「走査トンネル顕微鏡法」に関連した英語例文の一覧と使い方

「走査トンネル顕微鏡法」を含む例文一覧(23)

走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法及びこのための走査型トンネル顕微鏡
METHOD OF LITHOGRAPHY USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR IT - 特許庁
走査トンネル顕微鏡のニオブ製探針の製作方法
MANUFACTURE OF NIOBIUM PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE - 特許庁
走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法
PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法
METHOD FOR MANUFACTURING SILVER PROBE OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE - 特許庁
走査トンネル顕微鏡探針の作製方法
PRODUCTION OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE PROBE - 特許庁
探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法
PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE - 特許庁
走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法
METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE - 特許庁
走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法
PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE - 特許庁
走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法
PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION - 特許庁
走査トンネル顕微鏡法の応用は、表面観察から原子操作に発展した。
The applications of scanning tunneling microscopy expanded from observation of surfaces to manipulation of atoms. - 科学技術論文動詞集
走査型トンネル顕微鏡およびこれを用いたナノスケール表面観察法
SCANNING TUNNEL MICROSCOPE AND NANO-SCALE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME - 特許庁
ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法
HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT - 特許庁
精密なトンネル電流微細束線による露光を得ることができる走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法を提供する。
To provide a method of lithography using a scanning tunneling microscope by which exposure can be executed by accurate tunneling current fine flux. - 特許庁
ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法
HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT - 特許庁
取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。
To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope. - 特許庁
走査型トンネル顕微鏡に使用する先端が極めて先鋭でかつ強度の大きい探針とその製造方法を提供する。
To provide a probe used in a scanning tunneling microscope with an extremely sharp tip and high strength and its manufacturing method. - 特許庁
走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。
In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10. - 特許庁
高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。
To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency. - 特許庁
探針の汚染を防ぎ、ＳＴＭ装置に改良を加えることなく、ＳＴＭの機能を使用して、しかも、高い分解能を得ることができる走査トンネル顕微鏡探針の作製方法を提供する。
To produce a scanning tunnel microscope(STM) probe preventing the contamination of a probe and using the function of STM without improving an STM device to obtain high resolving power. - 特許庁
電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。
To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching. - 特許庁
走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。
In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method. - 特許庁
探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。
To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor. - 特許庁
被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。
When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor. - 特許庁

「走査トンネル顕微鏡法」を含む例文一覧(23)

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