用部品材料。 - 特許庁

The optical microscope adjusts a focusing position according to the contrast between the first and second detected images.例文帳に追加

本実施の形態にかかる光学顕微鏡は、光源１１と、光軸３８からずれて配置された第１遮光部３１と、光軸３８までの距離よりが短くなるように配置された第２遮光部３２と、第１遮光部３１を試料面よりも前側に結像するとともに、第２遮光部３２を試料面よりも後側に結像する照明光学系２０と、第１遮光部３１に対応する領域から対物レンズ１７を介して入射した光を受光する周辺部用焦点位置センサ２５と、第２遮光部３２に対応する領域から対物レンズ１７を介して入射した光を受光する中心部用焦点位置センサ２４と、第１検出像と第２検出像とのコントラストに応じて、焦点位置を調整するものである。 - 特許庁

To provide such a microscope which enables an operator to post focus an optical system acting for wide-angle observation during the time of visual procedure of the operator.例文帳に追加

光学系８が接眼レンズ４の光学的な軸線６の方向で載置されていて、かつ光学系８は光学的な軸線６の方向で目の手術の間直線伝動装置によって可動であるように、マイクロスコープ１に取付け可能な保持体７と、保持体において可動である、光学系８のための保持アーム９とから構成されている装置に配置されており、保持体７と保持アーム９との間に直線伝動装置Ｌが配置されている形式の、マイクロスコープ１の接眼レンズ４と目との間に位置する光学系８を用いて目を非接触式にワイドアングル観察するためのマイクロスコープを改良して、ワイドアングル観察するために働く光学系をオペレータによって目での処置の間、後フォーカシングすることができるようなマイクロスコープを提供する。 - 特許庁