「不良だ」を含む例文一覧(8200)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 163 164 次へ＞- 題：不良品
Subject: A defective product - Weblioビジネス英文メールテンプレート文例集 - 不良暖房.
bad heating - 研究社 新英和中辞典 - 半田不良発見器
SOLDER DEFECT DISCOVERY DEVICE - 特許庁 - 半田不良を防止する。
To prevent faulty solder. - 特許庁 - 断裁不良検出装置
CUTTING FAILURE DETECTING DEVICE - 特許庁 - 半田不良検査装置
SOLDERING DEFECT INSPECTION DEVICE - 特許庁 - （2）不良債権問題
(2) Non-performing loans - 経済産業省 - ただの消化不良だと思います。
I'm sure it's just indigestion. - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文 - これは初期不良だと思います。
I think this is an initial failure. - Weblio Email例文集 - 貸倒懸念債権は不良債権だ。
A loan with default possibility is a bad debt. - Weblio英語基本例文集 - 視界は良好[不良, ゼロ, 1 キロ]だ.
Visibility is good [bad, zero, one kilometer]. - 研究社 新英和中辞典 - そのビデオは全くの不良品だ。
The video is a real lemon! - Tatoeba例文 - そのビデオは全くの不良品だ。
The video is a real lemon! - Tanaka Corpus - ダイオード不良検出装置
DEFECTIVE DIODE DETECTING DEVICE - 特許庁 - 記録不良を目立たないようにする。
To make recording faults inconspicuous. - 特許庁 - 不良債権拡大の懸念等
Concerns about expanding nonperforming loans - 経済産業省 - 電子機器の不良診断装置及び電子機器の不良診断方法
FAULT DIAGNOSTIC DEVICE FOR ELECTRONIC EQUIPMENT, AND FAULT DIAGNOSTIC METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁 - 断裁不良検知装置とその断裁不良検知方法及び積層装置
SHEET CUTTING DEFECTION DETECTING DEVICE, ITS SHEET CUTTING DEFECTION DETECTING METHOD, AND STACKING DEVICE - 特許庁 - 半田付け不良除去装置および半田付け不良除去方法
DEVICE FOR REMOVING SOLDERING DEFECT AND METHOD FOR REMOVING SOLDERING DEFECT - 特許庁 - 液晶表示パネルの分断不良および静電気による不良をなくす。
To eliminate defects caused by defective segmentation and static electricity of a liquid crystal display panel. - 特許庁 - 配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法
TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD - 特許庁 - この判定領域３２のデータが全て“１”の場合には不良チップ座標３１の不良種別をシステム不良とし、その他の場合には不良チップ座標３１の不良種別をランダム不良とする。
When the test data of the judgement area 32 are all "1", the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a system failure, and in the other cases, the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a random failure. - 特許庁 - そして、上述した手順により、第２不良ブロック５から第３不良ブロック６へ、同様にして第４不良ブロック７、第５不良ブロック８、第６不良ブロック９、そしてこの半導体ウエハ１の最終の第７不良ブロック１０へと順次に移動し各不良ブロック内の不良チップに不良マークを印字する。
Then, as for the procedure described above, the marker moves from the second defective block 5 to a third defective block 6, and similarly moves sequentially to a fourth defective block 7, a five defective block 8, a sixth defective block 9, and a final seventh defective block 10 of the semiconductor wafer 1, to print the defective marks on defective chips in each defective block. - 特許庁 - テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。
In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected. - 特許庁 - 連続紙の切断装置、切断不良検出装置および切断不良検出方法。
CONTINUOUS PAPER CUTTING DEVICE AND CUTTING MALFUNCTION DETECTING DEVICE AND METHOD - 特許庁 - この認識処理の結果がダイの立ち不良等であれば、ＣＰＵにより認識不良と判断される。
When the result of this recognition processing is defective standing etc. of the die, a CPU judges it to be defective recognition. - 特許庁 - 不良波形データを蓄積した不良波形データベースから該当する回路の不良波形データを取り出し、波形発生部にて実体化する。
A defective waveform data for a circuit is taken out of a defective waveform database where defective waveform data is accumulated, and materialized at a waveform generating part. - 特許庁 - 良／不良判定部９は、不良解析メモリ８に書き込まれたフェイル／パス信号を読み出して被試験試料１２の良／不良を判定する。
