「Backscattered」を含む例文一覧(48)
- The energies of backscattered electrons range from the energy of the primary electrons to about 50 eV.
後方散乱電子のエネルギーは、一次電子のエネルギーから約50eVにわたる。 - 科学技術論文動詞集 - Raman scattered light which is one of backscattered lights in the optical fiber is utilized.
光ファイバにおける後方散乱光の１つであるラマン散乱光を利用する。 - 特許庁 - The information depth of backscattered electrons depends on the density of the specimen and the electron energy.
後方散乱電子の情報の深さは、試料密度と電子エネルギーに依存する。 - 科学技術論文動詞集 - To suppress the weight of radiographic equipment, and simultaneously suppress the influence of backscattered radiation.
放射線撮影装置の重量を抑えつつ、後方散乱線の影響を抑えること。 - 特許庁 - The most important signals in SEM are produced by secondary and backscattered electrons.
SEMにおける最も重要な信号は、二次電子と後方散乱電子によって作られる。 - 科学技術論文動詞集 - Backscattered light caused when this inspection light is propagated in the optical transmission line 901 is received by a backscattered light receiver 131 via the optical coupler 181, optical coupler 141, and a optical circulator 151.
この検査光が光伝送路９０１を伝搬する際に生じた後方散乱光は、光カプラ１８１、光カプラ１４１および光サーキュレータ１５１を経て後方散乱光受信器１３１により受信される。 - 特許庁 - To provide a method and a system for characterizing vascular tissue using backscattered data and known parameters.
後方散乱データ及び既知のパラメータを使用して、血管組織を特徴付ける方法及びシステムが提供される。 - 特許庁 - To provide constitution for illuminating and viewing a target which obtains data essentially free of backscattered light and stray light.
本質的に後方散乱光と迷光のないデータを獲得する、ターゲットを照明および観測する構成を提供する。 - 特許庁 - Since backscattered current of the ring waveguide will not be amplified, the laser can be operated in two stable modes of CW and CCW.
また、リング導波路部の後方散乱光は増幅されないためにリングレーザは安定なCW、CCWの２モード動作が可能となる。 - 特許庁 - Backscattered electrons generate Auger electrons sufficiently near the surface for them to escape.
後方散乱電子は、オージェ電子が脱出するために(脱出するのに適当な)表面に十分に近いところに、オージェ電子を発生させる。 - 科学技術論文動詞集 - The spatial resolution of X-ray microanalysis in a SEM is degraded more significantly than are secondary and backscattered electron images.
SEMにおけるX線微小分析の空間分解能は、二次電子および反射電子像の空間分解能よりも著しく低下させられる。 - 科学技術論文動詞集 - In an SEM, it is necessary to place a permanent magnet in front of an EDS detector to deflect the backscattered electrons for electron energies above 25 keV.
SEMの中では、25keVより大きなエネルギーの後方散乱電子を偏向させるため、EDS検出器の前に永久磁石を置く必要がある。 - 科学技術論文動詞集 - The formation of the electron channeling pattern by backscattered electrons is related to that of the electron backscatter diffraction pattern by the reciprocal theorem.
後方散乱電子による電子チャンネリングパターンの形成は、相反定理により後方散乱電子回折パターンの形成と関係している。 - 科学技術論文動詞集 - The intensity that is backscattered from a crystal for a given electron beam direction is determined by the orientation of the crystal plane.
与えられた電子ビームの方向に対する結晶から後方散乱された強度は、その結晶面の方位によって決定される。 - 科学技術論文動詞集 - The backscattered beams of the test light produced on the optical cable are received by a receiving part 124 via the light circulator 123 and changes in strength of the received backscattered beams with time are totalized by an analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.
光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サーキュレータ１２３を経て受光部１２４により受光されて、解析部１２５により、受光された後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁 - To provide an image display device capable of reducing halation caused when backscattered electrons reenter a fluorescent material.
後方散乱電子が蛍光体へ再突入することによって生じるハレーションを低減させることができる画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - ARRANGEMENT AND METHOD FOR OPTICAL DETECTION OF LIGHT RADIATION EXCITED AND/OR BACKSCATTERED IN SPECIMEN WITH DOUBLE-OBJECTIVE ARRANGEMENT
試料内で励起された、および／または後方散乱した光放射を、対物レンズ二重配置により光学的に捕捉するための配置およびその方法 - 特許庁 - The backscattered light is amplified by an optical amplification medium 111 inside the optical-pulse generation part 110 so as to be incident on the photodiode(PD) 140.
