「At testing」を含む例文一覧(872)

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  • To provide a direct-current testing device capable of reducing useless power consumption at the waiting time.
    待機時の無駄な電力消費を低減することができる直流試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • At compile time this is done by including <unistd> and/or <limits> and testing the value of certain macros.
    コンパイル時に行うには、<unistd>と<limits>の両方もしくは一方をインクルードし、特定のマクロの値を確認する。 - JM
  • To set the temperature of a semiconductor device at a desired temperature with satisfactory responsivity in testing the semiconductor device.
    半導体デバイスの試験において、半導体デバイスの温度を応答性よく所望の温度に設定する。 - 特許庁
  • To connect to an external tester with fewer external input/output pin numbers at testing of a digital circuit.
    ディジタル回路のテスト時に、より少ない外部入出力ピン数でもって外部のテスタと接続すること。 - 特許庁
  • CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION TO BE VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR
    検証する初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁
  • An inflow part 1c is provided at the upper part of the casing 1V, and a takeout port 1f for water for testing water quality is provided at the lower part of the casing 1V.
    ケーシング１Ｖの上部に流入口１ｃを設け、ケーシング１Ｖの下部に水質検査用水の取出口１ｆを設ける。 - 特許庁
  • To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.
    エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a clip tester for extremely improving reliability of verification by generating pseudo failure at timing corresponding to operation timing of a circuit to be tested, and to provide a clip testing device, a clip testing method and a clip testing program.
    被試験回路の動作タイミングに対応したタイミングで擬似故障を発生させることができ、もって、検証の信頼性を極めて向上させることができるクリップテスタ、クリップ試験装置、クリップ試験方法、およびクリップ試験プログラムを提供する。 - 特許庁
  • Vibrational oscillation force is imparted to the testing body, by passing compressed air through a valve device opened and closed repeatedly at a high speed, and by blowing the compressed air intermittently against the testing body, and the testing body is thereby oscillated, without being restricted by the material and a form thereof.
    圧縮空気を高速で開閉を繰り返す弁装置を通過させ、圧縮空気を間歇的に試験体に吹き付けすることで振動的加振力を試験体に与え、その材質や形態に制約されずに試験体を加振できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a connector, capable of connecting a testing device, and to provide a printed circuit board at a comparatively low cost, and which is especially suitable for uniform basis for achieving a JTAG testing device.
    比較的に低コストで試験装置とプリント回路板を接続することができ、特に、ＪＴＡＧ試験装置を実現するための統一基準に適合したコネクタを提供する。 - 特許庁
  • To provide a peel testing apparatus performing a 90° peel test with high precision at low cost and capable of corresponding, even for another peel test, including a new testing method which has not been developed thus far.
    ９０度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a gene testing method capable of testing single nucleotide polymorphisms (SNPs) in a plurality of variation regions at a low cost by a simple operation and capable of realizing gene diagnosis on a clinical site.
    安価かつ簡便な操作で複数変異領域（ＳＮＰ）の検査が可能な遺伝子検査方法を提供し、臨床現場における遺伝子診断を現実のものとすること。 - 特許庁
  • To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.
    高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁
  • To provide a weather resistance testing apparatus capable of simultaneously testing at one side and other side of one test specimen under different weather conditions.
    本発明は、１つの被試験体の一方側と他方側で異なる耐候条件で同時に試験を行うことが出来る耐候試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁
  • To provide a peel testing apparatus for performing 90° peel test with high precision at a low cost and capable of corresponding, even in another peel test that includes a new testing method which has not been developed thus far.
    ９０度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an environment testing apparatus capable of sending out a work reaching a predetermined temperature to a testing position at a short interval without extending the pallet feed passage in a temperature tank.
    温度槽内のパレット搬送路を長くすることなく、所定温度に到達しているワークを短い間隔で試験位置に送り出すことができる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.
    本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a simple and compact device capable of testing accurately testing a tire even if an endless belt is run at high speed, and prolonging the service life of the endless belt.
    無端ベルトを高速走行させても正確に試験することができると共に無端ベルトの寿命を高めた簡素でコンパクトなタイヤ試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a direct tensile testing method of a cementitious cured body capable of being simply carried out even at a construction site or the like of a concrete structure without requiring a large-sized testing machine.
    大型の試験装置を必要とせず、コンクリート構造物の建設現場等でも簡単に実施することができるセメント質硬化体の直接引張試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To automatically prepare coordinate data about a part with an especially high part mounting density on a base board to reduce the testing man- hours as a whole, and to increase the testing precision at the same time.
    特に基板の部品実装密度の高い部分について座標データを自動的に作成することにより全体の検査工数を削減すると共に検査精度を向上させる。 - 特許庁
  • To enable a tester to arbitrarily change testing conditions except the fixed code transmitting-receiving condition specified by an exchange at the time of testing a multiple-frequency encoder used for the exchange.
    交換機に使用される多周波符号器の試験を、交換機が規定している固定の符号送受信条件以外に、試験者が任意に条件を変動させて行えるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for testing waterproofness, which is compatible with testing the waterproofness in a liquid such as water and lightening the correction work at the time that the bad waterproofness is detected.
    水等の液体中で防水性を試験することと、防水不良検出時の修正作業の軽減を図ることを両立することができる防水試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.
    試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 - 特許庁
  • If a normal communication is recognized from the determination result, the user decides to install the slave unit at the site and terminates testing.
    判定結果がＯＫであれば、ユーザは、子機の設置場所をこの場所に決定して、テストを終了する。 - 特許庁
  • The transmission path 18 is formed on a scribe line 19, and a testing circuit is disconnected at the time of separating a wafer.
