構造物の欠陥検出方法および欠陥検出装置 DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF STRUCTURE - 特許庁
微細構造物の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS OF MICROSTRUCTURE - 特許庁
構造物欠陥深さ測定方法 MEASURING METHOD FOR DEPTH OF DEFECT IN STRUCTURE - 特許庁
構造物の欠陥評価方法 DEFECT EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE - 特許庁
微小構造欠陥の検出 DETECTION OF FINE STRUCTURE DEFECTS - 特許庁
構造物の内部欠陥検知方法 INTERNAL FLAW DETECTING METHOD FOR STRUCTURE - 特許庁
ハニカム構造体欠陥検査装置、及びハニカム構造体欠陥検査方法 APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF HONEYCOMB STRUCTURE DEFECT - 特許庁
目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SEALED HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁
マトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置 DEFECT DETECTION METHOD OF MATRIX STRUCTURE AND DEFECT DETECTION DEVICE OF MATRIX STRUCTURE - 特許庁
ハニカム構造体の欠陥の検査方法、及び、ハニカム構造体の欠陥の検査装置 METHOD AND DEVICE FOR CHECKING DEFECT OF HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁
マトリクス構造の欠陥検出装置およびマトリクス構造の欠陥検出方法 DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF MATRIX STRUCTURE - 特許庁
コンクリート構造物中の欠陥検査方法 INSPECTING METHOD FOR FLAW IN CONCRETE STRUCTURE - 特許庁
鋼構造物の欠陥検出方法および装置 METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN STEEL STRUCTURE - 特許庁
円筒形構造物の欠陥検出方法 DEFECT DETECTION METHOD OF CYLINDRICAL STRUCTURE - 特許庁
複合構造内の欠陥を識別するためのシステム SYSTEM FOR IDENTIFYING DEFECT IN COMPLEX STRUCTURE - 特許庁
微細構造物中の欠陥を検出する方法 METHOD FOR DETECTING FLAW IN MICROSTRUCTURE - 特許庁
構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT OF STRUCTURE - 特許庁
微細構造観察方法および欠陥検査装置 METHOD OF OBSERVING MICROSTRUCTURE, AND FLAW INSPECTION DEVICE - 特許庁
ウェーハー表面の構造欠陥を査定する方法 METHOD OF ASSESSING STRUCTURAL DEFECT ON WAFER SURFACE - 特許庁
構造体の内部欠陥検出方法 INTERNAL DEFECT DETECTING METHOD FOR STRUCTURE - 特許庁
炉内構造物の欠陥裕度評価方法 DEFECT TOLERANCE EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE WITHIN REACTOR - 特許庁
微細構造を有する部材の欠陥除去方法 METHOD OF REMOVING DEFECT FROM MEMBER HAVING FINE STRUCTURE - 特許庁
構造物の欠陥検出方法および装置、ならびに欠陥検出機能を備えた荷役機械 FLAW DETECTION METHOD OF STRUCTURE, FLAW DETECTOR OF STRUCTURE AND LOADING MACHINE EQUIPPED WITH FLAW DETECTION FUNCTION - 特許庁
当該欠陥管理領域の一時的欠陥管理領域(TDMS)には、複数の欠陥領域リスト(TDFL)と、構造情報(TDDS)とが記録されている。 A plurality of defective area lists (TDFL) and structure information (TDDS) are recorded in the temporary defect management area (TDMS) of the defect management area. - 特許庁
構造物の欠陥の形状および深さを短時間で正確に検知できる欠陥診断方法および欠陥診断システムを実現する。 To provide a method and system for diagnosis of defects, capable of accurately detecting the shape and depth of the defects of a structure in a short period of time. - 特許庁
構造物に形成されたひび割れ欠陥検出プログラム、ひび割れ欠陥検出方法及びひび割れ欠陥検出システム PROGRAM, METHOD, AND SYSTEM FOR DETECTING CRACK DEFECT GENERATED ON STRUCTURE - 特許庁
土中構造物の欠陥評価装置、欠陥評価方法および欠陥評価方法をコンピュータに実行させるプログラム DEFECT EVALUATING APPARATUS OF UNDERGROUND STRUCTURE, DEFECT EVALUATING METHOD AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE SAME - 特許庁
データ構造は、空間ビットマップ及び欠陥管理構造を含む。 The data structures include space bit map and defect management structures. - 特許庁
欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size. - 特許庁
また,上記構造欠陥を有するカーボンナノホーン19は,カーボンナノホーンを焼成することにより構造欠陥を設けてなることが好ましい。 In addition, the carbon nanohorns 19 with structural defects are preferably provided with the structural defects by burning carbon nanohorns. - 特許庁