この後方散乱光は、光パルス発生部１１０内の光増幅媒体１１１によって増幅された後、フォトダイオード（ＰＤ）１４０に入射される。 - 特許庁 - The electron shielding member is configured to withstand the elevated levels of heat generated by electrons backscattered from the anode and incident on the electron shielding member.
電子遮蔽物は、アノードから後方散乱し、電子遮蔽物上に入射した電子によって発生した高いレベルの熱に耐えるように構成される。 - 特許庁 - To provide an electron beam device with a detecting device capable of easily making a selection especially based on the difference between backscattered electrons and secondary electrons.
選択を特に後方散乱電子及び二次電子に従って容易に行なうことができる検出装置を有する電子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁 - In this case, Δ resize is a dimensional correction quantity, DB is distribution of a backscattered electron quantity and B is distribution of the beam blur which occurs in a transfer optical system.
ここで、Δｒｅｓｉｚｅは寸法補正量であり、Ｄ_Bは後方散乱電子量の分布であり、Ｂは転写光学系で生じるビームボケの分布である。 - 特許庁 - In a SEM, electrons which are emitted or backscattered from the specimen are collected to provide topological information, and atomic number or orientation information.
SEMでは、試料から放出または後方散乱される電子が集められ、表面凹凸の(地形図的な)情報および、原子番号または方位の情報を提供する。 - 科学技術論文動詞集 - The throat segment and the lower portion of the bowl are composed of a heat-resistant material and correspond with the regions of the electron shielding member that are impacted by relatively many backscattered electrons from the anode surface.
のど部およびボウルの下側部は、耐熱材料から構成され、アノード表面からの比較的多い後方散乱電子が衝突する電子遮蔽物の領域に相当する。 - 特許庁 - To provide a device for controlling light radiation excited and/or backscattered and/or reflected by a sample, including one or a plurality of wavelengths toward various optical exits.
試料において励起および／または逆散乱および／または反射される、１つまたは複数の波長を含む光放射をさまざまな光出口に向けて制御するための装置を提供する。 - 特許庁 - A gain G_1 and an offset F_1 at which the backscattered electron signal intensity at arbitrary acceleration voltage V_1 and emission current I_1 is set equal to that at V_0 and I_0 are obtained and corrected.
任意の加速電圧Ｖ_１と照射電流値Ｉ_１のときの反射電子信号強度がＶ_０，Ｉ_０のときの反射電子信号強度に等しくなる増幅率Ｇ_１とオフセットＦ_１を求め補正する。 - 特許庁 - To provide a light source device capable of improving a light use efficiency by suppressing the generation of backscattered light, and to provide a lighting system equipped with the light source device and a projection type display device.
後方散乱光の発生を抑制して光利用効率を高めることができる光源装置、並びにその光源装置を備えた照明装置及び投射型表示装置を提供する。 - 特許庁 - A measurement apparatus 101 measures energy spectra of backscattered ions for a sample 111 containing a thin film formed of well-known composition by using Rutherford back scattering spectroscopy under a predetermined condition.
測定装置１０１は、既知の組成からなる薄膜を含む試料１１１について、所定の条件でラザフォード後方散乱分光分析法によって後方散乱イオンのエネルギスペクトルを測定する。 - 特許庁 - To effectively collect backscattered electrons in a vacuum vessel of an X-ray tube, and to effectively transmit heat energy generated by such electrons collected from the tube.
Ｘ線管の真空容器の内部で後方散乱した電子を実効的に収集すると共に、管から収集されたこれらのような電子に起因して生ずる熱エネルギを実効的に伝達する。 - 特許庁 - To select an appropriate pixel area corresponding to a desired depth in a two-dimensional image imaged by a plurality of pixels when acquiring information on an object being observed inside a scatterer using backscattered light.
後方散乱光を利用して散乱体内部の観察対象の情報を取得する際に複数の画素で撮像される２次元画像において所望の深度に対応する適切な画素領域を選択可能にする。 - 特許庁 - The OTDR measuring instrument 19 measures a loss occurrence point distance from one end of the inspecting optical fiber 11 to an immersion detection module 15 having caused loss in the inspection light ray L1 with backscattered light of the inspection light ray L1.
ＯＴＤＲ測定器１９は、検査光Ｌ１の後方散乱光で検査用光ファイバ１１の一端から検査光Ｌ１に損失を発生させた浸水検知モジュール１５までの損失発生点距離を測定する。 - 特許庁 - When optical pulses which are radiated from the optical- pulse generation part 110 are incident on an optical fiber 160 to be tested, backscattered light which corresponds to the optical pulses is incident on the optical-pulse generation part 110 from the optical fiber 160 to be tested.
