「減磨」を含む例文一覧(1435)

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  • らすこと
    an abrasion  - EDR日英対訳辞書
  • (物が)
    to be worn away by friction  - EDR日英対訳辞書
  • る、または蝕まれる
    wear away or erode  - 日本語WordNet
  • された研性を有する歯き剤組成物
    DENTIFRICE COMPOSITION HAVING REDUCED ABRASIVITY - 特許庁
  • それらはとてもっていました
    They had been worn right down.  - Weblio Email例文集
  • このタイヤはだいぶんっている。
    This tire is showing wear. - Tatoeba例文
  • 浸食やか蒸発により
    wear away through erosion or vaporization  - 日本語WordNet
  • 毛がって糸が出ている
    having the nap worn away so that the threads show through  - 日本語WordNet
  • って臼のようになった歯
    a worn-down hollow tooth  - EDR日英対訳辞書
  • (物が)ってなくなる
    to be worn completely away by friction  - EDR日英対訳辞書
  • このタイヤはだいぶんっている。
    This tire is showing wear.  - Tanaka Corpus
  • 耗低部材を有するちり取り
    DUSTPAN HAVING WEAR-REDUCING MEMBER - 特許庁
  • ある文字が他の字よりるし、あるものは片側だけるのです。
    Some letters get more worn than others, and some wear only on one side.  - Arthur Conan Doyle『シャーロック・ホームズの冒険』
  • 品質を低下させることなく、研剤の使用量を大幅にらして研することができる研方法、研装置を提供する。
    To provide a polishing method and a polishing device that can execute polishing with remarkably reduced usage of abrasive without degrading polishing quality. - 特許庁
  • 装置の研パッドの直径を小さくすることで、研パッドに必要なコストを低する。
    To reduce cost required by a polishing pad by reducing the diameter of the polishing pad of a polishing device. - 特許庁
  • 時のエロージョンを低できる半導体装置の研方法および研装置を得る。
    To obtain a polishing apparatus for a semiconductor device, capable of reducing erosion at the time of polishing. - 特許庁
  • 液中の砥粒や、研布の消耗を低させるための研装置を提供すること。
    To provide a grinding device for reducing an abrasive grain in abrasive liquid or the consumption of an abrasive cloth. - 特許庁
  • 欠陥を少させ、研速度を高める研パッドを提供する。
    To provide a polishing pad reducing defects and increasing polishing speed. - 特許庁
  • 体の清掃作業を軽出来る書籍端面研方法
    METHOD FOR GRINDING BOOK END FACE CAPABLE OF REDUCING CLEANING WORK FOR GRINDING BODY - 特許庁
  • スクラッチを低しつつSiOC膜を研可能な研液を提供する。
    To provide a polishing solution polishing an SiOC film while reducing scratches. - 特許庁
  • 速度が向上し、且つロールオフを低し得る研液組成物、該研液組成物を用いて被研基板を研する被研基板の研方法及び前記研液組成物を用いて被研基板を研する工程を有する基板の製造方法を提供すること。
    To provide an abrasive fluid composition which can increase a grinding speed, lowers a roll-off, to provide a method of grinding the substrate with the abrasive fluid composition and a method of producing semiconductor substrates by grinding with the abrasive fluid composition. - 特許庁
  • しかも従来の研装置の場合では、研中、常時、研剤を供給していたが、研装置10では、研剤を貯液部材17に貯液したまま研するため、研剤の使用量を低させることができる。
    Furthermore, the abrasive agent is always fed during grinding in a conventional grinding device, but the amount of the abrasive agent used can be reduced since the grinding is carried out while the abrasive agent is stocked in the member 17 for stocking the liquid in the grinding device 10. - 特許庁
  • 被研膜と研パッドとの摩擦が小さく、研後の表面に生じる欠陥を低して、大きな研速度で被研膜を研でき、しかも廃液の環境負荷の小さな化学的機械的研方法を提供する。
    To provide a chemical and mechanical polishing method by which friction between a film to be polished and a polishing pad is sufficiently small to reduce defects on the surface after polishing, the film to be polished can be polished at a high polishing speed and moreover, the impact of waste liquid to environment is small. - 特許庁