A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2. - 特許庁 - 短絡不良の発生が同定されたならば、不良信号送信手段が、不良同定信号を地上側に送信する。
When the generation of the short-circuit is identified, a failure signal sending means sends a failure identifying signal to a ground side. - 特許庁 - 不良解析の初期段階で不良要因を推定し、不良解析の確度の向上、および解析時間を短縮化させる。
To estimate the cause of a failure at an early stage of a failure analysis, improve the accuracy of the failure analysis and shorten the analysis time. - 特許庁 - 試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。
While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted. - 特許庁 - スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。
In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6. - 特許庁 - 合致しない場合は、再度不良波形データベースから別の不良波形を取り出し比較を行う。
At disagreement, another defective waveform is taken out of the defective waveform database again for comparison. - 特許庁 - 不良が発生していた場合、データベース２内に不良情報として存在するか判断する（Ｓ６）。
When the failure has been occurred, whether or not it exists in the database 2 as failure information is decided (S6). - 特許庁 - マグネットコンダクタの機械的不良検出装置及びその機械的不良検出方法
MECHANICAL FAILURE DETECTING DEVICE FOR MAGNET CONDUCTOR AND MECHANICAL FAILURE DETECTING METHOD - 特許庁 - 半導体装置の不良分析のための分析構造体及びこれを用いた不良分析方法
ANALYSIS STRUCTURE FOR FAILURE ANALYSIS IN SEMICONDUCTOR DEVICE, AND FAILURE ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁 - 不良マークに大気圧下で酸素プラズマを照射し、高さの低い不良マークを得る。
To obtain defective marks of low height, oxygen plasma is irradiated at the defective marks under atmospheric pressure. - 特許庁 - 検査手段14による検査時に不良品が存在した場合、制御装置20がその不良品を特定する。
When a defective part is found during the inspection by the inspection means 14, the controller 20 specifies the defective part. - 特許庁 - 半田の厚さに関係なくツノ不良及びブリッジ不良の判定を簡便かつ精度良く行う。
To determine simply and accurately a spike defect and a bridge defect regardless of the thickness of solder. - 特許庁 - 第１検出部４１は、不良セルを含むブロックを先天性不良ブロックとして検出する。
A first detection unit 41 detects a block including a defective cell as a congenital defective block. - 特許庁 - プリント基板の半田付け不良検出装置およびプリント基板搭載の電子部品不良検出装置
PRINTED CIRCUIT BOARD DEFECTIVE SOLDERING DETECTOR AND PRINTED CIRCUIT BOARD MOUNTING ELECTRONIC PART DEFECT DETECTOR - 特許庁 - 成形不良が発生した場合に、成形不良が発生したと確実に判断することができるようにする。
To surely judge generation of defective molding when the defective molding is generated. - 特許庁 - 穿孔圧延の不良の検知の精度が高い不良検知方法を提供することを課題とする。
To provide a method for detecting defects in rotary piercing with high accuracy. - 特許庁 - 短絡不良同定手段は、列車１０−１による軌道回路の短絡不良の発生を同定する。
A short-circuit identifying means identifies the generation of the short-circuit in the track circuit due to a train 10-1. - 特許庁 - どうも通信不良の原因は当方にあるようだ。
We seem to be the cause of the poor communication. - Weblio Email例文集 - 私はそこで買ったスプレーは不良品だった。
The spray I bought there was faulty. - Weblio Email例文集 - 不良品をどのように交換したらよいか教えてください。
Please let us know how to exchange the defective product. - Weblioビジネス英文メールテンプレート文例集 - この辺は不良が多くなったので物騒だ.
There are so many hooligans about that the neighborhood isn't safe any longer. - 研究社 新和英中辞典 - 不良品を選り分けるのは大変だ.
It is very difficult to sort out [which are] inferior goods. - 研究社 新和英中辞典 - 多くの生徒の中には不良少年もいるだろう
Among so many students, there must be some bad boys. - 斎藤和英大辞典
- 経済産業省
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「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編
- 特許庁
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