光パルス発生部１１０から出射された光パルスが被試験光ファイバ１６０に入射されると、この光パルスに対応する後方散乱光が被試験光ファイバ１６０から光パルス発生部１１０に入射される。 - 特許庁 - An optical system is provided for illuminating and viewing a target 15 in which an illumination element 16 and a receiving element 13 are disposed behind a single optical window 14, and which obtains data essentially free of backscattered light and stray light.
ターゲット１５を照明および観測するための光学システムであって、照明エレメント１６と受信エレメント１３が単一の光ウィンドウ１４の後ろに配置され、本質的に後方散乱光と迷光のないデータを獲得する光学システム。 - 特許庁 - Visible light La emitted from a fiber FB2 and irradiated on the measurement object T is reflected and backscattered within the measurement object T, and a part of the visible light is collected by a condenser lens 460 and a collimator lens 452 and is received by a PD unit 41.
ファイバＦＢ２から出射して測定対象Ｔに照射された可視光Ｌａは、測定対象Ｔ内で反射、後方散乱され、その一部は、集光レンズ４６０とコリメートレンズ４５２で集められ、ＰＤユニット４１にて受光される。 - 特許庁 - To provide an electron beam system capable of displaying backscattered electron images at the same brightness and same contrast at all times if the atomic number differences are the same when illumination conditions including an accelerating voltage and an emission current are varied or when the specimens are observed with different instruments.
加速電圧と照射電流値の照射条件が変わる場合及び／又は異なる装置で試料を観察する場合においても、原子番号差が同じであれば常に同じ輝度とコントラストで反射電子像の表示が行えるようにする。 - 特許庁 - In a standard specimen having an average atomic number Z_0, a gain G_0 and an offset F_0 of an amplifier providing backscattered electron signal intensity A(Z_0, V_0, I_0) used as a reference when an acceleration voltage and an emission current are V_0 and I_0, respectively, are obtained in advance.
平均原子番号Ｚ_０を持つ標準試料において、加速電圧Ｖ_０，照射電流値Ｉ_０のときの基準となる反射電子信号強度Ａ（Ｚ_０，Ｖ_０，Ｉ_０）を与える増幅器の増幅率Ｇ_０とオフセットＦ_０を求めておく。 - 特許庁 - Measurement light L1 emitted from a fiber FB1 and irradiated on a measurement object is reflected and backscattered within the measurement object T, and a part of the measurement light is collected by a condenser lens 460 and a collimator lens 451 and enters the fiber FB1.
ファイバＦＢ１から出射して測定対象に照射された測定光Ｌ１は、測定対象Ｔ内で反射、後方散乱され、その一部が集光レンズ４６０、およびコリメートレンズ４５１で集められ、ファイバＦＢ１に入射する。 - 特許庁 - An iterative process is used to generate at least two data sets of transmitted and/or backscattered values for each sample, and the data sets for each sample are processed to determine at least one property of the sample.
反復過程が、それぞれのサンプルに対する透過及び／後方散乱した値の少なくとも２つのデータセットを生成するために用いられ、それぞれのサンプルに対するデータセットが、サンプルの少なくとも１つの性質を決定するために処理される。 - 特許庁 - Since a backscattered electron scattering coefficient of beryllium is smaller compared with that of soft iron or the like, the re-reflecting rate of the electron reflected from the charged beam irradiation surface of the wafer to the opposing surface becomes low, thereby preventing fogging exposure due to a fogging effect.
ベリリウムは軟鉄等に比べ反射電子散乱係数が小さいので、ウェハの荷電ビーム照射面から対向面に反射した電子が、ウェハ方向に再反射される率が低くなり、ｆｏｇｇｉｎｇ効果によるかぶり露光を防ぐ。 - 特許庁 - A controller 103 determines, through simulation, energy spectra of backscattered ions achieved by the Rutherford back scattering spectroscopy under the same condition as the measurement for the sample 111 for a virtual thin film formed of well-known composition.
制御装置１０３は、既知の組成からなる仮想薄膜について、試料１１１についての測定の際の条件と同じ条件下でラザフォード後方散乱分光分析法によって得られる後方散乱イオンのエネルギスペクトルをシミュレーションによって決定する。 - 特許庁 - In this method of detecting damaged material, the diameters (d), density N, and positions of defects in the material are grasped by making an ultrasonic wave incident to the material through a liquid and analyzing the wavelet of the backscattered wave of the reflected ultrasonic wave from the material.
