「探針」を含む例文一覧(1210)
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PROBE DEVICE - 特許庁 - 探針電極
PROBE ELECTRODE - 特許庁 - 探針カ—ド
PROBE CARD - 特許庁 - ス—パ—探針
SUPER PROBE - 特許庁 - 傷を探る
（探針を用いてなら） to probe a wound―sound a wound―（探針を用いずになら）―explore a wound - 斎藤和英大辞典 - 探針で傷を探る
to probe a wound - 斎藤和英大辞典 - 探針作製方法およびその探針
PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE - 特許庁 - 測定用探針
PROBE FOR MEASUREMENT - 特許庁 - 生検用探針
PROBE FOR BIOPSY - 特許庁 - 探針製造方法、探針製造装置及び探針
PROBE MANUFACTURING METHOD, PROBE MANUFACTURE DEVICE, AND PROBE - 特許庁 - 信号探針及び探測方法
SIGNAL PROBE AND METHOD FOR MEASURING PROBE - 特許庁 - 傷に探針を入れる
to introduce a probe into a wound - 斎藤和英大辞典 - ２探針ケルビンプローブ
TWO-PROBE KELVIN PROBE - 特許庁 - ＣＮＦ探針カンチレバー
CNF PROBE CANTILEVER - 特許庁 - 電子源用探針
PROBE FOR ELECTRON SOURCE - 特許庁 - 尿道探針装置
URETHRA SEARCH UNIT DEVICE - 特許庁 - 探針型医療器具
PROBE TYPE MEDICAL APPLIANCE - 特許庁 - 探針の位置決め装置
PROBE POSITIONING DEVICE - 特許庁 - 走査型探針装置
SCANNING PROBE DEVICE - 特許庁 - 探針位置制御装置
PROBE POSITION CONTROL DEVICE - 特許庁 - 探針の製造方法
MANUFACTURING METHOD OF PROBE - 特許庁 - 探針の走査方法
PROBE SCANNING METHOD - 特許庁 - 高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針
HIGH-FREQUENCY OSCILLATION PROBE FOR HIGH-SPEED SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁 - 導電性探針及び磁性探針の製造方法
METHODS FOR MANUFACTURING CONDUCTIVE PROBE AND MAGNETIC PROBE - 特許庁 - 微小探針の作製方法、及び微小探針
MANUFACTURE OF VERY SMALL PROBE AND VERY SMALL PROBE - 特許庁 - 探針評価方法及び探針評価用チップセット
PROBE EVALUATION METHOD AND CHIP SET FOR PROBE EVALUATION - 特許庁 - 探針交換方法及び探針交換用冶具
PROBE REPLACEMENT METHOD AND TOOL - 特許庁 - 探針収納容器、プローバ装置、探針配置方法、及び探針収納容器の製造方法
PROBE HOUSING CONTAINER, PROBER, PROBE ARRANGEMENT METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ITS PROBE HOUSING CONTAINER - 特許庁 - 探針、探針形成用エッチングマスク及びそれを用いた探針の製造方法
PROBE, ETCHING MASK FOR FORMING PROBE AND PROBE MANUFACTURING METHOD USING ETCHING MASK - 特許庁 - 走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法
METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁 - 探針設計支援システム、探針設計支援方法及び探針設計支援プログラム
PROBE DESIGN SUPPORT SYSTEM, PROBE DESIGN SUPPORT METHOD AND PROBE DESIGN SUPPORT PROGRAM - 特許庁 - ほし草の山の中に針を探す
To look for a needle in a haystack. - 英語ことわざ教訓辞典 - 走査探針顕微鏡用プローブ
PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁 - 走査型プローブ顕微鏡用探針
PROBE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE - 特許庁 - ナノチューブ探針の製造方法
MANUFACTURING METHOD FOR NANOTUBE PROBE - 特許庁 - ナノチューブを用いた探針
PROBE USING NANOTUBE - 特許庁 - 探針および磁気力顕微鏡
PROBE AND MAGNETIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁 - 探針固定機能付試料台
SAMPLE BASE HAVING PROBE FIXING FUNCTION - 特許庁 - ４探針抵抗率測定装置
FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING DEVICE - 特許庁 - 超解像探針及びその装置
SUPER RESOLUTION PROBE AND ITS DEVICE - 特許庁 - プローブカード探針の研磨装置
POLISHING DEVICE FOR PROBE OF PROBE CARD - 特許庁 - 磁気力顕微鏡用の磁性探針
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC-FORCE MICROSCOPE - 特許庁 - 電気信号測定用探針
ELECTRICAL SIGNAL MEASURING PROBE - 特許庁 - ４探針抵抗率測定装置
FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASUREMENT DEVICE - 特許庁 - 金属探針の製造方法
METHOD FOR MANUFACTURING METAL PROBE - 特許庁 - 光ファイバー探針の製造方法
METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FIBER PROBE - 特許庁 - 探触子用穿刺針アダプタ
PUNCTURE NEEDLE ADAPTER FOR PROBE - 特許庁 - 分割探針の製造方法
METHOD FOR MANUFACTURING SPLIT PROBE - 特許庁 - 磁気探針およびその製造方法
MAGNETIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁 - 半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法
PROBE ALIGNMENT CONFIRMATION CIRCUIT AND PROBE ALIGNMENT CONFIRMATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
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「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編
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