    伝送線路１８は、スクライブ線１９上に形成し、ウエハを切り離す際に試験回路を切断する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.
    テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • As a result, high testing precision can be secured by stabilizing a lowering state of temperature at the sample arrangement part.
    これにより、試料配置部の温度の降下状態を安定させて高い試験精度を確保することができる。 - 特許庁
  • By selecting the band at random, a more accurate predicted value is obtained and a testing speed can be accelerated.
    バンドをランダムに選択することで、より正確な予想値を得るとともに、テスト速度を速めることができる。 - 特許庁
  • To construct a system capable of performing from virus elimination at a low temperature to an integrity testing.
    本発明は、低温でウイルス除去から完全性試験まで行う事ができるシステムを構築する事である。 - 特許庁
  • 1. Test equipment designed for testing S-parameters of transistors at frequencies exceeding 31.8 gigahertz
    （一）　三一・八ギガヘルツを超える周波数でトランジスタのエスパラメータを試験することができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Changes go into this branch at a different pace, and with the general assumption that they have first gone into FreeBSD-CURRENT for testing.
    このブランチに加えられる変更は原則として、 事前に FreeBSD-CURRENTで試験ずみであるという特徴があります。 - FreeBSD
  • To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.
    試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a blood testing implement cable of separating blood corpuscles and recovering blood plasma or serum at a high yield.
    血球を分離し、血漿または血清を高い収率で回収できる血液検査用具を提供する。 - 特許庁
  • . Type E: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate nor deflagrate at all, and show only minimal or no effect when heated under confinement.
    タイプE：実験室の試験において、全く爆轟も爆燃もせず、密封下の加熱で反応が弱いかまたは無い。 - 経済産業省
  • To provide a system and a method collecting and testing data at a patient's point of care location.
    患者のポイントオブケアの場所においてデータを収集および検査するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁
  • To perform underwater testing with a small volume testing box provided with a means for surely removing clogging at defects without diving, even when clogging at penetration defects of such as underwater parent material and welded part.
    水中の内張りの母材および溶接部などの貫通欠陥が目詰まりしていても、作業員が潜水することなく、欠陥の目詰まりを確実に除去する手段を備えた内容積の小さい検査箱で水中検査を実施する。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for evaluating strength of a friction material, capable of performing an evaluation testing by applying a compressive load and at the same time a shearing load to a friction material and capable of accurately performing the evaluation by matching the use conditions of the friction material and the conditions at the evaluation testing time.
    摩擦材に対して圧縮荷重とせん断荷重とを同時に付与して評価試験を行うことが可能とされ、当該摩擦材の使用条件と評価試験時の条件とを合致させてその評価を精度よく行わせることができる摩擦材の強度評価試験装置を提供する。 - 特許庁
  • An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.
    試験片Ｓに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具２Ａと試験力計測手段として用いるロードセル３を固定して昇降するクロスヘッド４に、一方のアーム端１８が柱部６と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム１７をネジ止めする。 - 特許庁
  • To provide a substrate for testing electronic parts enabling the performance of a multitude of electronic parts at a high temperature to be tested at a low cost.
    低コストで多数の電子部品の高温条件下での性能を試験することを可能とする電子部品の試験用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a circuit for testing a semiconductor power converter that can set a turn-off voltage at least to a turn-on voltage.
    ターンオフ電圧がターンオン電圧以上に設定できる半導体電力変換装置の試験回路を提供する。 - 特許庁
  • The maintenance device and the testing devices are disposed at opposite sides in a direction of relative movement of the moving section and the stage section, with the stage section being disposed therebetween.
    メンテナンス装置と検査装置とは、ステージ部を挟んで移動部の相対移動方向の逆側に配置される。 - 特許庁
  • Measured values peculiar to a moving object under testing are sampled by at least two frequencies or frequency channels.
    テスト中の移動体に特有の計測値が、少なくとも２つの周波数または周波数チャネルにおいてサンプルされる。 - 特許庁
  • Moreover, a pit 8c in which a tool 14 of an operation testing machine is inserted is formed at the tip of the ridge 8b.
    また、隆起部８ｂの先端には、動作検査機の治具１４が挿入される穴８ｃが形成されている。 - 特許庁
  • In the function liquid delivering property testing method, a predetermined time measured by a timer is firstly set at a timer setting step S1.
    機能液吐出性試験方法は、まず、タイマ設定工程Ｓ１において、タイマが計時する所定時間を設定する。 - 特許庁
  • On July 5, the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism started testing the latest full-body scanners at Narita International Airport in Chiba Prefecture.
    ７月５日，国土交通省が千葉県の成田国際空港で最新の全身スキャナーの実験を開始した。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • To provide a connection technique capable of testing a semiconductor wafer, LSI package, etc., by using high frequency at high speed.
    高速で高周波数で半導体ウエハ，ＬＳＩパッケージその他をテストすることができる接続技術を提供する。 - 特許庁
  • A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.
    機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁
  • To provide a vibration testing device capable of conducting tests of vibration that are close to the vibrations of actual vehicles, at low cost.
    実車の振動に近い振動試験を行うことが可能であり、且つ低コストな振動試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The dust evaluation testing apparatus 1 includes a casing 3, and a dust generator 2 is arranged at the upper part of the casing 3.
    塵埃評価試験装置１は、筐体３を有し、この筐体３の上部に塵埃発生器２が配置されている。 - 特許庁
  • To provide a network equipment testing apparatus which can respond even to small-size packets and is capable of performing a test on transfer capability and filtering at a media speed.
    小さいサイズのパケットにも対応し、転送能力やフィルタリングにおいて、メディアスピードでの試験を可能にする。 - 特許庁
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