「関係演算子」を含む例文一覧(38)

  • 関係演算子という,演算
    an operational rule called {relational operator}  - EDR日英対訳辞書
  • 通常の関係演算子
    The regular relational operators.  - JM
  • )関係演算子は以下の通り。
    The relational operators are "expr1 < expr2"  - JM
  • 《プログラムの》 関係式《関係演算子を含む》
    a relational expression  - 研究社 英和コンピューター用語辞典
  • 論理関係は、論理演算(∧(かつ)、∨(または)、¬(でない)、→(ならば)等)を用いた論理式として表される。
    The logical relation is represented as a logical expression using logical operators (Λ(and), V(or), ¬(not), →(if), etc.) - 特許庁
  • 第1の変数オブジェクトのグラフィカルな表現及びその演算オブジェクトに対する関係が表示される。
    A graphical representation of the first variable object and its relation to the operator object is displayed. - 特許庁
  • 係数の可能な連結毎に、関係演算子を用いてブール値命題が求められ、命題空間が生成される。
    For each possible combination of the coefficients, a Boolean valued proposition is determined using relational operators to generate a propositional space. - 特許庁
  • 計測システムは更に、前記位置関係が変更される毎に受信素から出力される受信信号の2次元分布に基づいて、画素値をサブ画素の単位で演算する演算手段(113)を備える。
    The measurement system further has a computation means 113 for computing the pixel value in sub pixel units, based on the two-dimensional distribution of the reception signal outputted from the reception element each time when the positional relationship is changed. - 特許庁
  • そして、適応制御型コントローラは、受信信号y(n)と参照信号r(n)(所望波)との相関係数ρ_nが”1”に近づくように無給電素に流れる電流を演算し、その演算した電流に基づいて、所望波に実質的に一致するビームパターンを演算する。
    Then, the adaptive control type controller operates the current flowing through the parasitic element so as to put a correlation coefficient ρ_n of the reception signal y(n) and a reference signal r(n) (the desired wave) closer to "1" and, on the basis of the operated current, operates a beam pattern virtually coincident with the desired wave. - 特許庁
  • 計測方法としては、前記の抵抗体素を加熱して電気抵抗を測定し、液位または流速と電気抵抗の関係を定量化し、この関係を用いて電気抵抗から液位または流量を演算する。
    As for this measuring method, the resistor element 3 is heated and an electric resistance thereof is measured, and the relation between the liquid level or a flow velocity and the electric resistance is quantified, and the liquid level or the flow rate is operated from the electric resistance by using the relation. - 特許庁
  • 磁場解析装置は、物体を多数の粒に分割し、各粒に作用する磁場が満たすべき関係を粒ごとに運動方程式の形式で記述した磁場の運動方程式を数値的に解くことにより物体に作用する磁場を演算する磁場演算部を備える。
    The magnetic field analysis device includes a magnetic field operation section which divides an object into many particles in order to calculate magnetic field affected on the object by numerically solving equations of motion of magnetic field which describes a relationship required to be satisfied by magnetic field affecting each particle in a form of equations of motion for every particle. - 特許庁
  • 2次関数の隠れシフト問題を解くために拡張Clifford群の性質を或る特別な場合に限定することで得られる関係を、量コンピュータ上で演算可能な2^n次元複素ベクトル空間上の演算に置換することによって、所与の2次関数の隠れシフト問題を量コンピュータ上で解く。
    A quantum computing apparatus substitutes a relationship obtained by restricting properties of an extended Clifford group to a certain special case with computation on a 2^n dimensional complex vector space which can compute on a quantum computer, and thereby solving a given hidden shift problem of a quadratic function on the quantum computer. - 特許庁
  • その後、膨張弁開度演算回路8が冷媒流量演算回路7によって算出された目標とする単位時間当たりの冷媒流量及び電式膨張弁固有の冷媒流量と膨張弁開度との相関関係から膨脹弁開度を算出する。
    Then, opening of the expansion valve is calculated from correlation of the target flow rate of refrigerant per the unit time and the flow rate of refrigerant intrinsic for the electronic expansion valve. - 特許庁
  • 本発明のデータフローグラフ処理方法は、所期の演算処理を記述したプログラムを2以上のサブプログラムに分割し(S16)、2以上のサブプログラムのそれぞれを、演算の処理順序の依存関係を表現するデータフローグラフ(DFG)に変換する(S18)。