材料に超音波を液体を介して入射し、材料から反射する超音波の後方散乱波をウェーブレット解析することにより材料中の欠陥直径ｄと欠陥密度Ｎおよび位置を把握することを特徴とする材料損傷検出方法。 - 特許庁 - To provide a material for a lithographic substrate which prevents halation efficiently and carries out an accurate electron beam exposure for very fine details by preventing backscattered electrons radiation out of the substrate upon high-energy electron beam irradiation in electron beam lithography.
電子線リソグラフィにおいて、高エネルギーの電子線を照射したときに、後方散乱電子が基板から発生するのを防ぎ、効率のよいハレーション防止を達成させることができ、より微細な図形を正確に電子線露光することのできるリソグラフィ用基板材料を提供する。 - 特許庁 - The position detecting device comprises an irradiating device 7 for irradiating ions B1 to the region where at least a mark is formed on the object W, a detector 8 for detecting energy information of a backscattered ions B2 generated by the irradiation of the ions B1, and a computing unit 9 for computing the positional information of the mark on the basis of the energy information detected.
物体Ｗ上の少なくともマークが形成された領域に向けてイオンＢ１を照射する照射器７と、イオンＢ１の照射で発生した後方散乱イオンＢ２のエネルギ情報を検出する検出器８と、検出したエネルギ情報に基づいてマークの位置情報を演算する演算器９とを備える。 - 特許庁 - The wavelength of the test light outputted from the light source 120 is swept over a predetermined wavelength range under control of a control part 126 and the backscattered beams are detected and totalized during the period of the wavelength sweeping by the analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.
制御部１２６による制御の下に、波長可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定の波長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５においては、この波長掃引の期間において後方散乱光が検出されて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁 - An ultrasonic wave is transmitted into the structure of a subject, and for at least one sample volume position 150 within an image plane 121 of the structure, a set of received beams 151 to 155 are formed in response to the ultrasonic wave backscattered from the structure, with the set of received beams crossing one another at the sample volume position 150.
被検体の構造内へ超音波を送出し、該構造の画像平面（１２１）内の少なくとも１つのサンプル・ボリューム位置（１５０）について、該構造から後方散乱された超音波に応答して一組の受信ビーム（１５１〜１５５）を形成し、該一組の受信ビームがサンプル・ボリューム位置（１５０）で交差するようにする。 - 特許庁 - An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.
試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A system includes at least one gamma-ray source positioned in proximity to the vessel, at least one gamma-ray detector positioned in proximity to the vessel, wherein the at least one gamma-ray detector is configured to detect gamma rays backscattered by the fluid from the at least one gamma-ray source, and a translator for converting the detected gamma-ray backscatter to a density value.
容器のすぐ近くに配置される少なくとも１つのガンマ線源と、容器のすぐ近くに配置され、少なくとも１つのガンマ線源からの流体により後方散乱されるガンマ線を検出するよう構成される少なくとも１つのガンマ線検出器と、検出されたガンマ線後方散乱を密度値に変換する変換器と、を含む。 - 特許庁 - The apparatus includes a support on which an array of sample tubes is assembled; a wave source and at least one wave detector for generating data sets of transmitted and/or backscattered values for each sample; and a computer means for iteratively operating the wave source and processing the data sets for each sample to determine at least one property of the sample.
装置は、サンプルチューブのアレイがその上で組み立てられるサポートと、波ソース及びそれぞれのサンプルに対する透過及び／又は後方散乱した値のデータセットを生成する少なくとも１つの波検出器と、波ソースを反復して操作して、それぞれのサンプルに対するデータセットを処理してサンプルの少なくとも１つの性質を決定するコンピュータ手段とを備える。 - 特許庁 - A control part 110 measures a longitudinal loss distribution of the optical transmission line 901 based on the reception result of the backscattered light by the back scattered light receiver 131, and based on this measurement result, the power or wavelength of exciting light for the Raman amplifier to be supplied to the optical transmission line from an pumping source 171 via the optical coupler 181.
制御部１１０において、後方散乱光受信器１３１による後方散乱光の受信結果に基づいて光伝送路９０１の長手方向の損失分布が測定され、この測定結果に基づいて励起光源１７１から光カプラ１８１を経て光伝送路９０１へ供給されるラマン増幅用励起光のパワーまたは波長が制御される。 - 特許庁
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