探触子用穿刺針アダプタ PUNCTURE NEEDLE ADAPTER FOR PROBE - 特許庁
位置検出器及びその接触針 POSITION DETECTOR AND CONTACTING NEEDLE THEREOF - 特許庁
該第2針受け8に設けられる針支持部9は、針下死点時に針下端より上方かつ針案内部6より下方に位置し、針下死点付近で針が後方へ湾曲する場合に針と接触し針を支持する。 A needle-support portion 9 provided at the second needle guard 8 is positioned above the lower end of the needle at the lower dead center and below the needle guide portion 6, and when the needle is curved rearward near the lower dead center, the needle support portion makes contact with the needle and supports the needle. - 特許庁
探触子の針誘導路内挿入用バルーン付き穿刺針および探触子の針誘導路内挿入用バルーン付き穿刺針組立体 PUNCTURE NEEDLE WITH BALLOON TO BE INSERTED IN NEEDLE GUIDING PASSAGE OF PROBE AND PUNCTURE NEEDLE ASSEMBLY WITH BALLOON TO BE INSERTED IN NEEDLE GUIDING PASSAGE OF PROBE - 特許庁
探触子の採卵針誘導路内挿入用採卵針用シース EGG COLLECTION NEEDLE SHEATH FOR INSERTION OF PROBE INTO EGG COLLECTION NEEDLE GUIDE PATH - 特許庁
プローブ探針の針ズレや接触圧力の不均等が発生する。 To provide a probe device in which misregistration or nonuniform contact pressure of probe needles does not occur. - 特許庁
表面形状測定用触針式段差計及びその針圧補正方法 PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND ITS NEEDLE PRESSURE CORRECTION METHOD - 特許庁
触針式表面形状測定器及びそれの探針の取付け方法 STYLUS TYPE SURFACE PROFILE MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF INSTALLING PROBE THEREOF - 特許庁
針跡確認部材にプローブ針を接触させて、針跡を付ける(S3)。 The probe needle is brought into contact with the needle-trace confirming member, and the needle trace is formed (S3). - 特許庁
複数針用のミシンに適用させると共に右針以外の針が近接センサに接触しないような針折れ検出装置を提供する。 To provide a needle breakage detector which is applied to a sewing machine for a plurality of needles and prevents the needle other than a right needle from making a contact with a proximity sensor. - 特許庁
プローバの触針のクリーニング機構 CLEANING MECHANISM OF CONTACT NEEDLE OF PROBER - 特許庁
隔壁接触リード誘導用プリフォーム探り針 PREFORMED STYLET FOR GUIDING LEAD TO CONTACT SEPTUM - 特許庁
プローバ及びプローブ針接触方法 PROBER AND METHOD FOR TOUCHING PROBE NEEDLE - 特許庁
触針クリーニング機構を備えたプローバ PROBER PROVIDED WITH TRADER CLEANING MECHANISM - 特許庁
増大された接触領域を有するペン用針ハブ PEN NEEDLE HUB HAVING INCREASED CONTACT AREA - 特許庁
接触検出器及びその検出針 CONTACT DETECTOR AND ITS DETECTION NEEDLE - 特許庁
プローブカードの触針のクリーニング方法 CLEANING METHOD OF PROBE IN PROBE CARD - 特許庁
触針の汚損物を除去する際に、触針が曲がることが無く、かつ汚損物が他の触針に再付着することがなく、しかも各触針を均一な圧力で浄化する。 To clean up a sensing pin under uniform pressure, when defacement on a sensing pin is removed, without bending the sensing pin and without allowing reattachment of defacement on the other sensing pin. - 特許庁
触針式プローブ機構の制御方法及び装置 METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING STYLUS TYPE PROBE MECHANISM - 特許庁
針金接触子を備えたディプスイッチ DIP SWITCH PROVIDED WITH WIRE ARMATURE - 特許庁
触針式段差計における変位センサ用差動トランス DIFFERENTIAL TRANSFORMER FOR DISPLACEMENT SENSOR IN PROBE TYPE STEP PROFILER - 特許庁
表面形状測定触針及びその製造方法 SURFACE SHAPE MEASURING STYLUS AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
また、本発明は前記触針の製造方法も提供する。 The present invention provides also a manufacturing method for the stylus. - 特許庁
コンタクトプローブ10の接触針4を感圧紙3に接触させる。 A contact needle 4 of the contact probe 10 is brought into contact with the pressure-sensitive paper 3. - 特許庁
微細触針のホルダを微動アクチュエータに取り付け、前記微細触針がその軸方向に測定対象と接触する際、微細触針が座屈しないよう触針を引き上げて接触から逃がすこと、さらに、座屈の恐れがないときには接触から逃がさないようにする。 The holder of the fine probe needle is attached to a fine movement actuator, and when the fine probe needle comes into contact with the measuring object in its axial direction, the probe needle is drawn up, so as to be prevented from buckling to be allowed to escape from the contact and prevented from escaping from the contact, when there is no risk of buckling. - 特許庁
カーボン製の探針を有する接触式カンチレバーにおいて、探針のすべりを防止する。 To prevent slip of a probe in a contact type cantilever having the carbon-made probe. - 特許庁