構造体の欠陥の有無を、構造体を破壊することなく簡便且つ正確に検知することができる欠陥検知方法及びシステムを提供する。 To provide a defect detecting method and system capable of easily and accurately detecting the existence of a defect of a structure without destroying the structure. - 特許庁
明視野照明は、複合構造における欠陥によって、複合構造のうち欠陥のない部分とは異なるように反射される。 The bright field illumination is reflected by the defect in the composite structure differently from a nondefective portion out of the composite structure. - 特許庁
簡略化した検査では家の構造的欠陥を発見できなかった a casual (or cursory) inspection failed to reveal the house's structural flaws
- 日本語WordNet
見えないこと(特に目の構造的欠陥または欠如のため、) sightlessness (especially because of a structural defect in or the absence of an eye)
- 日本語WordNet
低欠陥密度を有するエピタキシャル構造およびその製造方法 EPITAXIAL STRUCTURE HAVING LOW DEFECT DENSITY, AND PRODUCTION PROCESS OF THE SAME - 特許庁
導電性ナノスケール構造の欠陥及び導電率の工学処理方法 ENGINEERING PROCESSING METHOD OF DEFECT AND ELECTRIC CONDUCTIVITY OF CONDUCTIVE NANOSCALE STRUCTURE - 特許庁
半導体集積回路の配線欠陥検査方法および構造 METHOD AND STRUCTURE FOR INSPECTING WIRING DEFECT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
構造物Tに深く存在する欠陥を検出することができる。 Therefore, a defect existing deeply in the structure T can be detected. - 特許庁
光記録媒体における欠陥管理情報のデータ構造 DATA STRUCTURE OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION IN OPTICAL RECORDING MEDIUM - 特許庁
処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 The processing element can identify a defect of the complex structure. - 特許庁
構造欠陥の発生を抑制したガラス脱水方法を提供すること。 To provide a glass dehydration method by which occurrence of structural defects is suppressed. - 特許庁
マトリクス構造における進行性のある欠陥を容易に検出可能にする。 To easily detect a progressive defect of a matrix structure. - 特許庁
トンネル等の構造物の微小な欠陥を正確に検出することができる。 To accurately detect micro-defects of a structure such as a tunnel. - 特許庁
マトリクス構造における点状の欠陥を容易に検出可能にするマトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置を提供する。 To provide a defect detection method for matrix structure and defect detection device of matrix structure which make it possible to easily detect point-like defects in matrix structure. - 特許庁
基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect. - 特許庁
外周壁近傍のセルを構成する隔壁の欠陥箇所を感度良く検出するハニカム構造体欠陥検査装置及びハニカム構造体欠陥検査方法を提供する。 To provide an apparatus and method for inspection of honeycomb structure defects, wherein defective places of partitions for composing cells near outer peripheral walls are detected with an improved sensitivity. - 特許庁
本発明の目的は、原子炉圧力容器内部の構造物表面に開口した亀裂等の欠陥を確実に封止でき、この欠陥を構造物の外部環境から確実に隔離できる欠陥補修方法を提供することにある。 To provide a defect repairing method for positively sealing a defect such as a crack opened in the surface of a structure inside a reactor pressure vessel and positively isolating the defect from the external environment of the structure. - 特許庁
簡易な構成で、かつ、より確実に欠陥の有無の定量評価が可能な、構造物の欠陥検出方法および構造物の欠陥検出装置を提供する。 To provide a defect detection method of a structure and a defect detection device of the structure capable of quantitative evaluation of existence of a defect more surely by a simple constitution. - 特許庁
腐食による欠陥の程度をより精度よく評価することができる土中構造物の欠陥評価装置を提供する。 To provide an underground structure defect evaluation apparatus capable of accurately evaluating the degree of a defect caused by corrosion. - 特許庁