  • アルミナの粒径が小さくても研対象を迅速に研することができ、尚かつ研後の研対象の表面欠陥を低することができる研用組成物、及びその研用組成物を用いた研方法を提供する。
    To provide a composition for polishing capable of rapidly polishing a subject to be polished even when particle diameter of alumina is small and capable of reducing surface defect of the subject to be polished after polishing and to provide a polishing method using the abrasive composition. - 特許庁
  • 用組成物を用いて研した後の研対象物表面における研加工に起因するLPD(light point defects)の数を低することが可能な研用組成物及びその研用組成物を用いた研方法を提供する。
    To provide a polishing composition which can reduce the number of LPD (light point defects) caused by polishing in the surface of an object to be polished after carrying out polishing by using a composition for polish, and a polishing method using the polishing composition. - 特許庁
  • 化学的機械研法を用いた研装置において、研剤の消費量を低可能で、研剤の粒径拡大化による被研対象物に発生するスクラッチを低可能な研装置を提供する。
    To reduce a consumption amount of abrasive and reduce scratch generating in an object to be polished due to the expansion of a grain diameter of abrasive in a polishing device employing a chemical and mechanical polishing method. - 特許庁
  • 装置への供給前に研スラリー中の凝集砥粒数を確実に低し、研処理後の被研物の研面におけるスクラッチの発生を低できる化学機械研方法を提供すること。
    To provide a chemical machine polishing method for positively reducing the number of cohesive abrasive grains in a polishing slurry before supplied to the polishing device and causing less scratches on the polished surface of a material after polished. - 特許庁
  • 耗率を有する医療用インプラントの支持材料および耗率の少法
    SUPPORTING MATERIAL FOR MEDICAL IMPLANT HAVING REDUCED WEAR RATE AND METHOD FOR REDUCING WEAR RATE - 特許庁
  • 装置において、被研物に対する研の偏りを容易に低することができ、被研面の形状精度を向上することができるようにする。
    To improve shape accuracy in a polishing object surface, by easily reducing uneven polishing of a polishing object, in a polishing device. - 特許庁
  • 機からの振動の影響を低し、低圧研でも被研物の平坦性を向上させることができる研パッドを提供する。
    To provide a polishing pad capable of reducing influence of vibration from a polishing machine and improving flatness of a material to be polished even in a case of low-pressure polishing. - 特許庁
  • スクラッチおよびエロージョンを低しつつ、高い研速度で被研面を研可能な研布を提供する。
    To provide a polishing cloth with which a surface to be polished can be polished at a high polishing speed while reducing scratch and erosion. - 特許庁
  • レートの向上、スクラッチの低、研量のウエハ面内でのバラツキを小さくし、研スラリの消費低、更に被研体と研パッドとの間の適切なスラリの保持、研レートの適正値維持、被研体における研後の面内均一性の向上を図る。
    To achieve improvement in polishing rate, decrease in scratch, reduction of variation in polishing level in a wafer surface, and decrease in consumption of polishing slurry, and furthermore to achieve appropriate holding of the slurry between an object and a polishing pad, with a value of polishing rate kept appropriate, and with in-plane uniformity of the object improved after polishing. - 特許庁
  • 材料費を削でき、しかも研しやすく、研コストおよび研時間の削を可能とするスローアウェイチップを提供する。
    To provide a throw-away tip allowing reduction of material cost, easy polishing, and reduction of polishing cost and polishing time. - 特許庁
  • 鋸ややすりのった目を鋭くすること
    the action of sharpening dull files or saws  - EDR日英対訳辞書