針金接触子は、垂直部と針金戻り止めとを有し、端子は戻り止めキャビティを有している。 The wire armature 20 has a vertical part and a wire detent part, and the terminal has a detent cavity. - 特許庁
タフティングの針とタフティンググリッパは針との接触点で摩耗が発生しやすい。 To solve a problem that a needle for tufting and a tufting gripper easily wear at a contact point with the needle. - 特許庁
針状セラミック体、針状セラミック触媒体及びその製造方法 NEEDLE-SHAPED CERAMIC BODY, NEEDLE-SHAPED CERAMIC CATALYST BODY AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME - 特許庁
穿刺針用のアダプタが設けられる超音波探触子において、穿刺針のガイド面を保護する。 To protect the guide surface of a puncture needle in an ultrasonic probe having a puncture needle adaptor. - 特許庁
半導体評価用接触針は、単結晶シリコン(Si)の針芯3と、この針芯3のすべての表面を覆う導体膜4とを有する。 The contact needle for evaluating semiconductors has a needle core 3 of single crystal silicon(Si) and a conductor film 4 for covering the entire surface of the needle core 3. - 特許庁
また、プローバ装置に探針を取付ける作業者が、直接探針に触れることなく作業ができ、探針先端部の破損を防ぐことができる。 In addition, an operator is unnecessary to directly touch the probe when attaching the prober to the prober, preventing its tip end from being broken. - 特許庁
繊維機械用の針、特に、フェルト針またはフォーク針について、ニードルバーとの接触を最適化したものを提供する。 To provide a needle for textile machines, in particular, a felting needle or a fork needle optimized in contact with a needle bar. - 特許庁
そして、試験時の針圧より低い針圧でプローブ針22の少なくとも一部をクリーニングウェハ32またはダミーウェハ33に接触させる。 Then, at least one portion of the probe needle 22 is brought into contact with the cleaning wafer 32 or the dummy wafer 33 by a stylus pressure that is lower than that in testing. - 特許庁
本発明の針状体検査装置は、針状体と検査針が接触した部位にかかる荷重を測定することから、針状体と検査針の接触部位を制御することにより針状体において部位別の強度差を測定することが出来る。 The needle-shaped body inspection apparatus can measure strength differences for each section in the needle-shaped body, by measuring a load exerted on a section at which the needle-shaped body and the inspection needle are in contact with each other and controlling the contact section between the needle-shaped body and the inspection needle. - 特許庁
触針1をその共振周波数付近で振動させ、触針1上に設けられた圧電材料19により共振状態を検出し、直交検波回路により触針1と測定対象13の接触を検出する。 A probe 1 is vibrated almost at its resonance frequency, the resonance state is detected by a piezoelectric material 19 provided on the probe 1, and an orthogonal detecting circuit detects the probe 1 and the object 13 to be measured coming into contact with each other. - 特許庁
被測定物の表面に接触する触針を有する表面形状測定装置において、触針に作用する荷重の異常を検出することを可能にすることにより、触針に作用する過大な荷重による触針やピックアップの破損を防止する。 To prevent a stylus and a pickup from being broken due to excessive loads acting on the stylus by detecting anomalies of loads acting the stylus in a surface shape measuring apparatus having the stylus which comes into contact with surfaces of objects to be measured. - 特許庁
本発明の探触子の針誘導路内挿入用バルーン付き穿刺針1は、探触子10に装着された針挿入ガイド11内に形成された針誘導路12に挿入される。 The puncture needle 1 with the balloon to be inserted in the needle guiding passage of the probe is inserted in the needle guiding passage 12 formed in a needle inserting guide 11 mounted on the probe 10. - 特許庁
プローブ針に接触される電極の面積を大きくすることなく、2本のプローブ針を電極に接触させることができるプローブ装置を得る。 To provide a probe device capable of making two probe styli contact with an electrode, without increasing the area of the electrode with which the probe styli contact. - 特許庁
触針面積が大きくなっても、プローバの大型化、コストアップを防止できる触針クリーニング機構を提供する。 To provide a tracer cleaning mechanism wherein increase in size of a prober and rise in the cost are avoided even if a tracer area increases. - 特許庁
電気的特性評価用接触針、プローブ構造体、プローブカード、および電気的特性評価用接触針の製造方法 CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC, PROBE STRUCTURE, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC - 特許庁