    In this data flow graph processing method, a program described with a desired arithmetic process is divided into two or more subprograms (S16), and each of the two or more subprograms is converted into a data flow graph (DFG) expressing dependency relation of processing order of an operator (S18). - 特許庁
  • その結果から平均粒径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒径を求める。
    The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio. - 特許庁
  • トラッキング係数補正値計算部173は、集積光学素において反射光を検出して得られた検出信号からトラッキングエラー信号を演算するための係数を、反射光関係データによって変更する。
    A tracking coefficient correction value calculating part 173 changes a coefficient for calculating a tracking error signal from a detected signal obtained by detecting reflected light in the integrated optical element by the reflected light relation data. - 特許庁
  • 演算装置6は、発光素の発光量、透過光の光量、燃料の温度および燃料の性状の関係に基づいて、検出部1内の燃料の性状を測定するための関数(近似式)を記憶している。
    An arithmetic unit 6 stores a function (approximation formula) for measuring the property of the fuel in the detection part 1 based on the relationship between the light emitting amount of the light-emitting element, the light amount of the transmitted light, the temperature of the fuel and the property of the fuel. - 特許庁
  • 計測内容や計測器の種類に関係なく、計測結果を電的なデータとして処理することができ、帳票形式での印刷や、演算等のデータ加工が行えるような計測データ収集装置を得る。
    To provide a measuring data gathering device capable of processing a measuring result as electronic data regardless of the measuring content and a kind of measuring instrument, and of executing printing in a document form and data processing such as an arithmetic operation. - 特許庁
  • このとき、中央演算処理回路CPUで、スイッチング素120の温度情報に関係する認識値を抽出し、かかる認識値の結果に応じてPWM信号の出力制御を行う。
    At this time, the central processing unit (CPU) extracts a recognition value relating to temperature information of a switching element 120, and controls output of a PWM signal depending on a result of the recognition value. - 特許庁
  • ビーム描画装置の試料ステージ106の温度変動と試料105の位置ずれ量との関係をデータとして求めておき、補正量演算器110の記憶手段に記憶しておく。
    The relationship between the temperature fluctuation of a sample stage 106 of an electron beam drawer and the positional deviation amount of a sample 105 is acquired as data, which is stored in a storage means of a correction amount calculator 110. - 特許庁
  • 被写体輝度を演算する際、SISの値に応じて測光用受光素の各受光領域の位置関係を判断し、それぞれの輝度信号の重み付けを行なう。
    When the object luminance is arithmetically calculated, the positional relation of the light receiving area of each photodetector for photometry is judged in accordance with the value of the SIS, and the weighting of each luminance signal is performed. - 特許庁
  • 受光素及び増幅演算回路を一体的に内蔵した受光素基板(PDIC)を用いて集積化した光デバイスにおいて、半導体レーザ及び増幅演算回路からの発熱を効率よく放熱できるようにし、また、半導体レーザ及び受光素の位置関係を容易に高精度に維持することができるようにする。
    To radiate efficiently heating from a semiconductor laser and an amplifying operating circuit, and to keep the position relation, between the semiconductor laser and a light receiving element easily and highly accurately, in an optical device integrated using a light-receiving element substrate (PDIC) incorporating integrally the light receiving element and the amplifying operating circuit. - 特許庁
  • トナー飛散量に関係する光を受光する受光素3を有する光検出手段4と、トナー飛散量を演算する飛散量演算手段8と、予め定めるトナー飛散量であると推測される基準状態下で、受光素3の出力電圧を較正するための補正係数を算出する較正手段9とを含む。
    This detector includes a light detection means 4 having a photodetector 3 for receiving light related to the quantity of toner splashing, a splashing quantity calculation means 8 for calculating the quantity of toner splashing, and a calibration means 9 for calculating a correction coefficient for calibrating an output voltage of the photodetector 3 in a reference state that the quantity of toner splashing is estimated to be a predetermined quantity. - 特許庁