  • スラリー消費を低するための溝を有する研パッド
    POLISHING PAD HAVING GROOVE FOR REDUCING SLURRY CONSUMPTION - 特許庁
  • 工具耗低銅合金鋳塊及び銅合金管
    TOOL-WEARING REDUCED COPPER ALLOY CAST BILLET AND COPPER ALLOY TUBE - 特許庁
  • 応力が軽した窓を有する研パッド
    POLISHING PAD HAVING WINDOW WITH STRESS REDUCED - 特許庁
  • 靴踵の左右のり具合を均一にする靴
    SHOES FOR UNIFORMING ABRASION OF RIGHT AND LEFT SHOE HEELS - 特許庁
  • 表面粗部をらした窓を有する研パッド
    POLISHING PAD HAVING WINDOW WITH REDUCED SURFACE ROUGHNESS - 特許庁
  • パチンコ玉の研シートへの過度の負担を軽する。
    To reduce the excessive load on an abrasive sheet for pachinko ball. - 特許庁
  • スラリーの分離を低できる研装置を提供する。
    To provide a polishing device reducing the separation of a slurry. - 特許庁
  • 再研工具による加工コスト低の方法
    METHOD FOR REDUCING PROCESSING COST BY REPOLISHED TOOL - 特許庁
  • チョコレート用り防止コーティング
    ANTI-SCUFF COATING FOR CHOCOLATE - 特許庁
  • 耗を低する調整可能なロータリーポンプ
    ADJUSTABLE ROTARY PUMP REDUCING WEAR - 特許庁
  • また、無端研ベルト30(ダイヤモンド研布)による研では、ダイヤモンド砥石による研と異なり弾性研が可能であることから、研中にシリコンブロック表面に入る微小なクラックを軽することができる。
    Moreover, unlike the case of polishing by a diamond wheel, in polishing by the endless abrasive belt 30 (diamond polishing cloth), elastic polishing is possible; and thereby, minute cracks occurring on the surface of the silicon block during polishing the surface can be reduced. - 特許庁
  • ダイヤモンド粒子を研剤とした、仕上げ研前の粗研用としての研シ—トにおいて、光コネクタ端面の傷つきを防止でき、また研時間の短縮化をはかれ、さらにコストの低もはかれる上記研シ—トを提供する。
    To provide a polishing sheet comprising diamond particles as abrasive agent for rough polishing prior to finish polishing capable of preventing damage on an end surface of a photoconnector, shortening polishing time, and reducing cost. - 特許庁
  • ウェハを研する際に、ウェハの被研面と研パッドの接触圧と定盤の回転数が低い条件であっても高研速度でディッシングを低した研が可能な化学的機械的研方法を提供すること。
    To provide a chemical mechanical polishing method capable of polishing at a high polishing speed and with reduced dishing, even in conditions that a contact pressure between a surface to be polished of a wafer and a polishing pad and the rotational speed of a polishing table are low in polishing the wafer. - 特許庁
  • 用組成物を用いて研した後の研対象物表面における65nm以上のサイズのLPDの数を低することが可能な研用組成物及びその研用組成物を用いた研方法を提供する。
    To provide a polishing composition which can reduce the number of LPD (Light Point Defects) with a size of 65 nm or more, and to provide a polishing method using the polishing composition, on the surface to be polished after carrying out polish by using a composition for polish. - 特許庁
  • 被加工物の研面への研剤の均一で安定した供給を行うことができ、研剤の外部への飛散を少でき、研熱量の発生を抑えることができ、被加工物の研面を均一且つ平坦に研できる研方法及び研装置を提供する。
    To provide a polishing method and device for uniformly and stably supplying abrasive to the polished surface of a workpiece, reducing the splash of the abrasive to outside, suppressing the occurrence of polishing heat quantity, and uniformly and flatly polishing the polished surface of the workpiece. - 特許庁
  • その結果、内部の酸素量が低し、フレッティング耗を低できる。
    As a result, the amount of internal oxygen is reduced to reduce fretting wear. - 特許庁
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  • 原題:”The Adventures of Sherlock Holmes”

    邦題:『シャーロック・ホームズの冒険』
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