「集束イオンビーム装置」を含む例文一覧(194)
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FOCUSING ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 集束イオンビーム加工装置
FOCUSED ION BEAM MACHINING DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置および収差補正集束イオンビーム装置
FOCUSED ION BEAM DEVICE AND ABERRATION CORRECTED FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム加工方法および集束イオンビーム加工装置
FOCUSING ION BEAM WORKING METHOD AND FOCUSING ION BEAM WORKING DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビームによる加工方法及び集束イオンビーム加工装置
PROCESSING METHOD BY FOCUSED ION BEAM, AND FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム加工用試料ホルダ及び集束イオンビーム装置
SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING, AND FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置及び集束イオンビーム装置の加工位置設定方法
FOCUSED ION-BEAM DEVICE AND PROCESSING-POSITION SETTING METHOD THEREOF - 特許庁 - 集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法及び試料加工プログラム
FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE PROCESSING METHOD AND PROGRAM USING THE SAME - 特許庁 - 集束イオンビーム装置，集束イオンビーム装置の制御方法及び接触検出方法
FOCUSED ION BEAM DEVICE, METHOD OF CONTROLLING IT, AND METHOD OF DETECTING CONTACT - 特許庁 - 集束イオンビーム加工装置及び集束イオンビームを用いる試料の加工方法
FOCUSING ION BEAM PROCESSING DEVICE AND PROCESSING METHOD FOR SPECIMEN USING FOCUSING ION BEAM - 特許庁 - 集束イオンビームを用いた試料加工方法、及び集束イオンビーム加工装置
SAMPLE PREPARING METHOD THROUGH USE OF FOCUSING ION BEAM AND FOCUSING ION BEAM PREPARING DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム加工用試料ホルダー及びそれを用いた集束イオンビーム加工装置
SAMPLE HOLDER FOR FOCUSING ION BEAM WORKING AND FOCUSING TON BEAM WORKING DEVICE USING IT - 特許庁 - 集束イオンビーム加工用データの作成方法、集束イオンビーム加工装置および加工方法
PREPARING METHOD OF DATA FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING, AND FOCUSED ION BEAM MACHINING DEVICE AND METHOD - 特許庁 - 荷電粒子線装置及び集束イオンビーム装置
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 試料観察装置，集束イオンビーム装置
SAMPLE OBSERVATION DEVICE, AND FOCUSING ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 荷電粒子ビーム装置および集束イオンビーム装置
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND FOCUS ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置及びその制御装置
FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND DEVICE FOR CONTROLLING THE SAME - 特許庁 - 集束イオンビーム加工装置の加工位置補正装置
WORKING POSITION CORRECTING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM WORKING DEVICE - 特許庁 - 小型高エネルギー集束イオンビーム装置
SMALL HIGH ENERGY FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - アパーチャおよび集束イオンビーム装置
APERTURE AND FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置の試片冷却システム
TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 集束イオンビーム加工方法及び加工装置
FOCUSING ION BEAM WORKING METHOD AND WORKING DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビームを用いる微細部位解析装置
FINE REGION ANALYZER USING CONVERGED ION BEAM - 特許庁 - 集束イオンビームによる試料加工方法及び装置
SAMPLE PROCESSING METHOD AND APPARATUS USING FOCUSED ION BEAM - 特許庁 - 集束イオンビーム修正装置及び欠陥保証方法
CONVERGENT ION BEAM CORRECTING DEVICE AND DEFECT GUARANTEEING METHOD - 特許庁 - 集束イオンビーム装置及び試料処理方法
CONDENSED ION BEAM DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD - 特許庁 - 集束イオンビーム質量分析装置および分析方法
FOCUSED ION-BEAM MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD THEREOF - 特許庁 - 集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダ
SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING OBSERVATION DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置及び試料の加工方法
FOCUSED ION BEAM DEVICE AND SPECIMEN MACHINING METHOD - 特許庁 - 集束イオンビーム用ガス導入装置
GAS INTRODUCING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM - 特許庁 - 加工深さ計測機能付集束イオンビーム加工装置
FOCUSED ION BEAM WORKING APPARATUS WITH WORKING DEPTH MEASURING FUNCTION - 特許庁 - 集束イオンビーム装置、及びそれに用いる絞り
FOCUSED ION BEAM APPARATUS AND LENS DIAPHRAGM USED IN IT - 特許庁 - 収差補正集束イオンビーム装置
ABERRATION CORRECTING FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置のガス供給機構
GAS SUPPLY MECHANISM FOR FOCUS ION BEAM SYSTEM - 特許庁 - 集束イオンビーム加工方法及び装置
FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置用標準試料
REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置の電荷中和方法
CHARGE NEUTRALIZATION METHOD FOR CONVERGENT ION BEAM DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置のレンズ保護用絞り
LENS-PROTECTING APERTURE FOR FOCUSED ION-BEAM APPARATUS - 特許庁 - イオンビームのドリフトを早期に視覚的に検出可能な集束イオンビーム装置の実現する。
To realize a focused ion beam device which can visually detect a drift of an ion beam in an early stage. - 特許庁 - 本発明は集束イオンビーム装置に関し、中性粒子を除去してイオン照射が可能なようにした集束イオンビーム装置に関する。
To provide a focused ion beam device capable of performing ion irradiation by removing neutral particles. - 特許庁 - 集束イオンビーム装置の液体金属イオン源を安定稼動させる。
To stably operate a liquid metal ion source for a focusing ion beam device. - 特許庁 - 中和用エネルギー線の位置合わせ方法および集束イオンビーム装置
POSITIONING OF NEUTRALIZING ENERGY BEAM AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 試料の高さ出し機能を備えた集束イオンビーム装置
FOCUSING ION BEAM DEVICE HAVING HEIGHT ADJUSTMENT FUNCTION OF SAMPLE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置による二次荷電粒子像の観察方法
METHOD OF OBSERVING SECONDARY CHARGED PARTICLE IMAGE ON FOCUSED ION BEAM APPARATUS - 特許庁 - 大きな試料の観察・加工を可能とする集束イオンビーム装置
FOCUSED ION BEAM DEVICE ENABLING OBSERVATION AND MACHINING OF LARGE SAMPLE - 特許庁 - 集束イオンビーム装置、及びそれを用いた試料の加工方法
FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF SAMPLE USING THE SAME - 特許庁 - 集束イオンビームによる観察・加工方法およびその装置
OBSERVATION AND WORKING METHOD BY FOCUSED ION BEAM AND ITS DEVICE - 特許庁 - 集束イオンビーム加工装置及びそれに用いる試料台
FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE AND SAMPLE BASE USED FOR IT - 特許庁 - 集束イオンビーム加工方法及び荷電粒子ビーム装置
CONVERGED ION BEAM WORKING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁 - 薄片試料作製方法および複合集束イオンビーム装置
LEAF SAMPLE PREPARING METHOD AND COMPOSITE CONVERGED ION BEAM DEVICE - 特許庁
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