  • 演算手段(パソコン19)が、測定毎に、測定した二波長の透過率の対数比に対応する散乱影響因の値を格納されている関係によって決定し、決定した散乱影響因の値を用いて算出した比減衰係数と一方の光線の減衰率とで質量濃度を演算する。
    A calculation means (personal computer 19) determines the value of the scattering affector corresponding to the logarithm ratio of the transmittance for the measured two wavelengths by the stored relationship on a measurement-by-measurement basis, and calculates the mass concentration from a specific attenuation coefficient calculated by using the determined value of the scattering affector, and the attenuation rate of one of the light rays. - 特許庁
  • 複数の検出素16を振動12と離間して配置するとともに、角速度を求めるに当たり、振動と複数の検出素とが見かけ上で予め設定した所定の位置関係になるように、複数の検出素の検出信号の演算処理を行う。
    A plurality of detection elements 16 are arranged separately from the vibrator 12, and when determining the angular velocity, operation processing of detection signals of the plurality of detection elements is performed so that the vibrator and the plurality of detection elements have apparently a prescribed position relation set beforehand. - 特許庁
  • 変換部62は、出力端電圧V_outの大きさに対する所定のしきい値を有しており、そしてその出力端電圧の大きさと前記所定のしきい値との間の大小関係に依存した大きさの電流を、演算増幅器の反転入力端に供給する。
    The converter 62 has a predetermined threshold value with respect to the magnitude of the output terminal voltage V_out, and a current having a magnitude depending on a magnitude relation between the magnitude of the output terminal voltage and the predetermined threshold value is supplied to an inverted input terminal of the operational amplifier. - 特許庁
  • 本発明の回路を使い,演算増幅器の非反転入力端の電圧をV_REF−V_offsetに校正し,反転入力端の電圧は基準電圧V_REFとなり,反転増幅回路は入力オフセット電圧V_offsetと無関係な出力電圧を得ることができる。
    When the voltage of the non-inverted input terminal of the operational amplifier is corrected as VREF-V_offset by using this circuit, the voltage of the inverted input terminal become equal to the reference voltage VREF and the inverted amplification circuit can obtain an output voltage which is not related to the input offset voltage V_offset. - 特許庁
  • 演算回路12にてブラウン運動に関するアインシュタイン・ストークスの関係式に粒の平均移動距離とCCDセンサーのフィールド時間間隔を用いた拡散時間を代入して粒径を算出し、表示装置13にて表示する。
    In a computing circuit 12, diffusion time using a means movement distance of the particles and the field time interval of the CCD sensor is substituted in the Einstein-Stokes relation related to the Brownian movement, and then the particle size is found and displayed by a display device 13. - 特許庁
  • 表面関係行列演算処理部222が素の表面要素の位置関係による可視性を評価することにより陰影効果と再付着効果をシミュレーション結果に反映させ、また、ビーム条件計算処理部221がウエハ上の素の位置に応じたビーム条件を算出することによってウエハ上の位置の違いによる加工形状の違いをシミュレーション結果に反映させる。
    A surface relation matrix arithmetic processor 222 evaluates the visibility of elements depending on positional relations of surface elements to reflect a shadow effect and a readhesion effect on the simulation result, and further a beam condition calculation processor 221 calculates a beam condition in response to the position of the elements on a wafer to reflect a difference from a processed shape due to a difference from the positions on the wafer onto the simulation result. - 特許庁
  • 本装置は、先行する音節と後続する音節の音及び母音の関係を組み合わせることによってVC(VV)同時調音セグメントを検索し、先行する音節と後続する音節の波形の重ね合わせ及び加算演算を実行し、その結果、音声の合成において自然で流暢な結果を達成する。
    A waveform overlapping and adding device 19 overlaps and adds the waveforms of the CV syllable and the VC(VV) simultaneous articulation segment. - 特許庁
  • モアレ補正回路22において、量化された原画像データから画素間の複数の補間データを演算し、これらの複数の補間データ及び原画像データの大小関係を認識し、これに基づいて原画像データを複数ある補間データの一つと置き換える。
    A moire correction circuit 22 calculates interpolation data between pixels on the basis of the quantized original image data, the magnitude correlation between the interpolation data and the original image data is recognized, and the original image data are replaced with one of a plurality of the interpolation data. - 特許庁
