「透過電子顕微鏡法」を含む例文一覧(219)
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SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF - 特許庁 - 電子顕微鏡および電子顕微鏡における透過電子像撮影方法
ELECTRON MICROSCOPE AND PHOTOGRAPHING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON IMAGE IN ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置
BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁 - 電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡
ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片
METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料
PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料
METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。
ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法
ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁 - 透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD - 特許庁 - 走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD - 特許庁 - 走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法
SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡及び撮影方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡及びその制御方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁 - 透過電子顕微鏡の収差補正方法
ABERRATION COMPENSATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置
AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE - 特許庁 - 走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置
OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁 - 暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法
DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法
CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具
OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG - 特許庁 - ３次元像構築方法および透過電子顕微鏡
3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用試料の作製方法
FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料の作成方法
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用試料作成方法
SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用の試料製造方法
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡の試料移動方法。
SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過形電子顕微鏡及びその動作方法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料の作製方法
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法
METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡による観察方法
OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料の調製方法
METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料作製方法
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡の試料作製方法
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法
SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置
SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡試料作製方法
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法
PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡観察用試料作製方法
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法
METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡及び立体観察法
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD - 特許庁 - 透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法
MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁 - 透過電子顕微鏡による試料観察方法
TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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