  • 業務データベースのリレーション関係、データ型情報より判断条件として利用するデータを抽出し、判断条件演算と合わせて提示してワークフロー定義を促し、定義内容をロジックに変換して登録する。
    In this workflow system, data used as a decision condition are extracted from data type information and a relation of a business database and are presented together with a decision condition operator, the workflow is prompted in definition, and definition contents are converted into logic and are registered. - 特許庁
  • 次に、制御部1は、基本セル中におけるi粒を含む微小セルの位置関係から決定される選択信号#1を出力し、演算部7は、選択信号#1を基に、記憶部3の値に対し記憶部2の値を加算または減算し、その値を記憶部4に記憶させる。
    A control part 1 outputs a selection signal #1 determined from the positional relation of microcells including the i particle in the basic cell, and an arithmetic part 7 adds or subtracts the value of the storage part 2 for the value of the storage part 3 based on the selection signal #1 and stores the value in a storage part 4. - 特許庁
  • pnpトランジスタQ1,Q2に関するpnジャンクションの式を利用して、演算増幅器OPAmpの非反転入力端への入力電圧VINとpnpトランジスタQ2のコレクタ電流Ibとの間の特性を反比例関係とすることができる。
    The use of a pn junction formula on the pnp transistors Q1, Q2 yields, as an inverse proportion relation, characteristics between an input voltage VIN to the non-inverting input terminal of an operational amplifier OPAamp and the collector current Ib of the pnp transistor Q2. - 特許庁
  • 三相の中の一相のコイルにおける相電流を検出し、残りの二相のコイルそれぞれにおける相電流を、記憶された関係、求めた端電圧、求めた速度起電力、および検出した相電流から演算により求める。
    Then, a phase current in one-phase coil of the three phases is detected and phase currents in each one-phase coil of the remaining two phases are obtained by calculations from the stored relations, the obtained terminal voltages, the obtained speed electromotive forces, and the detected phase currents. - 特許庁
  • 操業制約チェック装置1において、記憶部15内の圧延制約マスター151は、当該規制内容に応じた演算を用いた規制内容項目とこの規制内容項目の値との関係またはこの関係の組み合わせによって表現された規制内容と、この規制内容を適用する規制範囲とを含む制約条件を記憶する。
    In an operation restriction check device 1, a rolling restriction master 151 in a storage part 15 contains restriction conditions including restriction contents represented with a relation between a restriction content item using an operator corresponding to the restriction contents and a value of the restriction content item or combinations of the relations, and a restriction range in which the restriction contents are applied. - 特許庁
  • 特に、記録動作に用いる高出力半導体レーザ及び高倍速に対応可能な増幅演算回路を内蔵した受光素(PDIC)を一体的に集積化した光デバイスにおいて、これら発熱源における発熱を効率よく放熱でき、また、半導体レーザ及び受光素の位置関係を容易に高精度に維持することができるようにする。
    To radiate efficiently heat generation in a heat generation source and to keep easily and highly accurately position relation of a semiconductor laser and a light receiving element, in an optical device in which the light receiving element (PDIC) incorporating an amplifying arithmetic circuit, especially, compatible with a high output semiconductor laser and high-multiple speed used for recording operation is integrated integrally. - 特許庁
  • ろう厚測定装置1に、複数の周波数の超音波の発振と受信が可能な探触2と、エコー測定部52と、複数の周波数の超音波の界面エコー高さとろう材の厚さとの相関関係を示すエコー高さ−ろう厚情報を格納した第1記憶部73と、ろう厚演算部71とを備える。
    A device 1 for measuring a braze thickness includes: a probe 2 capable of transmitting and receiving ultrasonic waves of a plurality of frequencies; an echo measuring unit 52; a first storage unit 73 that stores echo height-braze thickness information indicating a relative relationship between interface echo heights of the ultrasonic waves of the plurality of frequencies and the thickness of the brazing filler material; and a braze thickness arithmetic unit 71. - 特許庁

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